Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Сканирующая зондовая микроскопия диссертация

.pdf
Скачиваний:
62
Добавлен:
31.03.2015
Размер:
28.16 Mб
Скачать

характеризующая кинетику процесса адсорбции, снижается с ростом длины цепи полимера. Аналогичная тенденция ранее была обнаружена для взаимодействия с платиновым электродом насыщенных спиртов с различной длиной цепи [782]. В случае спиртов в ходе релаксации потенциала происходит частичная деструкция органических молекул, и на поверхности электрода образуются низкомолекулярные органические фрагменты, пики окисления которых на вольтамперограмме регистрируются при 0.8 В. Аналогичные пики были обнаружены и при циклировании электрода непосредственно после релаксационных измерений в растворах ПЭГ (рис. 236б). Кроме того, на вольтамперограммах наблюдается частичное подавление водородной области, связанное с адсорбцией ПЭГ. Грубые оценки степени заполнения поверхности ПЭГ приводят к зна-

чениям от ~0.7 (ПЭГ-600) до ~0.5 (ПЭГ-4000, 15000, 40000), что существенно выше,

чем в [780] (0.21 для ПЭГ-8000). К сожалению, выявить однозначную корреляцию между снижением заряда в водородной области и числом центров нуклеации не удалось. Оба эффекта выходят на предел с ростом длины цепи полимера, однако изменяются антибатно: число активных центров снижается, а доля свободной поверхности платины, доступная для образования адатомов водорода, растет. Таким образом, можно предположить, что эти эффекты вызваны присутствием на поверхности различных частиц, образующихся при взаимодействии ПЭГ с платиной.

а

б

Рис. 236. (а) Релаксация стационарного потенциала при разомкнутой цепи для платинированного платинового электрода в 0.5M H2SO4 и 1M HCl (4’) после введения в раствор ПЭГ при потенциале 0.4 и 0.1 В(3’). Молекулярная масса ПЭГ: 600 (1), 1000 (2), 4000 (3, 3’), 15000 (4, 4’), 40000 (5). (б) Вольтамперограммы платинированного платинового электрода, зарегистрированные в растворе 0.5М H2SO4 до (1) и после (2) введе-

ния 2.2 г/л ПЭГ-4000.

4.1.5. Электроосаждение платины в присутствии модификатора

Закономерным продолжением работ по темплатированию электролитических осадков благородных металлов с использованием внешних неорганических матриц и по «квазитемплатированию» с использованием органических полимеров стали попытки

использования дисперсии неорганических слоистых соединений для управления степе281

нью срастания и дисперсностью наночастиц металла. В гальванотехнике технология осаждения неорганических порошков и их закрепления на поверхности при одновременном катодном осаждении металла широко используется для изготовления алмазного инструмента, получения специализированных антифрикционных покрытий. В случае соосаждения слоистых частиц одновременно, например, с платиной (рис. 237) можно ожидать снижения степени срастания частиц из-за снижения количества возможных контактов между кристаллитами платины. Это неизбежно должно приводить к увеличению удельной поверхности материала. Одновременно, наличие неорганических включений в осадке не должно оказывать отрицательного влияния на каталитическую активность платины.

а

б

 

Рис. 237. Схематическое представление осадка платины, формирующегося в присутствии пластинок неорганических слоистых соединений (а), и обычного осадка платины (б).

В качестве потенциального материала, способного выступать в качестве такого модификатора, были выбраны глины (слоистые алюмосиликаты общей формулы SixAlyOp(OH)q), обладающие высокой инертностью, в том числе и в кислой среде. Возможность соосаждения таких глин при катодном нанесении никелевых покрытий была продемонстрирована в [783]. В настоящей работе в качестве темплатирующего агента использовался бентонит (Fluka Chemicals, кат.№11959) — доступный природный неорганический препарат, состоящий преимущественно из фазы монтморилонита (Na0.3(Al,Mg)2Si4O10(OH)2•4H2O). Рентгенофазовый анализ состава препарата показал, что кроме монтморилонита в его состав входят в незначительном количестве опал, кварц и кальцит. Узкие рефлексы фаз кварца и кальцита свидетельствовали об их высокой кристалличности. Таким образом, в образовании темплатирующей суспензии могут принимать участие лишь монтморилонит и опал (кальцит CaCO3, кроме того, химически неустойчив в кислой среде).

