Добавил:
I want to die Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
3 сем / лр_3.docx
Скачиваний:
24
Добавлен:
04.04.2022
Размер:
149.85 Кб
Скачать

МИНОБРНАУКИ РОССИИ

Санкт-Петербургский государственный

электротехнический университет

«ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)

Кафедра МНЭ

отчет

по лабораторной работе №3

по дисциплине «МЭТ»

Тема:

ИССЛЕДОВАНИЕ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТЕРИАЛОВ

Студентка гр. 0207

Бурчик Н.Е.

Лиоско Е.П.

Преподаватель

Пермяков Н. В.

Санкт-Петербург

2021

Цели работы: исследование спектральных зависимостей фотопроводимости полупроводников СdS и СdSе и зависимостей фотопроводимости от уровня оптического облучения.

Описание исследуемых материалов:

Для возникновения ФРЭ полупроводник необходимо облучать потоком фотонов с энергиями, достаточными для ионизации собственных или примесных атомов. При этом происходит увеличение концентрации свободных носителей заряда и возрастает удельная проводимость полупроводника. Добавочную проводимость, возникающую при фотоактивном поглощении, называют фотопроводимостью γф. Фотопроводимость равна разности проводимостей полупроводника на свету γс и в темноте γт: Важнейшим свойством ФРЭ является зависимость фотопроводимости от энергии (длины волны) падающего фотона, описываемой спектральной характеристикой. Для возбуждения собственной фотопроводимости энергия фотонов должна превышать пороговое значение, определяемое шириной запрещенной зоны полупроводника: где h = 4,1410–15 эВс– постоянная Планка; c = 3108 м/с – скорость света; Э – ширина запрещенной зоны.

Пороговое значение длины волны λпор, соответствующее Э, называют красной границей фотоэффекта.

Приборы и принадлежности:

В настоящей работе на установке, схема которой представлена на рис. 3.1, исследуются фотоэлектрические свойства полупроводниковых материалов, которые широко используются для производства промышленных фоторезисторов – сульфида кадмия (CdS) и селенида кадмия (CdSe), обладающих высокой чувствительностью к излучению видимого диапазона спектра. Основной частью установки для исследования фотоэлектрических свойств полупроводников является монохроматор (см. рис. 3.1). Световой поток от лампы E, питаемой от источника G, через входную щель монохроматора F1, ширина которой регулируется микрометрическим винтом, поступает на диспергирующее устройство.

Рисунок 1 - Схема для исследования фотоэлектрических свойств полупроводников

Протокол наблюдений к лабораторной работе №3

1. Исследование спектральной зависимости фотопроводимости.

Образец CdS:

Деление барабана

λ, мкм

Эλ, у.е.

Rc, МОм

600

0,476

0,141

700

0,477

0,143

800

0,478

0,145

900

0,479

0,147

1000

0,480

0,150

1100

0,481

0,153

1200

0,482

0,157

1300

0,484

0,163

1400

0,487

0,172

1500

0,490

0,182

1600

0,494

0,195

1700

0,499

0,210

1800

0,505

0,228

1900

0,512

0,248

2000

0,520

0,270

2100

0,528

0,295

2200

0,536

0,323

2300

0,545

0,353

2400

0,555

0,385

2500

0,566

0,420

2600

0,579

0,460

2700

0,594

0,505

2800

0,611

0,560

2900

0,629

0,630

3000

0,649

0,710

3100

0,672

0,830

3200

0,697

0,990

3300

0,725

1,170

3400

0,758

1,370

3500

0,800

1,600

Образец CdSe:

Деление барабана

λ, мкм

Эλ, у.е.

Rc, МОм

600

0,476

0,141

700

0,477

0,143

800

0,478

0,145

900

0,479

0,147

1000

0,480

0,150

1100

0,481

0,153

1200

0,482

0,157

1300

0,484

0,163

1400

0,487

0,172

1500

0,490

0,182

1600

0,494

0,195

1700

0,499

0,210

1800

0,505

0,228

1900

0,512

0,248

2000

0,520

0,270

2100

0,528

0,295

2200

0,536

0,323

2300

0,545

0,353

2400

0,555

0,385

2500

0,566

0,420

2600

0,579

0,460

2700

0,594

0,505

2800

0,611

0,560

2900

0,629

0,630

3000

0,649

0,710

3100

0,672

0,830

3200

0,697

0,990

3300

0,725

1,170

3400

0,758

1,370

3500

0,800

1,600

Соседние файлы в папке 3 сем