Метрология ЛР / метрология лр 3
.docxМИНОБРНАУКИ РОССИИ
Санкт-Петербургский государственный
электротехнический университет
«ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)
Кафедра информационно-измерительных систем и технологий
отчет
по лабораторной работе № 3
по дисциплине «Метрология»
Тема: цифровые измерительные приборы
Студент гр. |
|
|
Преподаватель |
|
Комаров Б. Г. |
Санкт-Петербург
2020
Цель работы
Изучение методов экспериментального определения метрологических характеристик цифровых приборов, а также их применения для измерения физических величин и оценка погрешностей результатов измерений.
Задание
1. Ознакомиться с инструкцией по применению исследуемого ЦИП.
2. Определить шаг квантования (квант) исследуемого ЦИП в режиме омметра для различных пределов измерения.
3. Экспериментально определить следующие метрологические характеристики ЦИП в режиме омметра:
статическую характеристику преобразования; построить график зависимости показания Rп прибора от значений R измеряемых сопротивлений;
погрешности квантования для начального участка статической характеристики преобразования; построить график погрешности квантования;
инструментальную погрешность по всему диапазону измерений для выбранного предела измерений; построить график инструментальной погрешности, определить аддитивную и мультипликативные составляющие инструментальной погрешности.
4. Измерить сопротивление ряда резисторов и оценить основную погрешность результатов измерения.
Спецификация применяемых средств измерений
Спецификация применяемых в опытах средств измерений приведена в таблице 1.
Таблица 1 |
||||
Средства измерений, измеряемая величина |
Диапазоны измерений, постоянные СИ |
Характеристики точности СИ, классы точности |
Рабочий диапазон частот |
Параметры входа |
Вольтметр универсальный цифровой GDM – 8135, сопротивление |
200 Ом–2000 кОм 20 МОм |
0.002 Rизм +1 ед. мл. разряда 0.005 Rизм +1 ед. мл. разряда |
– |
IR < 1 мА IR < 0,1 мкА |
Продолжение таблицы 1 |
||||
Средства измерений, измеряемая величина |
Диапазоны измерений, постоянные СИ |
Характеристики точности СИ, классы точности |
Рабочий диапазон частот |
Параметры входа |
Магазин сопротивлений МСР-60М |
0,01…9999,99 Ом |
0,02 |
– |
– |
Обработка результатов
1. Определение статической характеристики преобразования ЦИП
Значение единицы младшего разряда q = 1 Ом; значение единицы младшего разряда магазина qм = 0,01 Ом. Результаты первого эксперимента сведены в таблицу 1.
Таблица 2 |
||
Номер измерения |
Rп, кОм |
R, кОм |
1 |
0,001 |
0,0013 |
2 |
0,002 |
0,0022 |
3 |
0,003 |
0,0032 |
4 |
0,004 |
0,0043 |
5 |
0,005 |
0,0053 |
6 |
0,006 |
0,0063 |
7 |
0,007 |
0,0073 |
8 |
0,008 |
0,0083 |
9 |
0,009 |
0,0093 |
10 |
0,010 |
0,0103 |
По полученным данным построен начальный участок графика зависимости статической характеристики ЦИП в режиме омметра и график абсолютной основной погрешности , где (рисунок 1).
Рисунок 1 – Статическая характеристика преобразования
2. Абсолютная инструментальная погрешность
Результаты измерений при q = 0,001 кОм и расчетов занесены в таблицу 3. Абсолютная инструментальная погрешность была рассчитана по формуле:
пример расчета для 5 измерения:
Таблица 3 |
|||
Номер измерения |
, кОм |
, кОм |
, кОм |
1 |
0,195 |
0,194 |
-0,0015 |
2 |
0,405 |
0,404 |
-0,0015 |
3 |
0,590 |
0,589 |
-0,0015 |
4 |
0,810 |
0,808 |
-0,0025 |
5 |
0,995 |
0,993 |
-0,0025 |
6 |
1,205 |
1,203 |
-0,0025 |
7 |
1,405 |
1,402 |
-0,0035 |
8 |
1,595 |
1,592 |
-0,0035 |
9 |
1,800 |
1,797 |
-0,0035 |
10 |
2,000 |
1,996 |
-0,0045 |
3. Определение аддитивной и мультипликативной составляющих погрешности
Погрешность можно рассмотреть в виде модели , где аддитивная составляющая, мультипликативная составляющая. По построенному на рисунке 3 в графику зависимости можно определить коэффициенты как = - 0,0009 (кОм) и = - 0,0016.
Рисунок 3 – график зависимости
4. Измерение сопротивлений
Номинальные значения сопротивлений . Результаты измерения сведены в таблицу 4.
Таблица 4 |
||||||
Номер резистора |
Диапазон измерения |
Значение кванта для диапазона измерения, кОм |
Показания ЦИП , кОм |
Абсолютная погрешность измерения , кОм |
Относительная погрешность измерения, % |
Результат измерения , кОм |
|
2000 кОм |
1 |
1061 |
3,1220 |
0,31 |
1100 ± 3 |
20 МОм |
10 |
1050 |
15,2500 |
1,53 |
1100 ± 15 |
|
|
20 кОм |
0,01 |
9,92 |
0,0298 |
0,30 |
10,00 ± 0,03 |
200 кОм |
0,1 |
10 |
0,1200 |
1,20 |
10,00 ± 0,12 |
|
2000 кОм |
1 |
9 |
1,0180 |
10,18 |
10 ± 1 |
Выводы
В ходе лабораторной работы было изучено применение вольтметра универсального цифрового GDM-8135 в режиме омметра. На основе экспериментальных данных была определена статическая характеристика преобразования ЦИП, отличающаяся от статической характеристики преобразования идеального ЦИП ввиду наличия инструментальных погрешностей ЦИП. По результатам первого опыта и построенному графику видно, что у исследуемого прибора имеется абсолютная основная погрешность около 0,002-0,003 кОм. Также был построен график абсолютной основной погрешности .
По результатам второго опыта была рассчитана абсолютная инструментальная погрешность прибора. На основе результатов в таблице 2 можно сделать вывод о росте погрешности с увеличением значения задаваемого сопротивления.
По построенному графику зависимости были определены аддитивная и мультипликативная составляющие погрешности.
В ходе последнего опыта были измерены сопротивления резисторов. На основе данных в таблице 4 можно заключить, что при увеличении диапазона измерения одного и того же заданного сопротивления показания становятся менее точными. Наиболее оптимальным диапазоном является тот, который соответствует порядку измеряемой величины, при этом измеряемое значение не должно превышать заданный предел измерений.