- •Фотоэлектромагнитный эффект в полупроводниках и его применение
- •Минск-2002 содержание
- •Список обозначений
- •Краткие теоретические сведения
- •Биполярный фотоэлектромагнитный эффект
- •Фотомагнитная эдс и ток короткого замыкания
- •Описание установки и методика измерений
- •3.1. Подготовка установки к работе
- •Сведения об образцах
- •Справочные данные
-
Сведения об образцах
Образец №1 – германий с удельным сопротивлением =30 Омсм (проводимость близка к собственной);
толщина образца d=0,6 мм;
длина образца 10 мм;
поверхность образца механически полирована;
сопротивление образца 1005 Ом.
Образец №2 – изготовлен из того же материала как и образец №1. Отличается от него тем, что поверхность протравлена в кипящей перекиси водорода, что очень сильно снижает скорость поверхностной рекомбинации;
время жизни - =1,110-3 сек;
сопротивление образца 2070 Ом.
Образец №3 – изготовлен из германия, легированного золотом;
поверхность протравлена;
удельное сопротивление материала 2,1 Омсм;
сопротивление образца R=470 Ом;
длина образца 10 мм;
толщина – 1,5 мкм.
-
Справочные данные
При комнатной температуре в германии
см2в-1с-1, D47,1 см2с-1.
Напряженность магнитного поля Н=2000 эрстед (см-2 г1/2 c-1)
Площадь светового пятна =0,2 см2
Скорость света с=31010 смс-1
Заряд электрона е=4,810-10 ед СГС (см3/ г1/2с-1)
Соотношение между некоторыми единицами в системе СИ и СГС (система Гаусса):
1 В – 3,3410-3 ед СГС (см1/2г1/2с-1)
1 Ом – 1,1110-12 ед СГС (см-1с)
1 см2в-1с-1 (подвижность) – 299,4 ед СГС (см3/2г1/2)
Задание 1
Используя результаты измерений ФМЭ на образце №2 рассчитать интенсивность света от светодиода
(29).
Расчеты проводить в гауссовой системе единиц (СГС) с учетом сведений об образцах и справочных данных.
Задание 2
Используя результаты измерений ФМЭ на образце №1 и расчетное значение интенсивности света I0, полученное в результате выполнения задания 1, определить в соответствие с (27) эфф.. Полагая, что в объеме имеет значение такое же, как и в образце №2, используя (28) определить скорость поверхностной рекомбинации на полированной поверхности образца №1.
Задание 3
Используя результаты измерения ФМЭ на образце №3 и расчетное значение интенсивности света I0, определить lD и в германии, легированном золотом.
Результаты выполнения заданий 1 – 3 свести в таблицу вида:
Задание |
Образец |
Определяемая величина |
Полученное значение |
1 |
2 |
I0, кв/см2 с |
|
2 |
1 |
lD эфф, с |
|
эфф, с |
|
||
S, см/c |
|
||
3 |
3 |
LD, см |
|
, с |
|
КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ
-
Физический смысл ФМЭ?
-
Физический смысл lD и ?
-
Вывод формулы диффузионной длины lD .
-
В каких областях физики и техникики используется ФМЭ?
-
Как влияют дефекты структуры в полупроводниках на величины lD и ?
-
Что такое поверхностная рекомбинация и от чего она зависит?
Литература
-
Бонч-Бруевич В.Л., Калашников С.Г. Физика полупроводников. – М.: Наука, 1977.
-
Равич Ю.И. Фотомагнитный эффект в полупроводниках и его применение. – М.: Советское радио, 1967.
-
Рывкин С.М. Фотоэлектрические явления в полупроводниках. – М.: Гос. Изд-во физико-математической лит-ры, 1963.
4. Зенгуил Э. Физика поверхности. М.: Мир, 1990.