Materialka_3_4_5_laby / Маты - лаба3
.docГосударственный комитет Российской Федерации
по высшему образованию
Дальневосточный Государственный Технический Университет
(ДВПИ им. В. В. Куйбышева)
Лабораторная работа №3
Частотная зависимость диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в твердых диэлектриках.
Выполнили студенты группы Э-5141:
Корень А. В.
Пашков М. А.
Тараненко М. Ю.
Дата:
Принял преподаватель:
Винаковская Н. Г.
Дата:
Владивосток 2007 г.
Принципиальная электрическая схема измерителя добротности типа Е4-5А:
Зависимость Е и tg
от частоты
-
№ измер.
f, МГц
Q1
Q2
C1, пФ
C2, пФ
Q1-Q2
C1-C2, пФ
Tg
1
15
57
56
67.5
60.4
1
7.1
4.6
0.014
2
30
71
69.5
62.1
58.9
1.5
3.2
3,6
0.02
3
45
40
56
54.2
38.4
18
1.8
2,1
0.017
4
15
57
30
67.5
27.4
27
40.1
8.6
0.014
5
30
71
30
62.1
25.2
41
36.9
7.97
0.025
6
45
40
14
44
9.5
26
34.5
6,4
0.017
Вывод: С увеличением частоты, диэлектрическая проницаемость снижается, а тангенс угла потерь достигает максимума при определенной частоте, а затем продолжает уменьшаться. Проницаемость в стекле несколько ниже, чем в текстолите, что показано на графике.