- •Глава 1. Отбор и подготовка пробы к анализу
- •1.1. Отбор пробы
- •1.2. Отбор пробы газов
- •1.3. Отбор проб жидкостей
- •1.4. Отбор пробы твердых веществ
- •1.5. Способ отбора
- •1.6. Потери при пробоотборе и хранение пробы
- •1.7. Подготовка пробы к анализу
- •Глава 2. Статистическая обработка результатов
- •2.1. Погрешности химического анализа. Обработка результатов измерений
- •2.2. Систематическая ошибка
- •2.3. Оценка точности и правильности измерений при малом числе определений
- •2.4. Доверительный интервал и доверительная вероятность (надежность)
- •2.5. Аналитический сигнал. Измерение
- •Глава 3. Спектральные методы исследования веществ
- •3.1. Абсорбционная спектроскопия
- •3.1.1. Фотометрический анализ
- •3.1.1.1. Выбор длины света и светофильтра в фотометрическом анализе
- •3.1.1.2. Основные приемы фотометрического анализа
- •3.1.1.3. Анализ смеси окрашенных веществ
- •3.1.1.4. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.1.1.5. Нефелометрия и турбидиметрия
- •3.1.2. Атомно-абсорбционная спектроскопия
- •3.1.2.1. Основы метода
- •3.1.2.2. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.2. Эмиссионный спектральный анализ
- •3.2.1. Происхождение эмиссионных спектров
- •3.2.2. Источник возбуждения
- •3.2.3. Качественный анализ
- •3.2.4. Количественный анализ
- •3.2.5. Схема проведения аэса
- •3.2.6. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.2.6.1. Принцип работы универсального стилоскопа
- •3.2.6.2. Принцип работы спектрографа
- •3.2.6.3. Принцип работы микрофотометра
- •3.3. Фотометрия пламени
- •3.3.1. Чувствительность анализа
- •3.3.2. Количественное определение элементов
- •3.3.3. Измерение интенсивности излучения
- •3.3.4. Методы определения концентрации растворов в фотометрии пламени
- •3.4. Методы колебательной спектроскопии. Ик-спектроскопия и спектроскопия комбинационного рассеяния
- •3.4.1. Основы методов
- •3.4.2. Спектры ик и комбинационного рассеяния (кр)
- •3.4.3. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.5. Люминесцентный анализ
- •3.5.1. Классификация и величины, характеризующие люминесцентное излучение
- •3.5.2. Основы метода
- •3.5.3. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.6. Рентгеновская спектроскопия
- •3.6.1. Основные методы
- •3.6.1.1. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом
- •3.6.1.2. Рентгеновский спектр
- •3.6.2. Рентгено-эмиссионный анализ
- •3.6.2.1. Качественный анализ
- •3.6.2.2. Количественный анализ
- •3.6.2.3. Аппаратура
- •3.6.3. Рентгенофлуоресцентный анализ
- •3.6.3.1. Основные виды рентгенофлуоресцентного анализа
- •3.6.3.2. Аппаратура метода
- •3.6.4. Рентгено-абсорбционный анализ
- •3.6.5.1. Основы метода
- •3.6.5.2. Аппаратура
- •3.7. Радиоспектроскопические методы
- •3.7.1. Основы метода
- •3.7.2. Электронный парамагнитный резонанс
- •3.7.3. Ядерно-магнитный резонанс
- •3.7.3.1. Основы метода
- •3.7.3.2. Аппаратура
- •3.7.4. Ядерный квадрупольный резонанс
- •3.7.5. Другие методы радиоспектроскопии
- •3.8. Ядерная спектроскопия
- •3.8.4. Нейтронная спектроскопия
- •3.9. Лазерная спектроскопия
- •3.10. Электронная спектроскопия
- •3.10.1. Фотоэлектронная спектроскопия
- •3.10.2. Спектроскопия характеристических потерь энергии электронов
- •3.11. Вакуумная спектроскопия
- •3.12. Ультрафиолетовая спектроскопия
- •Глава 4. Масс-спектрометрический метод анализа
- •4.1. Принцип действия масс-спектрометра
- •4.2. Виды масс-анализаторов
- •4.3. Элементный анализ
- •4.4. Интерпретация масс-спектров
- •Глава 5. Хроматографические методы
- •5.1. Классификация хроматографических методов
- •5.2. Хроматографические параметры
- •5.3. Теория хроматографического разделения
- •5.4. Теория теоретических тарелок
- •5.5. Кинетическая теория хроматографии
- •5.6. Аппаратура
- •5.7. Качественный анализ
- •5.8. Количественный анализ
- •5.9. Газовая хроматография
- •5.9.1. Газотвердофазная хроматография
- •5.9.2. Газожидкостная хроматография
