Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

FMI_-_shpory

.pdf
Скачиваний:
5
Добавлен:
01.03.2016
Размер:
1.72 Mб
Скачать

21

Сопоставление возможностей оже-электронной спектроскопии и метода электронного микрозорнда.

Методы исследуют разные эффекты, которые имеют одинаковый источник. Под действием электронного облучения или рентген излучения высокой Э формируется электрон вакансия на внеш оболочке, поэтому система должна релаксировать. 2 способа релаксации:

1) Переход из верхней оболочки на нижнюю: исслед-ся разница по Э. Выделяется квант в обл рентген диапазона – эл. микрозонд.

Эффективность этого процесса (1): В области малых зарядовых чисел – выход малый.

2) Оже-переход: с верхней оболочки на нижнюю сопровождается выбросом электрона со строго фиксированной энергией. Эффективна для более легких атомов (2)

Оже – сугубо поверхностный метод Эл. микрозонд – глубина 1 микрон.

Оже – колич анализ только относительный Эл. микрозонд – формально абсолютный анализ ( предполагается, что образец гомогенный).

ЭМ: Энергия рентгеновского перехода является характеристической и меняется по закону, близкому к параболическому, по мере изменения зарядового числа. Соответственно, если мы определяем экспериментальное значение энергии из спектра, то опираясь на таблицы рентгеновских спектров, можем установить, какой элемент генерирует рентгеновское излучение.

ОЖЕ: Поскольку энергия Оже-электронов является характеристической, то изучение энергетического спектра этих электронов дает информацию об элементном составе исследуемого образца.

Правила отбора:

ЭМ - Правило отбора: разреш перех с подоболочек с l = ±1 (орбит квант число). Правила отбора для Оже-переходов не существует, но вероятность их, а соответственно, интенсивность, существенно отличается.

Вероятность реализации Оже-переходов максимальна в случае лёгких элементов и снижается с ростом зарядового числа.

Хим сдвиги:

ЭМ - Данные методы используются для определения элементного состава, поскольку величины энергий рентгеновских квантов химическим сдвигам практически не подвержены. В зависимости от электроотрицательности окружения атомов исследуемых элементов их энергетические уровни сдвигаются синхронно и разность по энергии остается неизменной.

Энергии Оже-переходов подвержены небольшим химическим сдвигам, поскольку в отличие от рентгеновских переходов, одна из оболочек оказывается задействованной в формировании перехода дважды и общий сдвиг уровней основных атомов при изменении электроотрицательности окружения начинает проявляться в значениях энергии Оже-перехода. Величина этого химического сдвига мала и имеет лишь ограниченное аналитическое значение.

22

10.Спектроскопия нарушенного полного внутреннего отражения.

В основе:если призма с высоким коэф. преломления контактирует со средой с меньшим коэф. преломления, то под градусом θ,удовлетв. условию Sinθ = n/np,где np – коэф. преломления призмы,происходит проникновение луча в среду с меньшим

коэф.

Если оптическая среда полностью прозрачна, то коэф.отражения 100% Если вторична среда поглащает на λ

падающего света, то коэф.отражения подчиняется следующему закону:R=R0exp(- αtэфф.), α – коэф.оптического поглощения

для исслед.среды, tэфф- глубина проникновения в исследуемую среду.

Полное внутреннее отражение нарушается в рез-те поглащения падающего света в исслед.среде. Спектрометры НПВО представляют собой рез-т модификаций обычных спектрометровприставки,вставленное в кюветоное отделение.

Глубина проникновения света-мала. Эффективность поглощения – невелика. Обычно ориентируются на

оптические схемы с многократным отражением. Призма из Si, Ge, AgCl, KPS-5, а именно TlBr

Спектры НВПО и спектры поглощения несколько отличаются между собой как по положению пиков поглащения,так и по интенсивности .

Т.к. tэфф~λ,то контрастность спектра увеличивается при переходе к длинным волнам. Поэтому табличные данные

о спектрах ИК-поглощения могут привлекать только в качестве ориентираю Преимущества:

1.Отстутсвие интерфернц. эффектов при исследовании тонких пленок. Простота подготовки образца. Метод исследует образцы, которые нельзя изучить ИКспектроскопией. 2. Методом НВПО можно исследовать и традиционные образцы,нанеся их виде суспензии в вазелином масле. Чем меньше частицы, тем больше площадь контакта,темтем больше интенсивности линии. 3.Метод может изучать тонкие пленки в т.ч. на оптических поглащающих подложках.

