Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Калин Физическое материаловедение Том 3 2008.pdf
Скачиваний:
1326
Добавлен:
16.08.2013
Размер:
31.94 Mб
Скачать

8.11.2. Основные области применения электронографии

..... 336

8.11.3. Дифракция медленных электронов ...............................

340

8.12. Применение дифракции нейтронов ........................................

342

8.12.1. Области применения нейтронографии .........................

344

8.12.2. Времяпролетная нейтронография .................................

349

8.13. EXAFS – спектроскопия в материаловедении .......................

352

8.13.1. Основы экспериментального метода

 

EXAFS-спектроскопии ...................................................

352

8.13.2. Обработка экспериментальных спектров .....................

354

8.16.3. Некоторые области применения

 

EXAFS-спектроскопии в материаловедении ................

357

8.14. Обработка экспериментальных данных .................................

362

Контрольные вопросы, задачи и упражнения .................................

373

Список использованной литературы ................................................

379

Глава 9. МЕТОДЫ ЭЛЕКТРОННОГО И ИОННОГО АНАЛИЗА

МАТЕРИАЛОВ .......................................................................

382

9.1. Основы электронной и ионной оптики, регистрация

 

параметров заряженных частиц ................................................

382

9.1.1. Движения заряженной частицы в

 

электромагнитном поле ....................................................

383

9.1.2. Источники электронов и ионов .......................................

400

9.1.3. Ускорение и параметры пучка заряженных частиц

..... 417

9.1.4. Методы регистрации заряженных частиц ......................

424

9.1.5. Фокусирующие системы ..................................................

437

9.2. Автоэлектронный проектор .......................................................

454

9.2.1. Механизм автоэлектронной эмиссии .............................

454

9.2.2. Теория предельного разрешения в электронном

 

проекторе ...........................................................................

456

9.2.3. Методы исследования с помощью автоэлектронной

 

эмиссии ...............................................................................

460

9.2.4. Приборы с использованием автоэлектронной

 

эмиссии ...............................................................................

468

9.3. Автоионная микроскопия ..........................................................

471

9.3.1. Механизм образования изображения в автоионном

 

микроскопе .........................................................................

471

9.3.2. Конструкция автоионного микроскопа ..........................

474

9.3.3. Применение АИМ в материаловедении .........................

481

9.4. Туннельная сканирующая микроскопия ..................................

488

5

9.4.1. Основные закономерности формирования сигнала

 

в туннельных микроскопах ..............................................

488

9.4.2. Конструкция сканирующего туннельного

 

микроскопа .........................................................................

491

9.4.3. Возможности и область применения сканирующей

 

туннельной микроскопии .................................................

493

9.5. Растровая электронная микроскопия ........................................

498

9.5.1. Основные физические принципы ...................................

498

9.5.2. Конструкция растрового электронного

 

микроскопа..........................................................................

504

9.5.3. Применение метода растровой электронной

 

микроскопии в материаловедении ...................................

510

9.6. Просвечивающая электронная микроскопия ...........................

517

9.6.1. Основы теории рассеяния электронов

 

в твердом теле ....................................................................

518

9.6.2. Конструкция просвечивающего электронного

 

микроскопа .........................................................................

530

9.6.3. Применение методов просвечивающей электронной

 

микроскопии для изучения структуры материалов ........

535

9.7. Оже-спектроскопия ....................................................................

575

9.7.1. Механизм образования оже-электронов и основные

 

аналитические закономерности .......................................

575

9.7.2. Аппаратура для оже-анализа и методы обработки

 

оже-спектров ......................................................................

583

9.7.3. Применения метода ЭОС в материаловедении .............

588

9.8. Метод рентгеноспектрального анализа ....................................

596

9.8.1. Физические основы метода .............................................

597

9.8.2. Конструкция рентгеновских спектрометров ..................

609

9.8.3. Методы калибровки спектрометров ...............................

616

9.9. Метод вторичной ионной масс-спектрометрии .......................