- •5.10. Жидкостная хроматография
- •Глава 6. Электрохимические методы
- •6.1. Основные понятия электрохимии
- •6.1.1. Электрохимическая ячейка и ее электрический эквивалент
- •6.1.2. Индикаторный электрод и электрод сравнения
- •6.1.3. Гальванический элемент
- •6.1.4. Электрохимические системы
- •6.1.4.1. Равновесные электрохимические системы
- •6.1.4.2. Неравновесные электрохимические системы
- •6.2. Потенциометрия
- •6.2.1. Прямая потенциометрия (ионометрия)
- •6.2.2. Потенциометрическое титрование
- •6.2.3. Аппаратура
- •6.3. Кулонометрия
- •6.3.1. Прямая кулонометрия
- •6.3.2. Кулонометрическое титрование
- •6.4. Вольтамперометрия
- •6.4.1. Амперометрическое титрование
- •6.4.2. Титрование с двумя индикаторными электродами
- •6.5. Кондуктометрический метод анализа
- •Глава 7. Методы термического анализа
- •7.1. Термогравиметрия и дтг
- •7.2. Метод дифференциального термического анализа
- •7.3. Дифференциальная сканирующая калориметрия
- •7.4. Дериватография
- •7.5. Дилатометрия и другие термические методы анализа
- •Глава 8. Дифракционные методы анализа
- •8.1. Основы теории дифракции
- •8.2. Методы дифракционного анализа
- •Глава 9. Микроскопические методы анализа
- •9.1. Световая микроскопия
- •9.2. Электронная микроскопия
- •9.2.1. Растровая электронная микроскопия
- •9.2.1.1. Аппаратура метода рэм
- •9.2.1.2. Использование вторичных и отраженных электронов в рэм
- •9.2.1.3. Типы контраста в растровой электронной микроскопии
- •9.2.1.4. Выбор условий работы рэм и подготовка образцов
- •9.2.1.5. Объекты исследования и их подготовка
- •9.2.2. Просвечивающая электронная микроскопия
- •9.2.2.1. Общая характеристика пэм
- •9.2.2.2. Аппаратура метода
- •9.2.2.3. Разновидности метода пэм
- •9.3. Сканирующие зондовые методы исследования
- •9.3.1. Сканирующая туннельная микроскопия
- •9.3.2. Атомно-силовая микроскопия
- •9.3.3. Магнитосиловая зондовая микроскопия
- •9.3.4. Сканирующая микроскопия ближней оптической зоны
- •Глава 3. Спектральные методы исследования веществ .................................................................................................... 25
- •Глава 4. Масс-спектрометрический метод анализа ....................................................................................................................... 152
- •Глава 6. Электрохимические методы .............................. 193 6.1. Основные понятия электрохимии .............................................. 194
2.5. Аналитический сигнал. Измерение
Аналитическим сигналом служит среднее из измерений физиче- ской величины на заключительной стадии анализа, функционально свя- занной с содержанием определяемого компонента. Это – сила тока, ЭДС системы, оптическая плотность и т. д. Рассмотрим несколько основных методов.
Метод градуированного графика. Строят график (рис. 2.4) с ис- пользованием образцов сравнения с различным и точно известным со- держанием компонента.
Рис. 2.4. Метод градировочного графика
Метод стандартов. Измеряют сигнал в эталоном образце и в ана- лизируемой пробе
ЭТЭТ Scy ;
хх Scy , (2.20)
где S – коэффициент пропорциональности. Если S известно заранее, то Syc
хх . Обычно применяют следующую формулу:
ЭТ
ЭТx x
x
ЭТ
x
ЭТ
y cy
c c c
y y
. (2.21)
Метод ограничивающих растворов. Выбирают эталоны так, чтобы концентрации их были близки к искомому образцу. Но подобраны они таким образом, чтобы выполнялось следующее неравенство:
21 ЭТxЭТ ccc . Вычисляют искомую концентрацию по уравнению
12
112
1
ЭТЭТ
ЭТxЭТЭТ ЭТx
yy yycc
cc . (2.22)
Метод добавок. При малых количествах компонента используют метод добавок – расчетный и графический.
21
Графический: строят график (рис. 2.5), делая добавки с известной концентрацией в раствор, а затем продолжают график до координатной прямой и находят искомую концентрацию.
Рис. 2.5. Метод добавок
Расчетный
VyyVy сVy
c xдобхдобдобх
добдобx x
, (2.23)
где Vдоб и сдоб – объем и концентрация добавленного раствора, V – аликвота (объем) взятой пробы.