Бентонит формирует в воде суспензию, состоящую из плоских частичек размером 30–50 нм и толщиной всего в несколько нанометров [784, 785]. Действительно, СТМизмерения, после нанесения небольшого количества суспензии бентонита на поверхность HOPG и высушивания, позволяют визуализировать пластинки глины на поверх-

282

ности подложки (рис. 238). Так как пластинки глины являются изоляторами, то их визуализация методом сканирующей туннельной микроскопии возможна исключительно благодаря наличию на поверхности слоя конденсата, обеспечивающего протекание тока в зазоре, то есть микроскоп работает в режиме, приближенном к SECM (см. раздел 1.3). На СТМ-изображениях кроме пластинок бентонита (размером 20–70 нм) можно обнаружить присутствие рыхлых бесформенных образований, а все исследованные образцы HOPG c нанесенной суспензией, характеризуются высоким уровнем шумов. Все это указывает на наличие в зазоре каких-то посторонних веществ, вероятно органической природы. При попытке снизить количество примесей путем отмывки суспензии (последовательное центрифугирование и суспендирование в новой порции воды), было показано, что в результате такой обработки глина теряет способность образовывать устойчивую суспензию. Таким образом, в исследуемом образце бентонита содержится значительное количество органического поверхностно-активного стабилизатора. Фирма производитель не смогла дать информацию о природе и химическом составе стабилизатора. Термогравиметрические измерения выявили потерю массы около 4.5% связанную с выгоранием органической составляющей. Наличие органических соединений в порошке бентонита было подтверждено также с использованием спектроскопии комбинационного рассеяния, однако низкое содержание этого компонента не позволило однозначно идентифицировать ПАВ (однозначно было установлено наличие алифатических и ароматических групп, аминов).

Рис. 238. СТМ изображения поверхности HOPG после нанесения на нее суспензии бентонита в воде (0.1%).

Как показывают эксперименты с отмывкой глины, ПАВ демонстрирует выраженную склонность к переходу в раствор. Поэтому представленные ниже темплатирующие эффекты для осадков платины могут рассматриваться в первую очередь как результат

модификации их структуры в присутствии органических поверхностно-активных ве283

ществ. Это тем более вероятно потому, что методами рентгенофазового анализа, электронной и туннельной микроскопии в осадках (по крайней мере, тех, что рассмотрены ниже) не удается обнаружить существенного количества частичек глины. Как и ПЭГ, эти ПАВ не оказывают существенного влияния на электрохимические отклики платины и не снижают ее электрокаталитическую активность (наблюдается лишь незначительное искажение водородной области). Несмотря на то, что речь идет фактически о модифицировании процесса электроосаждения платины ПАВ неизвестной природы, имеет смысл ниже кратко остановиться на полученных результатах. Интерес к наноструктурированию платины в присутствии ПАВ в последние годы значительно возрос (см. например, [786]).

Потенциостатическое осаждение платины (0.1 или 0.25 В) осуществлялось на подложку из золотой фольги из раствора 0.01M Na2PtCl6+0.02M HCl, содержащего 0.2– 1.0 мас.% бентонита. Все потенциалы в настоящем разделе приведены относительно обратимого водородного электрода в 0.5М H2SO4. Масса осадка для каждого образца не превышала 1 мг (заряд осаждения около 2 Кл), поэтому погрешность оценки реальной массы осадка взвешиванием очень высока. Для получения сравнительно точных значений, как правило, производилось усреднение по 5–6 образцам, полученным в одинаковых условиях. Определение истинной поверхности платины SH осуществлялось вольтамперометрически (100 мВ/с, 0.06–1.24В) в 0.5М H2SO4 по заряду водородной области. Тестирование электрокаталитических свойств осадка проводилось на примере реакции электроокисления метанола в растворе 0.1M CH3OH+0.5M H2SO4.

