Скачиваний:
23
Добавлен:
15.09.2014
Размер:
55.3 Кб
Скачать

Министерство образования Республики Беларусь

Белорусский Государственный Университет Информатики и Радиоэлектроники

Кафедра метрологии и стандартизации

Лабораторная работа T2А

«Оптические средства измерения»

Выполнила

Проверил

с.группы 910702

Доцент каф.МиС

Капшай М.С.

Архипенко А.Г.

Минск 2001

  1. Цель работы

    1. изучить оптические методы и средства измерения линейных и угловых размеров и параметров шероховатости поверхностей

    2. изучить принцип работы, методику подготовки к измерениям и методику выполнения измерений с помощью инструментального и растрового микроскопов

    3. приобрести практические навыки измерений с помощью микроскопа и параметров шероховатости поверхностей с помощью растрового микроскопа

  1. Лабораторное задание

    1. измерить с помощью ММИ-2 косвенным методом сопротивление резисторов микросхемы и оценить погрешность измерений

    2. измерить с помощью ММИ-2 угловые размеры деталей и оценить погрешности измерений

    3. измерить с помощью ОРИМ-1 параметр Rmax и оценить параметр R2 шероховатости поверхности металлических деталей

    4. измерить с помощью ОРИМ-1 толщину непрозрачных пленок

  1. Таблица инструментов

Наименов.прибора

Тип

Заводской номер

Основные метрологические характеристики

Инструментальный микроскоп

ММИ-2

796568

  1. пределы измерения линейных размеров: в продольном направлении не менее 0-75 мм, в поперечном направлении не менее 0-25мм

  2. пределы измерения микрометрическими винтами 0-25мм

  3. пределы измерения плоских углов 0-360

  4. пределы поворота стола 05

  5. увеличение визирного микроскопа 10х,30х, 50х

  6. увеличение объективов 1х, 3х, 5х

  7. поле зрения визирного микроскопы в зависимости от увеличения 21, 7, 4.2

  8. цена деления: шкал барабанов метрических винтов 0,005

Растровый микроскоп

ОРИМ-1

  1. диапазон измерения микронеровностей 0.4-40мкм

  2. пределы поворота столика 25

  3. пределы вертикального перемещения предметного столика с помощью механизма микрометрической фокусировки 1мм

  4. цена деления шкалы механизма микрометрической фокусировки 0.003 мм

4.Оновные расчетные формулы

Ri=o*ko; Ki=L/b

o=500 Ом/мм2

  1. Результаты расчетов и экспериментов

Таблица 1

№ резистора

№ наблюдателя

l, мм

b,мм

K

Значение по

Отсчет 1

Отсчет2

Результат

L ср

l, мм

Отсчет1

Отсчет2

Результат

b ср

b

R24

1

8.1725

7.3575

0.815

0.814

0.455

0.2575

0.198

0.198

2

8.2225

7.4150

0.813

1.270

1.4675

0.196

3

7.4150

8.23

0.815

1.271

1.4677

0.198

R4

1

6.395

4.1225

2.27

2.606

3.33

3.4925

0.123

0.110

2

6.3175

9.09

2.773

2.375

2.36

0.108

3

9.0875

6.3125

2.775

2.2575

2.36

0.103

R2

1

6.985

4.97

3.06

3.024

0.1925

0.1

0.093

0.097

2

9.0575

6.05

3.008

3.125

5.0325

0.092

3

9.06

6.0.55

3.005

5.015

6.12

0.105

Таблица 2

Вариант

№ детали

№ измерения

Отсчет1

Отсчет2

Результат

Значение угла по

2

5

1

2785

32710

495

2

278

32640

4840

3

27730

32645

4915

Вывод: В ходе лабораторной работы провели измерения линейных и угловых размеров в отраженном свете. Из проведенных измерений видно, что чем больше раз снимаются измерения, чем точнее измерения, так же чем больше увеличение, чем точнее можно установить визирные линии для измерения.

Соседние файлы в папке МИИ