Недостатки:

1.Относительно низкая чувствительность, т.к. tэфф =доли милиметра даже если использовать оптические схемы со стократным отражением =>нельзя изучать слабопоглащающие образцы. 2.Небольшая база данных табличных частот.

Примеры применения метода:

1.Получение спектров в случае тонкослойной хроматографии. 2.Определение коэффициентов диффузии и водопоглащающих способоностей волокон и тканей. 3.Исследование всасывания в кожный покров лекарственных соед. и химических соединений. 4.Определение свойства взвешенных частиц в сигаретном дыму.

Оптическая схема может быть распространена на все виды излучения.

23

Метод ядерных реакций. Активация и мгновенный радиационный метод хим анализа.

Метод ЯР– физ метод исслед-я, используемый для получ-я данных о распред-нии элементов по глубине в тв телах и тонких пленках. 2 метода: (1)Мгновеннорадиационный – при облуч образца возник ЯР, за ходом кот следят по излуч-ю элементарх частиц из образца. (2)Активационный – образец облучают, обрабат-ют стабильные изотопы и следят за их распадом по излучению элементарных частиц.

(1)Если налетающие ионы имеют большую энергию, чтобы преодолеть кулоновский

барьер для ядер E z1z2e2 , то образуется составное ядро(СЯ), к-рое затем может пере-

R

терпевать явление спонтанного распада. временем жизни 10-12 с. Дальнейшая судьба СЯ может быть связана с испусканием как γ-излучения, так и элементарных частиц (α-частицы, протоны).

 

 

Выход реакции

P+12C→13N*→γ+13N Запись ЯР: 12 C p,α 9B

 

 

→n+12N

 

 

→d+11C

 

 

→α+9B

элементарн

Ep

За ходом р-ции м следить регистрируя

Eрез

 

 

частицы, но удобнее следить за γ-излуч-ем, кот сопровождает каждый из указанных процессов. (не записывается). Это γ-излуч-е харся определ Э. γ-кванты выходят из образца практич без поглощ-я.

Особ-ти ЯР:

Их интенс-ть сильно зав-т от Э зондир-го пучка, причиной чего явл-ся явление резонанса. Выбирая Э зондир-го пучка м индуцировать определ-ые аналитич ценные

ЯР. При этом наличие кулон-го барьера , Э кот резко ↑ с ↑ Z ядра, не позволяет

тяж ядрам взаимод-ть с зондируемыми частицами умерен Э. Это позволяет опред-ть ядра легких элем в тяж матрицах (напр, опред-ть кол-тво Н2, сорбир-ого на Pt).

Сами методы, основанные на возбуждении ядерных реакций за счёт облучения ионными пучками при одновременной регистрации эмитированного излучения, в первую очередь γ-излучения, которое выходит без существенного поглощения из всего объёма образца, получили название мгновенно радиационных методов (МРМ).

методы позволяют определить абсолютную концентрацию лёгких элементов, т.е. не требуют использования

эталонов, калибровок и т.д. В отлич от метода RBS, ориентир-го на опред-е более тяж элем, методы ЯР направлены на определ легких ядер. Наличие резонанс-х явл-ий дает возмть изучать распредел-е примесей по глубине. Т.к., интенс-ть ЯР при Э резонанса много ↑, чем за его пределами, то облучая образец частицами с E Eрезонанс., мы будем наблюдать поток γ-квантов с интенс-тью, пропорциональной содерж-ю элем на

такой глубине, на кот Eзонд. снизится до Eрезонанс.

На глубине t энергия частицы

достигнет Ерез.

24

. Шкала Э м.б. пересчит в шкалу глубины: зав-ть γ-квантов от Э

фотонов→завис-ть концентр элемента от глубины. Величразрешения – 2-5 нм. Мах чувств-ть для B – 11B(p,α)8Be–10-16г.

Ряд элементов (Li, Be, B, Na) м.б. определены путем облуч-я нейтронами. (B, Na – также протонами). Эти элементы испускают мощные альфа-частицы (Li, B) или протоны (Be, Na), кот, выходя из образца теряют Э. Потери зав-т от глубины, на кот протекала ЯР, т.е. наход-сь примесь.

