Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

1-3 / ргр метрология

.doc
Скачиваний:
41
Добавлен:
11.03.2016
Размер:
364.54 Кб
Скачать

Министерство образования и науки Российской Федерации

федеральное государственное автономное образовательное учреждение

высшего профессионального образования

«Северный (Арктический) федеральный университет имени М.В. Ломоносова»

Кафедра стандартизации, метрологии и сертификации

(наименование кафедры)

Воронин Александр Александрович

(фамилия, имя, отчество студента)

Институт

НиГ

курс

3

группа

4

131000.62 Нефтегазовое дело

(код и наименование направления подготовки/специальности)

РАСЧЁТНО-ГРАФИЧЕСКАЯ РАБОТА

По дисциплине

Метрология, стандартизация и сертификация

На тему

Статические методы управлением качеств.

(наименование темы)

Построение S-карты.

(номер и наименование программы подготовки)

Отметка о зачёте

(дата)

Руководитель

доцент, к.т.н. 

Н.А.Курбатова

(должность)

(подпись)

(инициалы, фамилия)

(дата)

Архангельск 2014

Лист для замечаний

ЗАДАНИЕ

Вариант № 32.

По данным контроля параметров технологического процесса построить контрольную S-карту по количественному признаку среднеквадратических отклонений и определить стабильность процесса. Данные контроля технологического процесса приведены в таблице 1.

Таблица 1- Результаты контроля качества технологического процесса

№ выборки

X1

X2

X3

X4

X5

№ выборки

X1

X2

X3

X4

X5

1

28

26

25

24

26

14

23

32

28

33

36

2

26

25

30

30

31

15

31

27

25

23

27

3

33

23

27

26

28

16

30

31

36

29

35

4

29

27

33

34

34

17

30

32

31

29

31

5

28

26

23

24

23

18

33

33

12

33

37

6

30

27

31

25

35

19

31

26

24

27

25

7

29

27

23

24

23

20

29

28

28

29

33

8

31

30

32

30

34

21

29

27

28

26

24

9

29

26

24

25

24

22

27

29

33

30

35

10

26

33

29

27

36

23

27

31

25

23

34

11

26

26

27

22

26

24

32

27

32

33

31

12

24

27

32

29

33

25

26

34

29

22

25

13

23

27

30

30

27

РАСЧЕТ СРЕДНЕКВАДРАТИЧЕСКИХ ОТКЛОНЕНИЙ И ПОСТРОЕНИЕ S-КАРТЫ

Рассчитываем среднеквадратическое отклонение каждой выборки по формуле 1.1

(1.1)

где среднее арифметическое выборки, рассчитывается по формуле 1.2 (1.2)

Рассчитываем среднюю линию среднеквадратических отклонений по формуле 1.3

(1.3)

где k – количество выборок, k = 25;

.

Рассчитываем верхнюю границу контрольной карты по формуле 1.4

(1.4)

где критерий Пирсона, определяется по таблице;

α – доверительная вероятность, принимается α = 0,975;

f – число степеней свободы, ;

по таблице определяем

Рассчитываем нижнюю границу контрольной карты по формуле 1.5:

(1.5)

где критерий Пирсона, определяется по таблице;

α – доверительная вероятность, принимается α = 0,975;

f – число степеней свободы, ;

по таблице определяем

Результаты расчетов заносим в таблицу 2.

Таблица 2 - Результаты расчетов среднеквадратических отклонений

№ выборки

Si

№ выборки

Si

1

25,80

1,48

14

30,40

5,03

2

28,40

2,70

15

26,60

2,97

3

27,40

3,65

16

32,20

3,11

4

31,40

3,21

17

30,60

1,14

5

24,80

2,17

18

29,60

9,99

6

29,60

3,85

19

26,60

2,70

7

25,20

2,68

20

29,40

2,07

8

31,40

1,67

21

26,80

1,92

9

25,60

2,07

22

30,80

3,19

10

30,20

4,21

23

28,00

4,47

11

25,40

1,95

24

31,00

2,35

12

29,00

3,67

25

27,20

4,55

13

27,40

2,95

По полученным данным строим контрольную S-карту, которая представлена на рисунке 1.

Рисунок 1- S-карта

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

По данным построенной контрольной S-карты можно сделать вывод о том, что данный технологический процесс является нестабильным, так как имеется выход точек за контрольные границы.

7

Соседние файлы в папке 1-3