- •8.3. Рентгенотехника и способы регистрации
- •8.7. Рентгенографический анализ уширения дифракционных
- •Глава 9. МЕТОДЫ ЭЛЕКТРОННОГО И ИОННОГО АНАЛИЗА
- •Глава 10. ЯДЕРНО-ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ
- •a –параметр решетки
- •Глава 8. ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЙ
- •8.2. Взаимодействие рентгеновских лучей с веществом
- •8.2.5. Особенности рассеяния нейтронов
- •8.4. Интерференция рентгеновских лучей
8.11.2. Основные области применения электронографии |
..... 336 |
8.11.3. Дифракция медленных электронов ............................... |
340 |
8.12. Применение дифракции нейтронов ........................................ |
342 |
8.12.1. Области применения нейтронографии ......................... |
344 |
8.12.2. Времяпролетная нейтронография ................................. |
349 |
8.13. EXAFS – спектроскопия в материаловедении ....................... |
352 |
8.13.1. Основы экспериментального метода |
|
EXAFS-спектроскопии ................................................... |
352 |
8.13.2. Обработка экспериментальных спектров ..................... |
354 |
8.16.3. Некоторые области применения |
|
EXAFS-спектроскопии в материаловедении ................ |
357 |
8.14. Обработка экспериментальных данных ................................. |
362 |
Контрольные вопросы, задачи и упражнения ................................. |
373 |
Список использованной литературы ................................................ |
379 |
Глава 9. МЕТОДЫ ЭЛЕКТРОННОГО И ИОННОГО АНАЛИЗА |
|
МАТЕРИАЛОВ ....................................................................... |
382 |
9.1. Основы электронной и ионной оптики, регистрация |
|
параметров заряженных частиц ................................................ |
382 |
9.1.1. Движения заряженной частицы в |
|
электромагнитном поле .................................................... |
383 |
9.1.2. Источники электронов и ионов ....................................... |
400 |
9.1.3. Ускорение и параметры пучка заряженных частиц |
..... 417 |
9.1.4. Методы регистрации заряженных частиц ...................... |
424 |
9.1.5. Фокусирующие системы .................................................. |
437 |
9.2. Автоэлектронный проектор ....................................................... |
454 |
9.2.1. Механизм автоэлектронной эмиссии ............................. |
454 |
9.2.2. Теория предельного разрешения в электронном |
|
проекторе ........................................................................... |
456 |
9.2.3. Методы исследования с помощью автоэлектронной |
|
эмиссии ............................................................................... |
460 |
9.2.4. Приборы с использованием автоэлектронной |
|
эмиссии ............................................................................... |
468 |
9.3. Автоионная микроскопия .......................................................... |
471 |
9.3.1. Механизм образования изображения в автоионном |
|
микроскопе ......................................................................... |
471 |
9.3.2. Конструкция автоионного микроскопа .......................... |
474 |
9.3.3. Применение АИМ в материаловедении ......................... |
481 |
9.4. Туннельная сканирующая микроскопия .................................. |
488 |
5
9.4.1. Основные закономерности формирования сигнала |
|
в туннельных микроскопах .............................................. |
488 |
9.4.2. Конструкция сканирующего туннельного |
|
микроскопа ......................................................................... |
491 |
9.4.3. Возможности и область применения сканирующей |
|
туннельной микроскопии ................................................. |
493 |
9.5. Растровая электронная микроскопия ........................................ |
498 |
9.5.1. Основные физические принципы ................................... |
498 |
9.5.2. Конструкция растрового электронного |
|
микроскопа.......................................................................... |
504 |
9.5.3. Применение метода растровой электронной |
|
микроскопии в материаловедении ................................... |
510 |
9.6. Просвечивающая электронная микроскопия ........................... |
517 |
9.6.1. Основы теории рассеяния электронов |
|
в твердом теле .................................................................... |
518 |
9.6.2. Конструкция просвечивающего электронного |
|
микроскопа ......................................................................... |
530 |
9.6.3. Применение методов просвечивающей электронной |
|
микроскопии для изучения структуры материалов ........ |
535 |
9.7. Оже-спектроскопия .................................................................... |
575 |
9.7.1. Механизм образования оже-электронов и основные |
|
аналитические закономерности ....................................... |
575 |
9.7.2. Аппаратура для оже-анализа и методы обработки |
|
оже-спектров ...................................................................... |
583 |
9.7.3. Применения метода ЭОС в материаловедении ............. |
588 |
9.8. Метод рентгеноспектрального анализа .................................... |
596 |
9.8.1. Физические основы метода ............................................. |
597 |
9.8.2. Конструкция рентгеновских спектрометров .................. |
609 |
9.8.3. Методы калибровки спектрометров ............................... |
616 |