2+; Особенность: дает абсолютные знач-я

концентраций.

(2)М-д активац анализа, основанный на изучении характеристического излучения после накопления некоторого количества нестабильного изотопа в образце. явл-я

 

сверхчувствит неразруш-щим м-дом колич

Е

и качеств анализа.

AZ X

рAZ--11 X

γ1

β

AZ -1 X

 

γ2

 

 

 

γ3

акт.

ост.

 

 

ядро более или

 

 

ядро

ядро

менее

 

 

стабильного

 

 

Отсутствие ограничения по зарядовому числу, типичного для МРМ, состоит в том, что источником элементарных частиц, запускающих ядерную реакцию, являются нейтроны, генерируемые в ядерном реакторе. В результате взаимодействия с нейтронами образуется составное ядро.

На каждой стадии избыточная энергия будет испускаться в виде γ-излучения, которое может использоваться для того, чтобы следить за ходом ядерной реакции. В отличие от корпускулярного излучения, оно имеет характеристическую энергию, и путем исследования спектра γ-излучения можно проводить качественный анализ образца.

 

 

 

 

 

Т.е. 50%т возможного кол-ва достигается уже после одно-

 

 

 

 

 

го периода полурасп. 94% - после 4-х. Т.о. время облуче-

 

 

 

 

 

ния образца при активировании не > 4 величин T1/2 нараба-

 

 

 

 

 

тываемого изотопа. Дальнейшее облучение – нет суще-

 

 

 

 

 

ственного изм-я концентр изотопа, только есть накопление

 

 

 

 

 

радиацион повреждений в образце.

 

 

 

 

 

Образцы сложного сост: Нарабатыв-ся неск разн изотопов.

 

 

 

 

 

Регистрируют спектр γ-излучения и повторяют измер-я в

течение некот времени. Следят уменьш-ем вклада в

спектр короткожив-го изотопа. Спектры либо кинетич

0,55

 

 

2,75

кривые позволяют разделить вклад неск-х изотопов в

0,77

 

 

 

1,37

 

спектре. Вид спектра для NaBr:

 

 

 

 

 

 

Br

Формально метод явл-ся неразрушающ. Но при ↑ дозо-

 

 

 

 

 

 

 

вых нагрузках (т.е. энергии зондирующего пучка) идет

 

 

 

 

деструкция образца.

 

 

 

 

 

 

 

Na

Метод ЯР применяют: Для определения примесей;

 

 

 

 

 

Определение микроэлементов; В судебно-медицинских.

25

11.Концепция групповых колебаний.

ИК: В основе метода лежит длинноволновое поглощение, связанное с возбуждением колебаний атомов, входящих в состав молекул. Указанные колебания возникают по причине наличия упругих связей в молекуле.

Три типа колебательных движений:

-сжатие связей; -растяжение связей; -изменение валентного угла

 

Первый и второй типы представляют собой

 

валентные

колебания,

характеризующимся

 

большим изменением энергии и обозначаются .

(OH)

(OH) (δ) - деформационными .

 

Измерение, выполненное для различных соединений, в состав которых входит гидроксильная группа, показало, что указанные частоты лишь незначительно зависят от массы соседних атомов.

MeO

 

H

i-PrO

 

H

PhO

 

H

HO

 

 

H

 

 

 

 

3644

 

3628

 

3612

 

3652

(cm-1)

Это обстоятельство послужило основой для концепции групповых колебаний, лежащих в основе интерпретации спектров органических соединений. В основе данной концепции лежит представление о том, что связанные между собой осциллирующие элементы, колеблющиеся при разных частотах, можно считать независимыми. Если атомы имеют близкие массы и связаны между собой связями сопоставимой длины, то такие осцилляторы начинают взаимодействовать.

HCN, (CN) 2089 cm 1

HCN, (CN) (CH)

DCN, (CN) 1906 cm 1

Ограничения концепции групповых орбиталей:

1)взаимодействие осцилляторов: если атомы в колеблющихся группировках имеют близкие массы и связи внутри группировок и между группировкой и остальной молекулой имеют сопоставимую длину, то осцилляторы начинают взаимодействовать

ичастота колебаний молекулы перестает быть характеристической величиной.

2)эффекты сопряжения: карбонильные группы в кетонах проявляются в области 1700 – 1750 см-1, сопряжение (например, в амидах) приводит к сдвигу частоты колебания до 1650 см-1.

