Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Основы кристаллохимии и рентгеновской дифракции.pdf
Скачиваний:
31
Добавлен:
13.02.2015
Размер:
1.67 Mб
Скачать

Электронная плотность

Электронная плотность — плотность вероятности обнаружения электрона

вданной точке конфигурационного пространства. (Википедия). Естественно

вкристалле она распределена неравномерно.

Электронная плотность участка пептидной цепи

Задачу рентгеноструктурного анализа можно свести к выявлению распределения электронной плотности пользуясь данными о величине кристаллической ячейки и атомных факторах рассеяния.

От чего зависит интенсивность дифракционной картины в частично-упорядоченных системах?

В общем случае, от природы образца.

Наибольшая интенсивность наблюдается при исследовании неорганических веществ, содержащих тяжелые атомы с большим числом электронов.

Распределение интенсивности подчиняется закону:

 

 

sin(qrij )

Для аморфных полимеров оно часто имеет

N

N

вид кривой с одним-двумя максимумами

I (q) = ∑∑fi (q) f j (q)

 

 

qrij

 

i=1

j =1

 

fi (q) атомный фактор рассеяния для i-того атома (табулированная величина)

rиij j расстояние между атомами i N – число атомов

1

7

Лабораторные дифрактометры

Принципиальная схема

5

4 2 3

6

1.Рентгеновская трубка

2.Монохроматор и коллиматор

3.Образец

4.Приемные щели (могут отсутствовать)

5.Приемник (детектор)

6.Гониометр

7.Генератор высокого напряжения

Источник рентгеновского излучения (рентгеновская трубка)

Материал анода

Длина волны, Å

Mo

0.71073

Cu

1.54184

Fe

1.9360

Cr

2.2897