9.9. Метод вторичной ионной масс-спектрометрии ....................... |
622 |
9.9.1. Физические основы метода ............................................. |
623 |
9.9.2. Аппаратурное обеспечение метода ................................. |
634 |
9.9.3. Основы обработки результатов измерений .................... |
638 |
9.9.4. Возможности и область применения метода при |
|
изучении свойств материалов ......................................... |
650 |
Контрольные вопросы ........................................................................ |
651 |
Список использованной литературы ................................................. |
655 |
6
Глава 10. ЯДЕРНО-ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ |
|
МАТЕРИАЛОВ ..................................................................... |
656 |
10.1. Ядерный магнитный резонанс (ЯМР)...................................... |
656 |
10.1.1. Физические основы метода ЯМР .................................. |
657 |
10.1.2. Стационарный метод наблюдения ЯМР при |
|
прохождении через резонансные условия .................... |
667 |
10.1.3. Импульсные методы наблюдения ЯМР ....................... |
670 |
10.1.4. Применение ЯМР для измерения значений |
|
магнитных полей и времен релаксаций ........................ |
673 |
10.1.5. Применение ЯМР для изучения твердого тела ............ |
677 |
10.2. Эффект Мессбауэра (ядерный гамма-резонанс) .................... |
684 |
10.2.1. Физические принципы эффекта Мессбауэра ............... |
685 |
10.2.2. Экспериментальные и теоретические основы |
|
мессбауэровской спектроскопии ................................... |
686 |
10.2.3. Параметры мессбауэровских спектров и их связь |
|
с параметрами твердых тел ............................................ |
690 |
10.2.4.Особенности методики регистрации характеристического рентгеновского излучения
и электронов конверсии.................................................. |
704 |
10.2.5. Применение метода ЯГР в физическом |
|
материаловедении .......................................................... |
708 |
10.2.6. Исследование явлений упорядочения и распада |
|
твердых растворов .......................................................... |
711 |
10.2.7. Применения эффекта Мессбауэра для исследования |
|
коррозионных процессов ................................................ |
714 |
10.2.8. Необычные применения эффекта Мессбауэра ............ |
719 |
10.3. Позитронно-аннигиляционная спектроскопия........................... |
720 |
10.3.1. Взаимодействие позитронов с твердым телом ............ |
721 |
10.3.2. Феноменологическая теория аннигиляции |
|
позитронов ...................................................................... |
723 |
10.3.3. Метод измерения времени жизни позитронов ............. |
726 |
10.3.4. Метод угловой корреляции и спектрометр для |
|
измерения углового распределения фотонов .............. |
728 |
10.3.5. Применение методик по аннигиляции позитронов |
|
для структурных исследований дефектов |
|
в материалах ................................................................... |
734 |
10.3.6. Применение метода аннигиляции позитронов |
|
в физическом материаловедении .................................. |
736 |
10.4. Активационный анализ .......................................................... |
742 |
10.4.1. Физические основы активационного анализа .............. |
742 |
7
10.4.2. Количественные методы определения |
|
концентрации .................................................................. |
747 |
10.4.3. Нейтронно-активационный анализ ............................... |
749 |
10.4.4. Активационный анализ на заряженных частицах ....... |
753 |
10.4.5. Гамма-активационный метод ........................................ |
755 |
10.4.6. Примеры применения активационного анализа |
|
в физическом материаловедении .................................. |
759 |
10.5. Метод аналитической авторадиографии ................................ |
762 |
10.5.1. Физические основы метода ........................................... |
762 |
10.5.2. Детекторы ионизирующих излучений |
|
в авторадиографии ......................................................... |
764 |
10.5.3. Теория и характер аналитической |
|
авторадиографии............................................................. |
766 |
10.5.4. Разрешающая способность метода |
|
авторадиографии............................................................. |
767 |
10.5.5. Применение авторадиографии в физическом |
|
материаловедении........................................................... |
770 |
10.6. Резерфордовское обратное рассеяние ................................... |
775 |
10.6.1. Физические основы метода РОР ................................... |
776 |
10.6.2. Приборное обеспечение метода .................................... |
784 |
10.6.3. Примеры изучения состояния материалов |
|
методом резерфордовского обратного |
|
рассеяния ......................................................................... |
786 |
10.6.4. Рекомендации пообработкеэкспериментальных |
|
результатов ............................................................................ |
790 |
Контрольныевопросы ................................................................................ |
791 |
Список использованной литературы ........................................................ |
794 |
Предметный указатель ............................................................................. |
796 |
8