3)ещё более ярко проявляются эффекты внутри- и межмолекулярного взаимодействия, включая эффекты ассоциации. Наибольшее значение в этом случае играют наиболее высокоэнергетичные взаимодействия, к которым относится водородная связь.

26

Методы исследования распределения примесей по глубине

ме-

зонди-

регистриру-

Эле-

чувстви-

Ло-

анализ по

количе-

тод

руют

ют

мент-

тельность

каль-

глубине

ственный

 

 

 

ный

 

ный

 

анализ

 

 

 

диапа-

 

анализ

 

 

 

 

 

зон

 

 

 

 

SI

Ar+

I+

H-U

10 -5 мс

да

разру-

относи-

MS

 

 

 

 

 

шающий

тельный

RB

4Не+,

4Не+,

Ве-U

10-10-4 мс

нет

Нераз-

абсолют-

S

1Н+

1Н+рассеяни

 

 

 

руш.

ный

 

 

е

 

 

 

 

 

NR

е-

Hυ(рентгено

H,B,O,C

0,1мс

нет

Нераз-

абсолют-

A

пучок

вское)

 

 

руш.

ный

AE

е-

е( Оже)

Li-U

0,1мс

да

Разруш.

Относит.

S

пучок

 

 

 

 

 

 

SIMS- вторично-ионная масс-спектрометрия

RBSобратное резерфордовское рассеяние NRAметод ядерных реакций

AESОже электронная

Ещё один режим ВИМСрежим профилирования по глубине, который позволяет проследить за тем, как меняется состав образца от поверхности вовнутрь. Если в образце имеет сравнительно небольшое количество примеси, то можно следить за изменением концентрации примеси по глубине.

Скорость распыления под действием аргонового пучка составляет около 5 Å в секунду. Это позволяет составлять соответствующий профиль. При этом существуют факторы, влияющие на форму профиля распределения примеси по глубине.

Первый фактор – существенный локальный нагрев образца в местах прохождения ионов. Достигаемая

температура может быть оценена выражением

T

Sn

 

( r радиус трека).

CV r 2

 

 

 

 

 

Ещё более важным фактором является радиационно-индуцированное перемешивание, причем фронт

двигается впереди дна кратера травления. В результате профиль распределения принимает несколько

искаженный вид. Допустим, компонент А напылен на компонент В.

А В

Пунктиром показан результат зондирования при отсутствии индуцированного перемешивания, а

[A]сплошная линия – результат реального опыта.

Полуширину размытия R

Т.е. в зависимости от энергии ионов размытие может быть больше или меньше. Спектрометры: обычный, ВИ спектрометр (не может строить глубинные

профили).

R

ОРР позволяет: получать информацию о пространственном распределении примеси без разрушения образца.

МЯР: 1.МРМ позволяют простроить профиль распределения примеси лёгкого элемента по глубине образца. Если интенсивность протекания ядерной реакции в условиях резонанса достаточно велика и протеканием этой реакции за пределами резонансного пика можно пренебречь, то облучая образец ионами с энергией, большей, чем энергия резонанса, можно наблюдать поток элементарных частиц, величина которого будет пропорциональна концентрации примеси на такой глубине, на какой зондирующий ион, вызывающий ядерную реакцию, затормозится до энергии, равной энергии резонанса. Меняя энергию зондирующих ионов, можно определять содержание примеси на разной глубине

27

2.Метод активационного анализа (МАА) позволяет определить очень небольшие примеси элементов, в том числе и тяжелые примеси в относительно тяжелой матрице.

ОЖЕ: Этот метод также подходит для изучения профилей распределения примесей образца при его ионном травлении.Если мы будем травить поверхность образца и непрерывно измерять концентрацию элемента на дне кратера травления, то мы можем построить распределение примесей по глубине. Это распределение будет подвержено тем же искажениям, связанным с ионным травлением, что и в случае глубинного профилирования методом вторично-ионной массспектрометрии.

28

12. Спектроскопия обратного резерфордовского рассеяния.

