Четвертый семестр (вечерка) / Лабораторные работы / 1. Лабораторная работа №3 / Лабораторная работа №3, первая. Дифракция лазерного излучения
.docxФедеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)»
Кафедра физики
ОТЧЕТ
по лабораторной работе № 3
«Дифракция лазерного излучения»
Выполнил : Попов Алексей Павлович
Группа № 8802
Преподаватель: Чурганова Серафима Сергеевна
Оценка лабораторного занятия |
||||
Вопросы |
Подготовка к лабораторной работе |
Отчет по лабораторной работе |
Коллоквиум |
Комплексная оценка |
|
|
|
|
|
Санкт-Петербург, 2020
ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА № 3
Дифракция лазерного излучения
Работа № 3. Дифракция лазерного излучения
Цель работы: исследования дифракционной картины, получаемой в результате дифракции света в параллельных лучах на одиночной щели, одномерной и двумерной дифракционных решетках.
Схема установки.
Устройство модульного учебного комплекса по волновой оптике (МУК - ВО)
Рис. 1
Экспериментальная установка представляет собой модульный учебный комплекс по волновой оптике (МУК - ВО). Установка состоит из механического и электронного блоков.
Механический блок 1 (рис 3.1) представляет собой основание 10, на ко-тором установлены и закреплены: электронный блок 11; стойка 8, служащая вертикальной оптической скамьей, и блок осветителей. На стойке смонтированы оптические узлы 4 - 11, которые имеют возможность поворачиваться и выводиться из поля зрения, если при выполнении эксперимента они не используются. При выполнении данной лабораторной работы используются следующие устройства:
турель 2, на которой смонтированы объекты исследования для работ по интерференции и дифракции. Каждый из объектов закреплен на вращающейся втулке, ось которой совпадает с серединой объекта. Втулка снабжена указателем, а основание – угломерной шкалой и пиктограммой объекта исследования;
защитный экран 3, который предназначен для защиты от отраженного от дифракционного элемента лазерного луча.
Электронный блок содержит кнопки управления, коммутации и индикации (11 – 24). В данной работе используются: кнопка включения электронного блока «Сеть» 22, кнопка включения лазера 17, окно фотоприемника лазерного излучения 24.
Основные расчетные формулы
1. Расчетная формула для определения ширины щели b для каждого порядка k:
,где L – расстояние от щели до экрана, λ – длина волны, xk – координаты минимумов на экране относительно его центра дифракции на щели
2. Расчетная формула для определения положения главных максимумов xn для каждого порядка n:
3. Расчетная формула для определения периода дифракционной решетки d:
4. Расчетная формула для определения эффективного периода дифракционной решетки:
d* = d cos θ,
где θ – угол поворота дифракционной решетки
5. Расчетная формула для определения периода двумерной дифракционной решетки d1, d2:
ПРОТОКОЛ НАБЛЮДЕНИЙ
Лабораторная работа №3
Дифракция лазерного излучения
1. Константы эксперимента L, λ.
L, см |
θL, см |
λ, нм |
θλ, нм |
150 |
2 |
650 |
5 |
2. Выборка значений ширины щели (θxk = 0.5 мм)
k |
3 |
2 |
1 |
-1 |
-2 |
-3 |
xk |
97,5 |
65 |
32,5 |
-32,5 |
-65 |
-97,5 |
b = kλL/xk |
1,5 |
1,5 |
1,5 |
1,5 |
1,5 |
1,5 |
|
0,052 |
0,052 |
0,052 |
0,052 |
0,052 |
0,052 |
3. Выборка значений постоянной решетки (θxm = 0.5 мм)
k |
3 |
2 |
1 |
-1 |
-2 |
-3 |
xm |
|
|
|
|
|
|
d = kλL/xm |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
4. Определение периодов двумерной дифракционной решетки.
k1 |
0 |
0 |
1 |
-1 |
|
xk1 |
0 |
0 |
|
|
|
d1=k1λL/xl1 |
- |
- |
|
|
d1= |
k2 |
1 |
-1 |
0 |
0 |
|
yk2 |
|
|
0 |
0 |
|
d2=k2λL/yk2 |
|
|
- |
- |
d2= |
Экспериментальный макет:
L – 370 мм, θL – 2 мм, λ – 650 нм, θλ - 5 нм.
Выполнил Попов А.П.
Факультет электроники
Группа № 8802
“____” __________ _____
Преподаватель: _________________
Обработка результатов эксперимента.
1. Расчет ширины щели b для максимума 1 порядка.
b = (1 * 650 * 10-9 * 150 * 10-2) / (32,5 * 10-3) = 1,5 * 10-6 м.
Ширина щели для максимумов других порядков рассчитывается аналогично. Результаты вычислений занесены в таблицу 1.
В связи с виртуальным выполнением лабораторной работы, допустить погрешности при измерении невозможно. Результат расчета с переносом погрешностей приборов:
b = 1.5 ± 0.1 мкм.
Ответы на контрольные вопросы.
1. Как определить координаты максимумов и минимумов при дифракции Фраунгофера от одной щели?
Ответ.
Координаты минимумов и максимумов на экране относительно его центра при дифракции на щели определяются соответственно:
2. Как определить интенсивность света при дифракции Фраунгофера на дифракционной решетке?
Ответ.
Если бы колебания, приходящие в точку наблюдения от различных щелей, были некогерентными, результирующая картина от N щелей отличалась бы от картины, создаваемой одной щелью, лишь тем, что все интенсивности возросли бы в N раз. Однако колебания от различных щелей являются в большей или меньшей степени когерентными; поэтому результирующая интенсивность будет отлична от NIφ. Будем считать, что радиус когерентности падающей волны намного превосходит длину решетки, так что колебания от всех щелей можно считать когерентными друг относительно друга. В этом случае результирующее колебание в точке наблюдения, положение которой определяется углом φ, представляет собой сумму N колебаний с одинаковой амплитудой Aφ, сдвинутых друг относительно друга по фазе на одну и ту же величину δ. Тогда по формуле интенсивности I при интерференции N рассматриваемых лучей (интенсивность пропорциональна квадрату амплитуды):
3. Как определяются положения главных максимумов (минимумов) для дифракционной решетки?
Ответ.
Координаты главных минимумов и максимумов соответствуют формулам:
4. Как связаны между собой период и эффективный период дифракционной решетки?
Ответ. Эффективный период d*
d* = d cos θ
5. Что представляет собой двумерная дифракционная решетка?
Ответ.
Двумерная решетка представляет собой скрещенные перпендикулярно друг другу решетки с периодами d1 и d2, причем часто d1 = d2.
6. При каких условиях наблюдаются главные максимумы на двумерной дифракционной решетке?
Ответ.
При достаточном количестве щелей N1 и N2.
7. Где нашли применение двумерные дифракционные решетки?
Ответ.
В первую очередь в исследовании свойств света. Доступное потребителю применение нашлось в спектрографии (CD диски)
8. Влияет ли количество щелей на дифракционную картину, наблюдаемую в данной лабораторной работе?
Ответ.
Изменение количества щелей значительно увеличивает интенсивность светового потока и число наблюдаемых максимумов.