Как и в случае ПЭГ, введение в раствор осаждения платины бентонита приводит к снижению тока (рис. 239), более выраженному при потенциале 0.25В. При этом для стандартного раствора, не содержащего добавки глины, ток потенциостатического осаждения от потенциала фактически не зависит. Это может косвенно указывать на изменение лимитирующей стадии процесса осаждения в присутствии добавки. Выход по току процесса осаждения составил 70–100%, что с учетом малой массы осадка, хорошо согласуется со значениями, полученными в [752].

Вольтамперометрические измерения для электродов, осажденных при 0,25В (рис. 240), наглядно показывают, что при введении в раствор осаждения глины происходит значительное увеличение истинной поверхности. Для образцов, полученных при 0.1В, увеличение поверхности не столь выражено (табл. 11). С увеличением концентрации бентонита (и, соответственно, ПАВ) водородная область на кривой начинает подавляться, происходит частичное отравление платины. Поэтому в дальнейшем подробно изучались только образцы, полученные при осаждении в растворе, содержащем 0.2% глины.

284

Табл. 11. Параметры осадков платины, полученных в стандартных условиях и в присутствии бентонита

Потенциал

Концентрация

Истинная

Удельная

Степень

Средний размер частиц, нм

осаждения,

бентонита

поверхность,

поверхность,

срастания

 

 

 

В

 

см2

 

м2

 

 

 

 

 

 

 

SH

 

СТМ

 

XRD

СТМ

средне-

 

 

 

 

 

 

0.35-0.54

 

 

масс.

0,25

84-100

11-

 

20-24

12,2±0,9

11,7±0,3

13,6±0,5

 

 

 

13

 

 

0.04-0.16

 

 

 

0,25

0,2%

143-159

20-

 

24

9,0±0,6

10,5±0,1

11,3±0,7

 

 

 

23

 

 

0.35-0.5

 

 

 

0,1

92-118

12-

 

23-24

10,7±0,7

10,7±0,3

12,5±0,5

 

 

 

15

 

 

0.29-0.42

 

 

 

0,1

0,2%

140-174

14-

 

24

9,7±0,7

10,0±0,3

13,6±0,4

 

 

 

17

 

 

 

 

 

 

Осадки, полученные в присутствии модификатора, характеризуются несколько худшей адгезией (аналогичная тенденция отмечалась и при осаждении палладия в присутствии ПЭГ или ПВП). Косвенно это может свидетельствовать о снижении степени срастания кристаллитов в осадке. Наиболее сильно растрескивание выражено для образцов полученных при 0.25 В (рис. 241). Введение в раствор осаждения бентонита приводит к получению более гладких осадков с более равномерной морфологией (рис. 242). Лишь для осадков, полученных в растворах с большим содержанием глины, удается обнаружить на поверхности небольшое количество включений, представляющих собой сростки алюмосиликатов1. Локальный рентгено-спектральный анализ участков поверхности, не содержащих таких включений, не показал присутствия значимого количества кремния и алюминия в осадке. Методом рентгенофазового анализа также не удалось обнаружить в осадке присутствия значимых количеств монтморилонита.

i, мА

t, с

Рис. 239. Потенциостатические транзиенты осаждения платины в растворе 0.01M Na2PtCl6+0.02M HCl (1, 2) и в присутствии 0.2% бентонита (3,4) при потенциалах 0.1 (1, 3) и 0.25 В (2, 4).

1Нужно отметить, что разрешение метода сканирующей электронной микроскопии заведомо недостаточно для обнаружения в составе осадка единичных пластинок глины.

