Скачиваний:
23
Добавлен:
25.06.2016
Размер:
93.7 Кб
Скачать

1) Материал - в-во облад-ее необходимой комплектациец св-тв для выполнения заданной функции отдельно либо в совокупности с другими вещестами.

Матриаловедение - раздел научного знания посвещенный св-вам в-тв и их направленному изменению с целью получения материалов с заданными рабочими характеристиками опирающимися на фундаментальную базу всех разделов физики, химии, механики и смежных дисциплин.

2)Все материалы по хим.основе делятся на 2 группы: металлы, неметаллы. Чистые металлы и их сплавы. Металлы сост. 4/5 от всех хим.элемент. металлы делятся на цвет.и черн. К черн.относ-ся Fe и сплавы на его основе(сталь, чугун). Все ост.металлы относ-ся к цвет.. черн.более распрост-ые. К неметаллам относ-ся пластмасс, керамика, резина и т.д.

3)Твердые в-ва по взаимному расположению делятся на аморфние и кристаллические. Аморфные - тв. в-ва, атомы котрых расположеныв пространстве хаотично. Кристаллические - тв. в-ва, атомы которых расположены в пространстве в строго определенном порядке.

4)Атомы крист. реш. наход. на определенном расстоянии друг от друга. Расстояние между центрами атомов наход. в двух соседних узлах реш. назыв. параметрами.

5) Влияние кристаллического строения на св-ва ме:

Электроны, котор. располагаются на внешних атомных оболочках, теряют связь со своими атомами и поэтому происходит образование свободных электронов не пренадлежащим отдельным атомам. В узлах крист. реш. при этом образ. полож. заряжен. ионы. Между ионами и свободными электронами возникают силы притяжения, котор. сягивают оины, такую связь назыв. металлической, наличие металлической связи объясн. характерные св-ва ме.

6) Дефекты кристаллического строения:

Точечные - малы во вссех 3-ех напраавлениях. Их величинане превосходит нескольких атомных диаметров. К точечным дефектам относят 1)Вакансии 2)Замещенные атомы 3)Внедренные атомы.

Линейные - Имеют малую протяженность в 2-ух измерениях и большую в 3-ех. Такие дефекты назыв. дслакациями. Краевая дислакация представл. собой икажение крист. реш. вызванная наличием дополнительной полуплоскости.

Поверхностные - малы только в одном направлении. Чаще всего это граница раздела 2-ух различно-ориентированных участков крист. реш. На этой границе нарушается правильное расположение атомов, помимо этого на границах скатываются линейные и точечные дефекты.

7) Анизотропия ме:

Она объясняется неодинаковой насыщенностью атомов различных плоскостей реш. и неодинаковыми межатомными расстояниями. Анизотропия св-в характерна только для одиночных кристаллов.

8) Кристаллизация ме:

Пространственные крист. реш. образ. в ме. при переходе их жидкого состояния в тв. Этот процесс назыв. кристализацией.

В-ва, котор. спец-но вводят в расплавленный ме. с целью измельчения зерна назыв. модификаторами, а сам процесс введения этив в-тв модифицированием.

Причина с переохлаждением заключ. в след-ем - в соответствии со 2-ым законом термодинамики всякая система стремится к минимальному значению свободной энергии. поэтому кристаллизация будет происходить только в случае, если тв. сост-ие обладает меньшей свободной энергией, чем жидкое состояние, при темп-ры выше темп-ры кристаллизации меньшей энергии обладает жидкое состояние. При темп-ре кристаллизации колличество свободных энергий равны. Переход начинает происходить только при темп-ре меньше, чем темп-ра кристаллизации, так как только в этом случае колличество свободной энергии будет меньше, чем жидком состоянии.

9) нек.металлы в завис.от t могут сущ.-ть в различ.кристалл.формах-полиморфизм. А кристалл.формы-полиморфными модициф.-ми(ПМ). Переход от 1-ой крист.формы к друг.наз.полиморф.превращен.(ПП). Пример: ПП в Fe. При охлаждении до 1539 Fe ост.в жидк.сост., далее образ-ся форма, имеющ.куб.Vцентр.реш-ку; нач. с 1392 до 911 Fe имеет γ-модиф.с образ.куб.границентр.реш-ки. от 911 до 768 Fe перех-ит в β-модиф.с куб.Vцентр.реш-ой. Ниже 768 происх. Послед-яя t остан-ка с образ-ем магнит.формы α-Fe.в кот.сохр. Vцентр.реш-ка.

10) Методы изучения структуры ме:

1)Макроанализ. 2)Микроанализ. 3)Ренгеновский анализ. 4)Магнитная дефектоскопия.

5)Ультадисковая дефектоскопия. 6)Дефектоскопия с помощью радиактивных изотопов.

7) Спектральный анализ. 8)Химический анализ.