В данном методе образец бомбардируют легкими высокоэнергетическими ионами Н+, Не+, которые теряют свою энергию преимущественно за счёт электронного торможения. Вклад в энергетические потери со стороны ядерного торможения связан в первую очередь с эффектами рассеяния налетающих ионов. Изучение энергетического спектра обратно рассеянных легких высокоэнергетических ионов и составляет основу метода обратного резерфордовского рассеяния. Поскольку энергия рассеянного иона зависит как от природы атома в образце, на котором произошло рассеяние, так и от того, на какой глубине произошло рассеяние, т.е. от пути, пройденного в твердом теле сначала налетающим, а затем – рассеянным ионом, то открывается возможность в неявном виде установить, как абсолютный элементный

 

 

 

 

состав образца, так и получить информацию об

 

 

4

 

изменении состава образца по глубине.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

1–ускоритель ионов, роль которого

выполняет

 

 

 

 

 

θ

 

 

 

либо электростатический генератор, либо в случае

 

 

 

 

 

 

 

3

2

 

 

 

 

 

 

высокой энергии циклотрон. Энергия ионов

 

 

 

 

 

 

 

 

велика и лежит в диапазоне 0,5 – 6

МэВ. Для

большинства опытов достаточно 2 – 2,5 МэВ. Пучок ионов 2 попадает на поверхность образца 3, рассеивается под углом θ и регистрируется барьерным детектором 4.

Нужно, чтобы потери энергии при рассеянии максимальны (чтобы было что мерить), поэтому стремятся, чтобы угол θ был близок к 180°. Вследствие конечных размеров детектора это невозможно и, как правило, θ = 160-170°.

Этот эксперимент позволяет получать информацию о составе и структурных характеристиках исследуемого материала. Информацию о составе получают из энергетических характеристик потоков обратно рассеянных частиц.

Первичные ионы теряют энергию по мере углубления в образец и рассеяния. Ионы, рассеянные на глубине, прежде чем выйти из образца и поступить в детектор, должны пройти обратный путь в материале образца, что вызывает дополнительные потери энергии. Общая разность энергий ионов, рассеянных на поверхности образца и на некоторой глубине зависит от эффективного сечения рассеяния ионов и атомной плотности вещества. Профиль распределения примеси по глубине получают, анализируя зависимость числа обратнорассеянных ионов от энергии рассеянных ионов. Само рассеяние и энергетические потери можно разделить на рассеяние на ядрах и торможение на эл. оболочках. E1 KE0 Nt , где ε-фактор

торможения(Значение его табулировано) , N-концентрация атомов. k - кинематический фактор, определяющий долю энергии, переданной ионом атомам

твердого тела(отношение энергий иона до и после рассеяния). Поскольку значения k для

каждого элемента периодической таблицы известны, можно определить химический состав поверхностного слоя образца путем измерения энергии обратнорассеянных ионов.

Уравнение связывает Е рассеивания ионов с глубиной и концентрацией атомов. Значение ε табулировано. Сам процесс рассеяния описывается уравнением

Резерфорда: Ƴ(t) =(

где Ƴ(t)- интенсивность рассеяния на глубине

29

t; z- атомный номер атома; Е(t)- энергия налетающего иона в момент перед столкновением; - число атомов образца в слое толщиной на глубине t; - число падающих ионов; -телесный угол детектора.

Из уравнения следует: 1. Выход рассеяния пропорционален атомному номеру атомов в квадрате. Чем тяжелее исследуемые атомы, тем ярче проявляется рассеяние. Y(t)=z22. 2.Выход рассеяния растет по мере проникновения ионов вглубь образца. Y(t)=1/E(t)2

Пример. Двухслойная система, в которой на подложку из более легкого элемента В нанесена

пленка элемента А.

 

 

Элемент А проявится в виде интенсивного пика (зарядовое

 

 

 

 

 

 

4He+

число выше, чем для В). Положение края этого спектра

 

 

 

B

A

 

 

 

 

 

 

 

 

соответствует

K A E0 . Ионы гелия, прошедшие через пленку,

 

 

 

 

 

 

 

начинают рассеиваться на В, однако в силу больших потерь энергии при прохождении через плёнку

 

 

 

 

 

 

 

 

 

А край спектра будет лежать в области более низких

Y

 

 

 

 

A

 

 

энергий.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ΔE2

ΔE1

 

 

ОРР - один из немногих методов

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

B

 

 

 

 

 

химического анализа, позволяющий получать

 

 

 

 

 

 

 

 

количественную

информацию

без

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

применения эталонов.

