Методы диагностики полупроводниковых структур

..pdf

Скачиваний:

Добавлен:

05.02.2023

Размер:

605.28 Кб

Скачать

☆

<<< < Предыдущая 1 23 / 33

14 Фишер Х. Конфокальная рамановская спектроскопия и атомно-силовая микроскопия для анализа гетерогенных материалов / Фишер Х., Шмит У., Диинг Ч. // Наноиндустрия – научно-технический журнал. Контроль и измерения. –

URL: https://www.nanoindustry.su/files/article_pdf/1/article_1815_699.pdf (дата обращения: 04.02.2022). − Режим доступа: свободный.

15 Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии: учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений. − Нижний Новгород: Изд-во ИФМ РАН, 2004. – 114 с.

<<< < Предыдущая 1 23 / 33

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]

#
05.02.2023476.52 Кб3Методология научных исследований..pdf
#
05.02.2023514.75 Кб3Методология подготовки и написания диссертации..pdf
#
05.02.202350.57 Mб37Методология системотехнического проектирования электронных и радиоэлектронных средств (в двух частях)..pdf
#
05.02.2023774.2 Кб3Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем..pdf
#
05.02.2023289.43 Кб2Методы диагностики в планарных технологиях..pdf
#
05.02.2023605.28 Кб9Методы диагностики полупроводниковых структур..pdf
#
05.02.2023612.19 Кб7Методы динамической голографии..pdf
#
05.02.2023614.09 Кб6Методы и алгоритмы моделирования процессов в РЭС..pdf
#
05.02.2023214.69 Кб3Методы и алгоритмы распознавания и обработки данных..pdf
#
05.02.2023225.77 Кб3Методы и алгоритмы распознавания и цифровой обработки данных..pdf
#
05.02.20232.57 Mб31Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем..pdf