- •Лекция №4
- •Элементы анализаторов размера частиц
- •Источник света
- •Источник света
- •Характеристики качества излучения лазеров
- •Виды лазеров
- •Виды лазеров
- •Детекторы фотонов
- •Фотоэлектронный умножитель
- •Прибор корреляции
- •Временная автокорреляционная функция
- •Корреляционная функция интенсивности рассеянного света имеет вид:
- •Система счета фотонов Photocor-PC
- •Приборы
- •Лазерное измерение размеров частиц (компания Fritsch)
- •Лазерное измерение размеров частиц (компания Fritsch)
- •Патент фирмы FRITSCH
- •Измерение обратного рассеяния
- •Модели
- •Распределение размеров частиц, измеренное прибором Analysette 22 MicroTec plus
- •Устройство и принцип работы анализатора Malvern Zetasizer Nano (компания Malvern)
- •Лазерное измерение размеров частиц и молекулярной массы (компания Malvern)
- •Лазерное измерение дзета - потенциала (компания Malvern)
- •Пределы измерений анализаторов Zetasizer Nano (компания Malvern)
- •Аттенюатор (показатель ослабления)
- •Лазерное измерение размера наночастиц (компания Horiba)
- •МОДЕЛЬ LA-300 (компания Horiba)
- •МОДЕЛЬ LA-300 (компания Horiba)
- •МОДЕЛЬ LA-950 (компания Horiba)
- •МОДЕЛЬ LA-950 (компания Horiba)
- •МОДЕЛЬ LB-550 (компания Horiba)
- •Лазерное измерение размера наночастиц (компания Beckman Coulter)
- •Модели
- •Дополнительные модули
- •Дополнительные модули
- •Лазерное измерение размеров частиц (Компания «Biomedical Systems»
- •Применение метода лазерной дифракции для исследования наноматериалов (анализатор Zetasizer Nano)
- •Применение метода лазерной дифракции для исследования наноматериалов
- •Применение метода лазерной дифракции для исследования наноматериалов
- •Пример. Цемент
- •Пример использования анализатора LB-550.
- •Применение метода лазерной дифракции для исследования наноматериалов
- •Применение метода лазерной дифракции для исследования наноматериалов
- •Значения среднего диаметра и полуширины распределений образцов КЗ-16 и КЗ-60 по данным методов
Прибор корреляции
Коррелятор Photocor - FC
Временная автокорреляционная функция
Для больших времен корреляция отсутствует, и автокорреляционная функция равна квадрату средней интенсивности рассеяния
Релаксация микроскопических флуктуаций концентрации к равновесному состоянию может быть описана первым законом Фика
12
Корреляционная функция интенсивности рассеянного света имеет вид:
Волновой вектор флуктуаций концентрации описывается выражением:
Автокорреляционная функция рассеянного света
13
Система счета фотонов Photocor-PC
Модели:
-Photocor-PC1: Автокорреляционная система с одним фотоумножителем для обычных измерений.
-Photocor-PC2: Кросскорреляционная система с двумя фотоумножителями с полным отсутствием после импульсов для повышения точности измерения размеров наночастиц в диапазоне 1нм - 10 нм (показана на фотографии).
Приборы
15
Лазерное измерение размеров частиц (компания Fritsch)
Основная конструкция
16
Лазерное измерение размеров частиц (компания Fritsch)
Инверсная конструкция Фурье
17
Патент фирмы FRITSCH
18
Измерение обратного рассеяния
19
Модели
ANALYSETTE 22 MicroTec plus
измерение частиц в диапазоне 0.08— 2000 мкм (Два полупроводниковых лазера Зеленый (λ = 532 нм, 7 мВт), ИК (λ = 940 нм, 9 мВт)
Линейная поляризация Средний срок службы 10000 часов
ANALYSETTE 22 NanoTec plus
Диспергирование в жидкой среде: 0,01 – 2000 мкм Диспергирование в сухой среде: 0,1 – 2000 мкм Возможные диапазоны измерений:
0,01 – 45 мкм / 0,08 – 45 мкм / 15 – 2000 мкм /0,01 – 2000 мкм / 0,08 – 2000 мкм Три полупроводниковых лазера
2 x зеленый (λ = 532 нм, 7 мВт),
1 x ИК (λ = 940 нм, 9 мВт) Линейная поляризация Средний срок службы 10000 часов
20