622

9.9.1. Физические основы метода .............................................

623

9.9.2. Аппаратурное обеспечение метода .................................

634

9.9.3. Основы обработки результатов измерений ....................

638

9.9.4. Возможности и область применения метода при

 

изучении свойств материалов .........................................

650

Контрольные вопросы ........................................................................

651

Список использованной литературы .................................................

655

6

Глава 10. ЯДЕРНО-ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ

 

МАТЕРИАЛОВ .....................................................................

656

10.1. Ядерный магнитный резонанс (ЯМР)......................................

656

10.1.1. Физические основы метода ЯМР ..................................

657

10.1.2. Стационарный метод наблюдения ЯМР при

 

прохождении через резонансные условия ....................

667

10.1.3. Импульсные методы наблюдения ЯМР .......................

670

10.1.4. Применение ЯМР для измерения значений

 

магнитных полей и времен релаксаций ........................

673

10.1.5. Применение ЯМР для изучения твердого тела ............

677

10.2. Эффект Мессбауэра (ядерный гамма-резонанс) ....................

684

10.2.1. Физические принципы эффекта Мессбауэра ...............

685

10.2.2. Экспериментальные и теоретические основы

 

мессбауэровской спектроскопии ...................................

686

10.2.3. Параметры мессбауэровских спектров и их связь

 

с параметрами твердых тел ............................................

690

10.2.4.Особенности методики регистрации характеристического рентгеновского излучения

и электронов конверсии..................................................

704

10.2.5. Применение метода ЯГР в физическом

 

материаловедении ..........................................................

708

10.2.6. Исследование явлений упорядочения и распада

 

твердых растворов ..........................................................

711

10.2.7. Применения эффекта Мессбауэра для исследования

 

коррозионных процессов ................................................

714

10.2.8. Необычные применения эффекта Мессбауэра ............

719

10.3. Позитронно-аннигиляционная спектроскопия...........................

720

10.3.1. Взаимодействие позитронов с твердым телом ............

721

10.3.2. Феноменологическая теория аннигиляции

 

позитронов ......................................................................

723

10.3.3. Метод измерения времени жизни позитронов .............

726

10.3.4. Метод угловой корреляции и спектрометр для

 

измерения углового распределения фотонов ..............

728

10.3.5. Применение методик по аннигиляции позитронов

 

для структурных исследований дефектов

 

в материалах ...................................................................

734

10.3.6. Применение метода аннигиляции позитронов

 

в физическом материаловедении ..................................

736

10.4. Активационный анализ ..........................................................

742

10.4.1. Физические основы активационного анализа ..............

742

7

10.4.2. Количественные методы определения

 

концентрации ..................................................................

747

10.4.3. Нейтронно-активационный анализ ...............................

749

10.4.4. Активационный анализ на заряженных частицах .......

753

10.4.5. Гамма-активационный метод ........................................

755

10.4.6. Примеры применения активационного анализа

 

в физическом материаловедении ..................................

759

10.5. Метод аналитической авторадиографии ................................

762

10.5.1. Физические основы метода ...........................................

762

10.5.2. Детекторы ионизирующих излучений

 

в авторадиографии .........................................................

764

10.5.3. Теория и характер аналитической

 

авторадиографии.............................................................

766

10.5.4. Разрешающая способность метода

 

авторадиографии.............................................................

767

10.5.5. Применение авторадиографии в физическом

 

материаловедении...........................................................

770

10.6. Резерфордовское обратное рассеяние ...................................

775

10.6.1. Физические основы метода РОР ...................................

776

10.6.2. Приборное обеспечение метода ....................................

784

10.6.3. Примеры изучения состояния материалов

 

методом резерфордовского обратного

 

рассеяния .........................................................................

786

10.6.4. Рекомендации пообработкеэкспериментальных

 

результатов ............................................................................

790

Контрольныевопросы ................................................................................

791

Список использованной литературы ........................................................

794

Предметный указатель .............................................................................

796

8

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]