- •Содержание
- •Методика обработки результатов измерений
- •Оценка случайной погрешности прямых измерений
- •Обработка результатов прямых измерений
- •Погрешность при однократных измерениях
- •Погрешности косвенных измерений
- •Литература
- •Лабораторная работа № 1 Измерение линейных величин
- •Теория линейного нониуса. Штангенциркуль
- •Микроскопический винт. Микрометр
- •Выполнение работы
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •1. Иверонова в. А. Физический практикум. - м., 1962. С. 35 - 40.
- •Лабораторная работа № 2 Изучение законов вращательного движения на крестообразном маятнике Обербека
- •Выполнение работы
- •Описание установки
- •Выполнение работы
- •Контрольные вопросы
- •Теория метода и описание установки
- •Выполнение работы
- •Контрольные вопросы
- •Теория метода и описание установки
- •Выполнение работы
- •Вычислить
- •Контрольные вопросы
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •I. Метод Ребиндера
- •Выполнение работы
- •Вычисления
- •II. Метод отрыва кольца от поверхности жидкости
- •Выполнение работы
- •Вычисления
- •Контрольные вопросы
- •Выполнение работы
- •Вычисления
- •Контрольные вопросы
- •Теория метода и описание установки
- •Выполнение работы
- •Контрольные вопросы
- •Теория метода и описание установки
- •Контрольные вопросы
- •Классификация электроизмерительных приборов по принципу действия
- •Приборы магнитоэлектрической системы
- •Приборы электромагнитной системы
- •Приборы электродинамической системы
- •Приборы других систем Тепловая система
- •Термоэлектрическая система
- •Электронная система
- •Индукционная система
- •Основные приборы, применяемые в физической лаборатории
- •Выбор электроизмерительного прибора
- •Задание к лабораторной работе и порядок ее выполнения
- •Общие указания
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Лабораторная работа № 12 Изучение прозрачной дифракционной решетки
- •Описание прибора
- •Выполнение работы
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Лабораторная работа № 13
- •Введение
- •Задания к выполнению работы
- •Литература
- •1. Сила света электрических ламп накаливания
- •2. Нормы освещенности в помещениях
- •3. Примерные значения освещенности в различных случаях, лк:
- •Лабораторная работа № 14 Изучение атомных спектров
- •Выполнение работы
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Справочные материалы
- •644099, Омск, ул. Красногвардейская, 9
Министерство образования Российской Федерации
Омский государственный институт сервиса
Кафедра естественнонаучных дисциплин
В. В. Пластинин
ФИЗИКА
Лабораторный практикум
Омск 2001
Физика.
Лабораторный практикум:
Учебное пособие /
Сост. В.И. Пластинин.
Омский
государственный институт сервиса,
2001. 97 с.
В учебном пособии тексты лабораторных работ взяты из различных источников, опубликованных ранее. Подбор работ сделан в соответствии с учебным планом и программой для специальности 230700 - «Сервис» с учетом действующего в настоящее время государственного образовательного стандарта высшего профессионального образования для заочного и очного обучения.
Библиогр.; 9 назв. Рис. 38.
Рецензент профессор В. И. Струнин
Ответственный за выпуск зав.кафедрой
естественнонаучных дисциплин, доцент Э. Ф. Зорина
Рекомендовано
заседанием кафедры ЕНД
Протокол
№ 12 от 28.06.01
Утверждено
научно-методическим
советом
по специальности 230700
©
Омский государственный
институт
сервиса, 2001
Содержание
Методика обработки результатов измерений ………..….4
Лабораторные работы:
№ 1. Измерение линейных величин ……............12
№ 2. Изучение законов вращательного движения на крестообразном маятнике Обербека……………………………......19
№ 3. Определение ускорения силы тяжести оборотным маятником……………………………………………………...……..24
№ 4. Определение универсальной газовой постоянной…………..29
№ 5. Определение отношения Ср/Сv методом адиабатического расширения…………………………………………..…………..…..34
№ 6. Определение средней длинны свободного пробега и эффективного диаметра молекулы азота…………………………..42
№ 7. Определение коэффициента поверхностного натяжения......51
№ 8. Определение коэффициента внутреннего трения (вязкости) жидкости методом Стокса……………………………………….….62
№ 9. Исследование электростатического поля………….………...68
№ 10. Определение электродвижущей силы источника тока по методу компенсации……………………………………………...….74
№ 11. Знакомство с электроизмерительными приборами..........…79
№ 12. Изучение прозрачной дифракционной решетки...................99
№ 13. Знакомство с электроосветительными приборами и определение освещенности рабочего места люксметром….....…102
№ 14. Изучение атомных спектров……………….……………….110
Справочные материалы…………………………………..………...116
Методика обработки результатов измерений
Измерением какой-либо физической величины называется операция, в результате которой мы узнаем, во сколько раз измеряемая величина больше (или меньше) соответствующей величины, принятой за эталон.
Различают два вида измерений; прямые и косвенные. Прямыми называются такие измерения, при которых измеряемая величина сравнивается непосредственно со своей единицей. Если физическая величина определяется на основании формулы, устанавливающей ее связь с величинами, найденными прямыми измерениями, то такое измерение называется косвенным.
Измерения принципиально не могут быть выполнены абсолютно точно. Ошибки, допускаемые при измерениях, делятся на систематические и случайные.
Систематические ошибки возникают вследствие неисправности приборов, недостаточно разработанной методики эксперимента и т. п. Величина систематической ошибки одинакова во всех измерениях, проводимых одним и тем же методом с помощью одних и тех же приборов, и не уменьшается с увеличением числа измерений.
Случайные ошибки вызываются неточностью отсчетов, несовершенством наших органов чувств и другими причинами, которые заранее нельзя учесть.
Многократные повторения одного и того же измерения уменьшают величину случайной ошибки. Поэтому наиболее близким к истинному значению измеряемой величины будет среднеарифметическое значение из большого числа отдельных измерений: a1, а2,..., аn.
В задачу измерений входит не только нахождение численного значения величины, но и оценка точности полученного результата, судить о которой можно по величине допущенной погрешности.