Получение изображения в рентгеновских лучах.

Порядок работы с микроскопом в этом режиме:

1. Отъюстировать колонну микроскопа при ускоряющем напряжении 30 кВ.

2. Установить ток зонда 10^-7-10^-8А.

3. Установить на поверхность эталонов для рентгеновского микроанализа медную электрическую сетку с периодом100 – 200 мкм.

4. Переместить объект в верхнее положение (Z= 202, ток фокусировки объектива 0,65 А), получить изображение поверхности электролитической сетки во вторичных электронах с увеличением 500 – 1000 крат.

5. Установить в спектрометре кристалл-анализатор LiF.

6. Подать высокое напряжение на рентгеновский счетчик, а блок регистрации БР-1 перевести в рабочий режим.

7. Выйти на максимум пика характеристической спектральной линии меди (CuK).

8. Соединить жгутами блоки электроники системы рентгеновского микроанализа с блоками ВКУ для режима рентгеновского изображения.

9. Получить рентгеновское изображение поверхности медной электролитической сетки в дискретной форме, для этого

• нажать кнопку РИ на панели блока БУОВС;

• установить число строк 1000, длительность строки 10-80 мс в системе развертки ВКУ микроскопа;

• установить увеличение микроскопа 500*1000 крат;

• улучшить точечное (дискретное) изображение перемычек медной электролитической сетки регулировками в блоке БР-1, ручками УСИЛЕНИЕ, ПОРОГ, чтобы плотность сигнальных точек на перемычках сетки была максимальна, а фон (точки на окнах сетки) был минимальным; не допускать переполнение канала блока БР-1 и полное слияние точек на экране ЭЛТ в общий белый фон.

Порядок выполнения работы

1. Ознакомиться с принципом действия микроскопа электронного растрового РЭМ-100У-1 в режиме рентгеновского микроанализатора.

2. Изучить систему рентгеноспектрального анализа микроскопа.

3. Получить спектр характеристического рентгеновского излучения железа. Оценить контрастность линии в полученном спектре.

Вопросы к лабораторной работе:

1. Принцип действия микроскопа в режиме рентгеновского микроанализатора.

2. Тип рентгеновского спектра, используемый в рентгеноспектральном микроанализе.

3. Система рентгеноспектрального анализа микроскопа.

4. Схема рентгеновского спектрометра.

5. Типы кристаллов.

6. Круг задач, решаемый методом рентгеноспектрального микроанализа.

Список использованной литературы:

1. Блохин М. А., Методы рентгеноспектральных исследовапий, М., 1959;

2. Плотников Р. И., Пшеничный Г. А., Флюоресцентный рентгенорадиомет-рический анализ, М., 1973;

3. Рид С. Д ж. Б., Электронно-зондовый микроанализ, пер. с англ., М., 1979;

4. Рентгенотехника. Справочник, кн.|-2,М., 1980;

5. Лосев Н. Ф., Смагунова А. Н., Основы рентгеноспектрального флуорес-центного анализа, М., 1982;

6. Рентгенофлуоресцентный анализ, под ред. Н. Ф. Лосева, Новосибирск 1991.

7. Микроскоп электронный растровый типа РЭМ-100У. Техническое описание и инструкция по эксплуатации. Книги3-4.