1.5 Метод центроидов.

Решение структурных задач рентгенографии требует прецизионного определения размеров элементарных ячеек исследуемых фаз, что возможно при наличии в дифракционном спектре линии, не искаженных наложением соседних отражений. Но если таких линий недостаточно или они вообще отсутствуют, как, например, в спектре мартенситных структур, то возникает необходимость в разделении дифракционных мультиплетов. Практически возможность методов разделения, основанных на анализе формы профилей суммарных линий, ограничивается Кα и произвольными дублетами. Но тогда расстояние между центром тяжести дублета и одной из его составляющих определяется выражением

форм

которое в первом случае находится с требуемой точностью, так как k

и δ для Кα -дублета известны, а во втором случае k и δ определяются

приближенно из-за неизбежного влияния на величину погрешности

измерений несоответствия исходной гипотезы реальным условиям, а

также невозможности достаточно полного исключения инструментальных

и физических аберраций, искажающих форму профилей линий.

Таким образом, методы этой группы оказываются непригодными для

решения поставленной задачи.

Совершенно иной подход в методе определения параметров элементарных ячеек кристаллических структур с неразрешающимися

дифракционными отражениями, не требующий их разделения. Центр тяжести любой мультиплетной линии определяется без предположения о форме профилей синглетов выражением

форм

Система уравнений решается одним из методов

численного решения систем трансцендентных уравнений, а в

некоторых наиболее простых случаях возможно графическое решение. Расчеты существенно упрощаются при исследовании однофазных

структур и известных относительных интенсивностях синглетов.

Достоинство предложенного метода состоит в его высокой разрешающей

способности, в том, что не требуются предположения о форме

профилей и положениях синглетов, не накладываются ограничения иа

число неизвестных параметров, однако фазовый состав предполагается

известным.

Определив размеры элементарных ячеек отражающих фаз, несложно

найти положения синглетов, межсинглетные расстояния и с помощью

метода Ритвельда или аппроксимационного метода рассчитать интегральную ширину компонент мультиплета.