Метод наименьших квадратов (МНК). Сумма квадратов отклоне- ний от кривой точек должна быть минимальной.
min m
1i
2 i
.
В химическом анализе чаще всего используют прямолинейные гра- дуировочные графики
bxay ,
где 2
m
1i i
m
1i
2 i
m
1i ii
m
1i i
m
1i
2 i
m
1i i
xxm
yxxxy a ; (2.24)
2 m
1i i
m
1i
2 i
m
1i i
m
1i i
m
1i ii
xxm
yxyxm b . (2.25)
Если прямая линия проходит через начало координат xby , где 0а , то коэффициент b равен
m
1i
2 i
m
1i ii
x
yx b . (2.26)
22
Чем больше количество измерений m, тем больше точность по- строения.
Зависимость может быть выражена уравнением Sxy , где коэф- фициент чувствительности S – это значение первой производной граду- ировочной функции при данном определенном содержании. Для прямо- линейных графиков – это тангенс угла наклона прямой
23
23
12
12
cc yy
cc yy
x y
S .
Чем выше S, тем точнее можно определить одно и тоже количество
вещества. Поэтому, стремясь увеличить S, используют приемы концен- трирования, увеличения чувствительности аппаратуры, создания новых реагентов.
Обычно проводят несколько параллельных определений (3–5). Средний результат называется результатом анализа, его обозначают c или x . Отклонение от истинного содержания называют погрешностью.
Контрольные вопросы
1. Какие причины вызывают систематические и случайные ошибки анализа, грубые ошибки?
2. Как вычислить наиболее вероятную величину x, если при n измере- ниях получены значения: x1, x2, x3,..., xn?
3. Чем характеризуется случайная ошибка анализа? 4. Какие величины используют для оценки точности результата ана-
лиза? 5. Как вычислить стандартное отклонение среднего результата? 6. Что характеризует коэффициент Стьюдента tP,f? От каких факторов
зависит t-коэффициент? 7. Чему равна статистическая надежность α для серийных анализов? 8. Что такое точность измерений? 9. Чему равен доверительный интервал и что он характеризует? 10. Какие методы обнаружения грубых ошибок (промахов) используют
в математической статистике?
Тестовые вопросы к главе 2
1. Погрешность, которая в ходе измерения одной и той же величины остается постоянной или изменяется закономерным образом, назы- вается:
23
a) систематической; b) грубой; c) случайной; d) относительной.
2. С помощью относительного стандартного отклонения характери- зуют: a) правильность; b) селективность; c) воспроизводимость; d) чувствительность.
3. При нулевом методе измерений регистрируется: a) сигнал; b) величина; c) факт отсутствия сигнала.
4. Методы отклонений, нулевой и разностный относятся к методам: a) исследования; b) оценки ошибок измерений; c) измерений.
5. Отклонение интересующей нас величины от какого-либо стандарта измеряется: a) разностным методом; b) методом отклонения; c) нулевым методом.
6. Факт отсутствия сигнала измеряется: a) разностным методом; b) методом отклонения; c) нулевым методом.
7. Разброс результатов отдельных измерений вокруг среднего значе- ния: a) дисперсия; b) плотность вероятности; c) среднее квадратичное отклонение.
8. Результаты измерений лучше у того экспериментатора, у кого меньше расчетное значение: a) относительной погрешности; b) абсолютной погрешности.
9. Косвенные измерения – это такие измерения, при которых: a) применяется метод наиболее быстрого определения измеряе-
мой величины;
24
b) искомое значение величины определяют на основании резуль- татов прямых измерений других физических величин, связан- ных с искомой известной функциональной зависимостью;
c) искомое значение физической величины определяют путем сравнения с мерой этой величины.
10. Абсолютная погрешность измерения: a) абсолютное значение разности между двумя последователь-
ными результатами измерения; b) составляющая погрешности измерений, обусловленная несо-
вершенством принятого метода измерений; c) являющаяся следствием влияния отклонения в сторону какого-
либо из параметров, характеризующих условия измерения; d) разность между измеренным и действительным значением из-
меряемой величины. 11. Погрешностью результата измерений называется:
a) отклонение результатов последовательных измерений одной и той же пробы;
b) разность показаний двух разных приборов полученных на од- ной и той же пробе;
c) отклонение результатов измерений от истинного (действи- тельного) значения;
d) разность показаний двух однотипных приборов полученных на одной и той же пробе;
e) отклонение результатов измерений одной и той же пробы с помощью различных методик.
12. Систематическая погрешность: a) не зависит от значения измеряемой величины; b) зависит от значения измеряемой величины; c) составляющая погрешности, повторяющаяся в серии измере-
ний; d) разность между измеренным и действительным значением из-
меряемой величины.
25