X-ray Дифракция на наночастицах

Ширина пика дифракции определяется

- длина волны, - константа Шерера, зависит от формы частиц (напр. Равна 0,9 для сферических).

Для сферических частиц

В малых частицах происходит “сжатие” постоянной кристаллической решётки.

0

0 2,5 5 7,5 10 -0,6 -0,3 ε/%

Лапласовское давление Если , тодля

26