Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
lections_FOPI_Aleshina / Физ-осн-2_2k2014.ppt
Скачиваний:
54
Добавлен:
14.05.2015
Размер:
8.37 Mб
Скачать

ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ МЕТОДОВ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ О СТРУКТУРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИКАХ МАТЕРИАЛОВ

б) Линейные дефекты - дислокации

Краевая дислокация. Экстраплоскость выделена зеленым цветом, а плоскость скольжения – синим.

2

Винтовая дислокация в кристалле:

Винтовая дислокация b - вектор Бюргерса;

экстраплоскость показана зеленым цветом

3

в) Плоские

4

Г) Объемные дефекты: поры, включения второй фазы

5

3. Поликристаллы Поликристалл состоит из множества реальных мелких монокристаллов

6

Дифракционные методы исследования структурного состояния материалов

Рентгенография

1913

1895

X-ray–электромагнитные волны

Электронография

1927

1897

e-

1932

Нейтронография

1936

 

no

Кристаллы

берилла

Al2[Be3(Si6O18)]

7

Схема рентгеновской трубки для структурного Рис.1 анализа: 1 – металлический анодный стакан; 2 - окна из бериллия для выхода рентгеновского

излучения; 3 -термоэмиссионный катод; 4 -стеклянная колба; 5 – выводы катода, к кото-

рым подводится напряжение накала, а также вы- сокое(относительно анода) напряжение; 6 электро- статическая система фокусировки электронов;

7 - анод; 8 - патрубки для охлаждающей системы.

Рис.2

Рентгеновская трубка серии БСВ для структурного анализа

Рис.3

Спектры тормозного излучения для разных величин ускоряющего

напряжения трубки 8

Соседние файлы в папке lections_FOPI_Aleshina