285

а

б

Рис. 240. Вольтамперограммы электродов, полученных при потенциалах 0,25 (1–4) и 0.1 В (5, 6), в обычном растворе осаждения (1, 5), и в растворе с добавками 0.2% (2, 6), 0.5% (3) и 1.0% (4) бентонита.

a

б

Рис. 241. Электронно-микроскопические изображения поверхности электродов, полученных при потенциалах 0.1 (а) и 0.25 В (б) в присутствии бентонита.

a

б

Рис. 242. Электронно-микроскопические изображения поверхности электродов, полученных при потенциале 0.1 В в обычном растворе (а) и в присутствии бентонита (б).

Существенных отличий в микроструктуре материалов, полученных в обычных условиях и в присутствии глины, с использованием метода СТМ не было обнаружено. Все образцы состоят из наноразмерных кристаллитов платины близких размеров (рис. 243). Анализ размерных распределений (рис. 244) показывает, что введение в раствор осаждения бентонита приводит к незначительному уменьшению средних размеров кристаллитов (табл. 11). Средний размер оценивался путем аппроксимации эксперимен-

286

тального распределения гауссовой зависимостью. Отмечено некоторое сужение распределения для образца, полученного в присутствии глины при потенциале 0.25 В.

С использованием экспериментальных распределений была рассчитана ожидаемая площадь поверхности электродов в предположении об отсутствии срастания кристалитов SSTM. С учетом экспериментально определенной из электрохимических данных удельной площади SH может быть оценена доля свободной поверхности кристаллитов SH/SSTM, а также степень срастания, то есть доля поверхности, «потерянная» из-за срастания кристаллитов и не принимающая участия в электрохимическом процессе: 1 – SH/SSTM. Степень срастания обычных осадков платины составляет 0.5–0.7 [741], в то же время, для образца, полученного в присутствии глины при 0.25 В эта величина ничтожна (табл. 11). Несмотря на не очень высокую адгезию, такие образцы достаточно стабильны, поэтому полученная величина степени срастания, вероятно, несколько недооценена. Однако тенденция к снижению степени срастания при введении в раствор модификатора прослеживается однозначно (для образцов, осажденных при 0.1 В она менее выражена).

a

б

в

г

Рис. 243. Типичные СТМ изображения поверхности электродов, полученных при потенциалах 0,1 (а,в) и 0.25 В (б, г) в обычном растворе (а, б) и в присутствии 0.2% бентонита (в, г).

287

N

N

50

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

a

50

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

б

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

40

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

40

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

30

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

30

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

N

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

20

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

20

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

10

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

10

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

6

 

 

8

10

12

14

 

16

18

20

22

24

 

6

8

 

 

 

10

12

 

 

14

 

16

 

18

20

22

24

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

D, нм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

D, нм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

20

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

в

40

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

г

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

15

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

30

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

10

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

N

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

5

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

20

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

10

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

6

 

 

8

10

12

 

14

 

16

18

20

22

24

 

6

8

 

 

10

12

 

14

16

18

20

22

24

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

D, нм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

D, нм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Рис. 244. Размерные распределения, расчитанные из СТМ-изображений для электродов, полученных при потенциалах 0,1 (а,в) и 0.25 В (б, г) в обычном растворе (а, б) и в присутствии 0.2% бентонита (в, г).

В таблице 11 приведены также размеры кристаллитов, оцененные по приближенной формуле Шеррера из интегрального уширения пика (111) платины на дифрактограмме [787, 788]. Для прямого сопоставления этих результатов с данными СТМ из последних были рассчитаны среднемассовые распределения и оценен среднемассовый размер частиц (аппроксимации гауссовым и логнормальным распределениями). Из табл. 11 хорошо видно, что наблюдается систематическое завышение размеров, оцениваемых из СТМ-данных, что может быть связано с искажением размеров частиц, вызванным не идеальностью острия зонда (см. разд. 2.3). Выше уже отмечалась аналогичная тенденция для осадков и платины и палладия, не содержащих темплатирующего компонента. Также нельзя исключить и такие аппаратные эффекты, как неточность калибровки на малых размерах кадра, связанная с гистерезисом пьезокерамики сканера. Это завышение размеров должно закономерно приводить к занижению эффективной поверхности и степени срастания. Тем не менее, все отмеченные выше тенденции к увеличению дисперсности материала и снижению степени срастания кристаллитов не зависят от наличия или отсутствия таких искажений. Анализ дифрактограмм лишь подтвердил эти тенденции.

