- •В. К. Усачев в. М. Чернов Лабораторный практикум по физической электронике
- •Лабораторная работа № 1 определение параметров многоэлектронных ламп введение
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Обработки результатов
- •П ринцип действия релаксационного генератора на тиратроне
- •Порядок выполнения работы
- •Упражнение 1 снятие пусковой характеристики
- •Упражнение 2 определение экспериментальной зависимости периода колебании от напряжения на сетке
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Описание лабораторной установки
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемойлитературы
- •Лабораторная работа № 6 определение характеристик фотоэлектронного умножителя
- •Описание установки
- •Порядок внполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Лабораторная работа № 7 изучение температурной зависимости сопротивления полупроводников и определение энергии активации
- •Описание метода и установки
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Лабораторная работа № 8 изучение явления термо-э.Д.С. В металлах и полупроводниках
- •Описание установки
- •Задание
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Содержание
- •454021 Челябинск, ул. Братьев Кашириных,129
- •451021 Челябинск, ул. Молодогвардейцев, 57б
Описание установки
В нутри трубчатой печи 1 (рис. 5), нагреваемой электрическим током от автотрансформатора 2, находится образец полупроводника в форме узкого параллелепипеда с закрепленными на концах металлическими контактами. При этом один из концов образца выходит за пределы печи (зоны нагрева) и для отвода тепла прикреплен к металлическому радиатору.
Образец полупроводника - кремниевого "чипа" является невырожденным полупроводником с примесной проводимостью, резко изменяющейся с температурой. При нагреве печи один из концов полупроводника нагревается больше, чем другой, поэтому между ними возникает термо-э.д.с. Кроме того, в термо-э.д.с. вносят вклад и контактные разности потенциалов, однако из-за их относительной малости по сравнению с термо-э.д.с. внутри полупроводника в первом приближении ими можно пренебречь.
К концам пластины полупроводника подключена хромель-алюмелевая термопара 4. Разность температур между горячим и холодным концами полупроводника определяется по формуле
= k·Vт-э, (11)
где Vт-э термо-э.д.с. на хромель-алюмелевой термопаре, k = 25·103 K/B.
Термо-э.д.с. на концах полупроводника измеряется с помощью мультиметра 5 типа CI-I07. Этот же мультиметр используется и для измерения термо-э.д.с. хромель-алюмелевой термопары после изменения положения переключателя 6.
Задание
1. Включить автотрансформатор и выставить в его выходной цепи напряжение 220 В. Измерить термо-э.д.с. полупроводника и термопары в различные моменты времени в течение трех минут (В этот период времени внутренняя часть пластины полупроводника нагревается быстрее, чем наружная и градиент температуры между ее горячим и холодным концами увеличивается). После этого выключить питание автотрансформатора и произвести измерения термо-э.д.с. на обратном ходе, когда пластина полупроводника остывает и градиент температуры уменьшается. Для каждого полученного значения э.д.с. термопары Vт-э по формуле (11) найти разность температур между горячим и холодным концами исследуемой пластины полупроводника. Построить график зависимости термо-э.д.с. полупроводника от разности температур для прямого и обратного хода в отдельности.
2. По тангенсу угла наклона полученных зависимостей определить дифференциальную термо-э.д.с. полупроводника для прямого и обратного хода. Найти среднее значение величины .
3. По знаку термо-э.д.с. на горячем конце полупроводника определить тип примесной проводимости полупроводника.
4. Для среднего значения дифференциальной термо-э.д.с. по формуле (2) или (3) (в зависимости от полученного типа проводимости)) определить разность (или ) при температуре , положив .
Контрольные вопросы
1. Каковы причины возникновения термо-э.д.с.?
2. Как рассчитывается термо-э.д.с. в проводниках и полупроводниках без наличия контактов с другими материалами?
3. Как вычисляется внутренняя контактная разность потенциалов?
4. Как вычисляется внешняя контактная разность потенциалов?
5. Изобразите распределение потенциала в цепи, составленной из двух проводников при одинаковой температуре спаев.
6. Изобразите распределение потенциала в цепи, составленной из двух проводников при различных температурах спаев.
7. Как вычисляется термо-э.д.с. цепи, составленной из двух проводников?
8. Почему в металлах термо-э.д.с. имеет гораздо меньшие значения, чем в полупроводниках?