Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
методичка№2.doc
Скачиваний:
72
Добавлен:
02.04.2015
Размер:
13.44 Mб
Скачать

П. Оценка уровня миниатюризации рэа

При формировании ТЗ на вновь разрабатываемую РЭА в нем оговаривается требуемый уровень миниатюризации.

На стадиях эскизного и технического проектирования (как предварительно) и на стадии разработки рабочей документации опытных образцов (окончательно) производится оценка уровня миниатюризации РЭА.

Если устройства выполнены в микроэлектронном исполнении на основе использования ИМC широкого применения, различают степени интеграции, то их уровень миниатюризации оценивается коэффициентами применяемости ИМС первой 1, второй 2, и т.д. степеней интеграции, которые определяются отношением суммарного числа эквивалентных элементов в ИМС к общему числу элементов в устройстве.

Оценка уровня миниатюризации изделий, состоящих из ряда конструктивных законченных модулей, выполняющих самостоятельные функции, производится отдельно по модулям.

Коэффициент применяемости ИМС, включая МСБ к-ой степени интеграции, в модуле определяется по формуле

где nki, - число эквивалентных элементов в ИМС (МСБ) i -го типа к - й степени интеграции Nki - число ИМС (МСБ) i -го типа к - й степени интеграции в модуле. М - число дискретных элементов в модуле.

Общий коэффициент применяемости интегрированных элементов в модуле определяется как

Значения 0 и k лежат в пределах от 0 до 1;

они показывает долю интегрированных элементов в модуле.

Миниатюризация электронных блоков, состоящих из маломощных каскадов, не может полностью решить проблему миниатюризации РЭА. Значительную часть аппаратуры составляют блоки мощных передатчиков, устройства отображения информации, кинематические механизмы и т.д., которые сегодня еще слабо поддастся миниатюризации.

Уровень миниатюризации устройств целесообразно оценивать коэффициентом

где Vm - объем устройства, подвергнутого миниатюризации, Vа - объем аналога в другом исполнении. В некоторых случаях удобно пользоваться коэффициентом по массе

Область допустимых значений уровней миниатюризации различных устройств определяется статистически

где 0 min - минимально допустимый уровень миниатюризации для данного класса устройств (устанавливается директивно на основе анализа);

единица - предельно достижимый уровень миниатюризации.

Если уровень миниатюризации РЭА 0  0 min, то она соответствует

современному уровню развития микроэлектроники и методов конструирования, если 0< 0 min . то нет.

Аналогично устанавливаются области допустимых значений  для тех частей РЭА, создание которых на данном этапе не может быть реализовано средствами микроэлектроники,

Показатели уровня миниатюризации 0 и v могут быть использованы как критерии, указывающие на целесообразность модернизации конструктивно устаревших РЭ систем. Так, например если образец имеет уровни миниатюризации 0(2) и v(2) и предварительная проработка показывает, что использование более современной элементной базы, новых технических и конструктивных решений позволит подучить более высокий уровень миниатюризации:

то модернизация целесообразна при выполнении неравенств

где 1 и 2 минимально допустимые относительные приращения уровня миниатюризации (устанавливаются директивно).

S и S* - потребные и максимально допустимые ресурсы на модернизацию РЭА.

Показатели 1 и 2 определяют эффективность дальнейшее миниатюризации РЭА, т.е. если оценивать необходимость модернизации устройства по принципу "да - нет", можно записать:

Проведение на различных этапах разработки оценки уровня миниатюризации РЭС дает информацию для выбора направлений проектирования и способствует повышению качества проектируемой РЭА.

Таким образом, пря разработке РЭА Ш, IV поколений необходимо использовать максимально возможное количество ИМС широкого применения для достижений более высокого уровня миниатюризации. Однако, учитывая, что при настоящем уровне развития микроэлектроники номенклатура ИМС широкого применения пока еще недостаточна для получения технически достижимого уровня миниатюризации РЭС, разработчикам РЭА приходится создавать либо ИМС специального применения и микросборки, либо микроэлектронный аналог устройства с помощью современной технологии, как, например, в случае микроминиатюризации СВЧ - устройств.

В настоящее время для изготовления микросборок наиболее широко используется гибридно-пленочная технология. Проектирование гибридных микросборок по сравнению со схемами на дискретных элементах имеет ряд особенностей, связанных с необходимостью комплексного решения схемотехнических, конструктивно-технологических (топологических) и технологических процессов.

Перевод в микроэлектронное исполнение дискретных функциональных узлов, выполненных без учета требований гибридно-пленочной технологии, связан с переработкой схем, что равноценно новой разработке их в гибридно-пленочном исполнении. Это приводит к возрастанию затрат на проектирование и изготовление РЭА, что является объективным ограничением дальнейшей микроминиатюризации.

В связи с этим на ранних стадиях проектирования РЭА возникает задача выбора номенклатуры устройств РЭА, миниатюризация которых без использования ИМС широкого применения дает максимальную эффективность. При этом принимают, что при использовании в аппаратуре только ИМС широкого применения никаких ограничений (дополнительных затрат) не возникает, а ограничения в ресурсах появляются при необходимости повышения уровня миниатюризации РЭА за счет разработки микросборок специализированного применения и интегральных микроэлектронных устройств собственного изготовления.

Тогда можно сформулировать задачу.

Пусть необходимо выбрать номенклатуру устройств, миниатюризация которых дает максимальный эффект при заданных ограничениях на ресурсы.

Пусть при решении задачи будет выбрано mn функциональных устройств. Функциональные устройства 1,2,3.......i.......n

это устройства, которые не могут быть миниатюризированы за счет ИМС широкого применения и на миниатюризацию которых следует распределить ресурсы S.- здесь разработка каждого i -го устройства в интегральном исполнении дает приращение уровня миниатюризации РЭА, на ri и требует затрат Si(r).

Разрабатываемые m устройств обозначим через j, (j=1,2,…m). Тогда задача выбора номенклатуры функциональных устройств, миниатюризация которых дает максимальный эффект при ограничениях на ресурсы, формулируется следующим образом:

Найти номера

и формулируется, таким образом, как целочисленная задача линейного программирования. Рассмотрим алгоритм ее решения.

Пусть уже выбрано r (r<m) устройств, тогда выбор (r + 1) -го устройства подчиняется следующему правилу: выбирается то устройство, при котором уровень миниатюризации для всех (r.+l) устройств, приведенный к затратам, будет максимальным. В соответствии с этим правилом первым выбирается то устройство, для которого выполняется условие:

Выбор r+1 устройства подчиняется правилу

где jR - порядковые номера устройств, выбранных до ( r+1 )-го шага.

Это правило может быть нарушено только на последнем шаге, когда устройство, определяющее максимальный суммарный приведенный уровень миниатюризации, может нарушить условие (**)

В связи с этим на последнем шаге выбирается то устройство, которое не нарушает этого условия и в наибольшей степени удовлетворяет предыдущему.