Конструкція мікроскопу мис–11
Мікроскоп має масивну підставку 11 (рис. 2.4), на якій встановлена колонка 12. На колонку за допомогою рухливого кронштейну 13 прикріплений тримач 14 тубусів: проектуючого мікроскопа 15 і спостерігаючого мікроскопа 16. У нижню частину кожного тубуса вкручуються об'єктиви 6 і 7.
Рис. 2.4. Конструкція мікроскопу МИС-11
У верхній частині мікроскопа, що проектує, встановлений патрон з лампою 1 (рис. 2.3), який при регулюванні освітлення можне пересуватися й у потрібному положенні затискається гвинтом 17 (рис. 2.4). Лампа освітлювача живиться через трансформатор 18. Лампи розжарення регулююється ручкою 19 реостата, вмонтованого в корпус трансформатора.
У верхній частині спостерігаючого мікроскопа встановлений окулярний гвинтовий мікрометр для візуальних вимірів. При фотографуванні досліджуваного профілю окулярний мікрометр замінюється фотонасадкою зі звичайним окуляром.
Переміщуючи гайку 20 по різьбі колонки, можна встановити тримач 14 тубус разом з мікроскопами на будь-якій висоті й у потрібному положенні закріпити гвинтом 21. Для фокусування мікроскопів на об'єкт служать барабанчик 22 грубої подачі й барабанчик 23 мікрометричного механізму.
Для встановлення й переміщення досліджуваних об'єктів прилад має предметний столик 24, що разом з об'єктом пересувається у двох взаємо-перпендикулярних напрямках за допомогою мікрометричних гвинтів 25, повертається навколо вертикальної осі й фіксується стопорним гвинтом 26. До столика додається призма 27 для установки циліндричних об'єктів.
Для дослідження поверхонь різних класів чистоти до приладу додаються чотири пари змінних об'єктивів: 6-7, 28, 29 і 30. Всі об'єктиви розраховані на довжину тубуса "безмежність".
Підготовка мікроскопа до вимірювань
Перед вимірюванням необхідно:
1. Встановити тримач 14 тубусів на кронштейн 13 і помістити на столик мікроскопа деталь, яка підлягає дослідженню. При цьому вимірювана поверхня повинна бути встановлена паралельно площини столика (з точністю до =1°), сліди від обробки - паралельно площини, що проходить через осі мікроскопів, тобто перпендикулярно до зображення щілини
2. Вийняти з тубусу тримача 14 спостерігаючий мікроскоп 16 і вкрутити в тубуси проектуючого й спостерігаючого мікроскопів обрані об'єктиви. Встановити у тримач спостерігаючий мікроскоп, опустити його до упору й затиснути гвинт 31.
3. Встановити за допомогою гайки 20 кронштейн 13 по висоті на відстані 10 - 15 мм від поверхні деталі до оправ об'єктивів і закріпити гвинт 21.
4. Освітити вимірювальну поверхню штучним світлом, наприклад, настільною лампою. Обертанням барабанчиків 22 грубої подачі й барабанчика 23 мікрометричного механізму спостерігаючий мікроскоп сфокусувати так, щоб різко зображена ділянка поверхні виявилась всередині поля зору.
Рис. 2.5. Поле зору мікроскопу при вимірюванні висоти нерівностей
5. Освітити щілину проектуючого мікроскопу, лампою 1 (рис. 2.3). Привести гвинтом 32 (рис. 2.4) зображення щілини в центр поля зору спостерігаючого мікроскопа й за допомогою гайки 33 сфокусувати на її вимірювану поверхню. З’єднати гвинтом 32 різкий край зображення щілини з ділянкою різкого зображення поверхні (другий край зображення щілини при роботі із сильними об'єктивами видно розмитим). Якщо при цьому порушиться фокусування мікроскопа на щілину, неї відновлюють за допомогою гайки 33. Після цього знову точно сполучити гвинтом 32 різкий край щілини з ділянкою різкого зображення поверхні.
Вид правильно встановленого поля зору показано на рис. 2.5.
6. Повернути окулярний гвинтовий мікрометр так, щоб одна з ниток перехрестя окуляра 10 (рис. 2.4) була орієнтована паралельно зображенню щілини. У цьому положенні окулярний мікрометр закріпити гвинтом 34. При цьому напрямок переміщення ниток становить із щілиною кут 45°.
При вимірюванні циліндричної деталі її встановлюють на призмі 27 у таке положення, при якому утворююча циліндра розташовується приблизно паралельно зображенню щілини. Після цього, встановлений заздалегідь по плоскому об'єкті мікроскоп фокусують на циліндричну поверхню за допомогою грубої подачі й мікрометричного механізму.
Поворотом столика при одночасному спостереженні картини у полі зору здійснюється більш точна установка утворюючої циліндричної поверхні паралельно щілини. Для правильного контролю чистоти обробки необхідно вимірювану циліндричну деталь встановити так, щоб спостерігаючий мікроскоп був точно сфокусований на утворюючій циліндричної поверхні.
Для наведення мікроскопа на цю утворюючу варто переміщати циліндричну деталь перпендикулярно до її осі за допомогою мікрометричних гвинтів 25 столика й спостерігати при цьому за зсувом зображення щілини у полі зору. Положення деталі буде правильним, якщо зміниться напрямок переміщення зображення щілини при незмінному напрямку руху деталі. Звичайно при цьому потрібне додаткове фокусування мікроскопа.