ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ О СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИКАХ МАТЕРИАЛОВ

Рис. 51-2. Результаты сравнения рентгенограмм: таблица сравнения межплоскостных расстояний

2

Рис. 52. Сравнение штрихдиаграммы образца со штрихдиагаммой одного из стандартов: 21-1272, анатаз

3

Рис. 53. Расчет концентраций компонентов и сравнение штрихдиаграмм образца и модели: 21-1272, анатаз; 1-1292, рутил.

4

Элементарные ячейки

Полиморфные

модификации оксида титана

Проекции на плоскость bc

5

Рис.54. КФА по дифракционной картине нанопорошкаTiO2 6

МЕТОДЫ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ, В ОСНОВЕ КОТОРЫХ ЛЕЖИТ ЯВЛЕНИЕ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОГЛОЩЕНИЯ

Рис. 42.

I = Ioexp( m t),

где m – массовый коэффициент

ослабления лучей, равный сумме коэффициентов

истинного поглощения ( m) и рассеяния ( m):

m = m + m.

Рис.43.

Зависимость коэффициента истинного поглощения платины от длины волны падающего излучения

Рис. 44.

Зависимость атомного коэффициента поглощения ta от атомного номера элемента Z для длины волны l =1 Å

Рис. 45. Схема возникновения	Рис.46. Энергетические уровни
	атома. Разрешенные переходы
рентгеновской флуоресценции	электронов на К - уровень.

9

Закон Мозли 1913 г.

				1		1
	R					n2
			(Z ij ) n2					Rc=3.29 10-15Гц
	c			i		j

Генри Гвин-Джефрис Мозли (1887-1915 ), Английский физик,

Источник:

Рис. 18. Зависимость корня из частоты http://www.calend.ru/per вторичного излучения от атомного номера элемента son/3467/

© Calend.ru

11