 

 

 

 

 

Ei

KBE0

KAE0

E

 

 

Метод имеет предельную чувствительность, которая сильно зависит от порядкового номера элемента. Чем тяжелее, тем большая чувствительность. Энергетическое разрешение современных детекторов составляет 15 кэВ, что соответствует разрешению по глубине ~ 30 нм для кремния и 10 нм для более тяжелых металлов. Чувствительность метода ограничивается неоднородностью ионного потока, разделением пиков спектра и током пучка. Чувствительность для фосфора крайне низка из-за близости пиков фосфора и кремния в спектре ОРР.

С помощью метода можно: 1. проводить качественный анализ по широкому кругу элементов. 2. определять абсолютные концентрации с субмонослойной чувствительностью в случае тяжелвх металлов. 3. получать информацию о пространственном распределении примеси без разрушения образца.

Отрицательные моменты: сложность, дороговизна, возможно смешение спектров, при высокой Е возможна ядерная реакция.

Основные факторы, определяющие структуру спектра ЭПР.

1. g-фактор. Величина g-фактора характеризует положение линий ЭПР в спектре и несёт информацию об источнике сигнала ЭПР, то есть о природе парамагнитного центра. В случае парамагнитных солей значение g-фактора отличается от спинового значения для свободного электрона вследствие спин-орбитального взаимодействия.

2. Тонкая структура. Магнитный момент электрона в атоме состоит из спинового и орбитального магнитного момента. Эл-н, имеющий собственный магнитный момент, находится в магнитном поле, порожденном его орбитальным движением, как заряженная частица.

Если у системы несколько неспаренных электронов, то спин-орбитальное взаимодействие приводит к расщеплению уровней и, соответственно, усложнению спектра ЭПР вследствие формирования у него тонкой структуры. При достаточно большой энергии спин-орбитального вз-я расщепление уровней парамагнитного атома возможно уже для нулевого уровня.

30

Пример: Сr3+ - имеет 3 неспаренных электрона, что соответствует 2*3*1/2 + 1 = 4

возможным значениям магнитного квантового

Ms=

числа:

E

Ms = -3/2; -1/2; +1/2; +3/2.

Ms=

 

Для зеймановских уровней

действует правило

+/-

отбора

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Ms=-

 

 

 

 

+/-

Которое

ограничивает

число

возможных

 

переходов:

 

 

 

Ms=-

(-3/2 -1/2)

 

 

 

 

(-1/2 --1/2) (1/2-- 3/2)

Данный пример показывает расщепление уровней в нулевом поле. Спектр ЭПР, регистрируемый в этих условиях, свидетельствует о наличии в

системе из 4 уровней 3 переходов. Каждый переход в спектре ЭПР имеет своё значение g-фактора, которые табулированы и исп.для определения парамагнитных ионов в образцах.

3.Сверхтонкая структура спектров ЭПР. Она обусловлена взаимодействием неспаренного электрона с магнитными ядрами, входящими в состав образца. Магнитное ядро, например 1Н, создаёт локальное магнитное поле, которое в зависимости от относительной ориентации ядерного спина и внешнего поля, может увеличивать или уменьшать магнитное поле, действующее на электрон.

Рассмотрим частицу H*. В этом случае вместо одного наблюдается 2 перехода, каждый из которых соответствует переориентации электронного спина при поглощении электромагнитного излучения определенной частоты.

Относительная интенсивность линий, формирующих тонкую структуру в спектре ЭПР, подчиняется биноминальному распределению (1+x)n-1, либо треугольнику Паскаля.

Общее число линий сверхтонкой структуры при взаимодействии неспаренного электрона с n эквивалентными ядрами, характеризующимися ядерным спиновым числом I, будет

определяться выражением:

 

n = 2NI + 1

 

Несколько групп неэквивалентных магнитных ядер порождает

 

следующее кол-во линий в ЭПР спектре:

К

 

В этом случае порядок следования линий в сверхтонкой структуре

 

определяется комбинаторными моментами и значениями констант

 

сверхтонкого взаимодействия (Кств определяет эффективность

 

спин-орбитального взаимодействия).

 

 

6

 

Пример:

 

 

 

 

 

 

O

 

O

 

4

4

 

 

 

 

 

 

 

 

 

+e

H

H

1

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

-e

 

 

 

 

 

 

 

 

H

H

 

 

 

 

O

 

O

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]