Осадки, полученные в присутствии глины, продемонстрировали более высокую удельную каталитическую активность в реакции электроокисления метанола (рис. 245),

288

по крайней мере, в области потенциалов 0,54–0,64 В. Кроме того, нужно отметить несколько более высокую активность материалов, синтезированных при потенциале 0.1В. Этот эффект можно связать с изменением в структуре поверхности кристаллитов платины, в первую очередь, дефектности. Выше уже было показано, что при осаждении палладия в присутствии полиэтиленгликоля или поливинилпирролидона происходит значительный рост дефектности осадка, приводящий к аномально высокой сорбционной емкости.

Осадки, полученные с использованием модификатора и без него, демонстрируют приблизительно одинаковую скорость старения при потенциодинамической обработке (см. методику такого тестирования в [789, 790]) (рис. 246). Таким образом, несмотря на предполагаемые различия в дефектности осадка, скорость реконструкции поверхности остается приблизительно одинаковой.

Рис. 245. Участки стационарных поляризационных зависимостей электродов, полученных при потенциалах 0,1 (1,2) и 0.25 В (3,4) в отсутствие (1,3) и в присутствии (2,4) бентонита, зарегистрированные в растворе 0.1M CH3OH+0.5M H2SO4. Величина тока нормирована на истинную поверхность.

Рис. 246. Снижение истинной поверхности электродов, полученных при потенциале 0.25В в отсутствие (1) и в присутствии (2) бентонита, в ходе продолжительного циклирования (20мВ/с, 0.06–1.4 В) в растворе 0.5М H2SO4.

289

4.1.6. Метод СТМ в исследовании дисперсных электроосажденных материалов

Представленные выше экспериментальные данные наглядно демонстрируют, что метрологические характеристики метода СТМ недостаточны для однозначного анализа размеров частиц в осадках платиновых металлов. Близость радиусов кривизны зонда и частиц в осадке приводит к некоторому завышению измеряемых размеров частиц, причем эти искажения существенно возрастают для дендритных осадков (с большими перепадами высот в пределах кадра). К сожалению, рентгено-дифракционный метод определения размеров также не является абсолютно однозначным. С этой точки зрения наиболее точную информацию о размерных распределениях частиц может дать только просвечивающая электронная микроскопия, но ее использование для анализа массивных осадков требует его диспергирования. В то же время, как метод СТМ, так и рент- гено-дифракционный метод демонстрируют хорошее согласие в воспроизведении качественных тенденций изменения дисперсности материала при варьировании условий его получения. При этом метод СТМ остается наиболее доступным и оперативным методом неразрушающего контроля дисперсности осадков.

Для всех исследованных материалов прямой контроль среднего размера частиц и их размерного распределения обеспечивает мостик, связывающий электрокаталитические и электрохимические свойства осадка с условиями его получения. Информация, которая может быть получена исключительно из электрохимических откликов материала, отражает совокупное влияние, как изменения размера частиц, так и степени их срастания, дефектности осадка. Именно контроль дисперсности позволяет разделить вклады этих эффектов на электрохимические отклики, и тем самым открывает путь к прогнозированию и направленной модификации свойств материала. Одновременно, контроль размерных распределений позволяет оценить влияние тех или иных факторов на этапе осаждения на соотношение скоростей процессов вторичной нуклеации и роста кристаллитов металла, тем самым, помогая косвенно оценивать кинетику нуклеации и роста в данных системах.

Зондовой микроскопия является, фактически, единственным методом, позволяющим анализировать количество, размеры и свойства наноразмерных кластеров металла, формирующихся на начальных стадиях электроосаждения. Применение метода СТМ для анализа начальных стадий электрокристаллизации будет кратко рассмотрено в следующем разделе.

290