ВОПРОСЫ К ЭКЗАМЕНУ 2000

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЕ ВОПРОСЫ ПО КУРСУ

«ПРОЕКТИРОВАНИЕ ПОЛУЗАКАЗНЫХ ИС»

ЭКТ 54-55, 56М

1. Проектирование стандартными ячейками. Фактор качества.

2. Основные тождества математической логики в проектировании ЦИС. Примеры реализации на БМК и ПЛМ.

3. Элементы памяти на БМК. DC-триггер на библиотечной ячейке (БЯ).

4. Построение синхронных устройств.

5. Асинхронный принцип построения схем.

6. Апериодические схемы.

7. Логические состязания статического и динамического типа.

8. Функциональные состязания. Модель Эйхельберга.

9. Функциональные состязания. Модель Бредесона – Хулина.

10. Функциональные состязания. Модель Якубайтиса.

11. Функциональные состязания. Модель Хоффмена.

12. Абстрактные автоматы. Задание автоматов. Автоматы Мили.

13. Абстрактные автоматы. Задание автоматов. Автоматы Мура.

14. Структурные автоматы.

15. ПЗУ на БМК.

16. Элементы памяти ОЗУ на БМК.

17. ПЛМ, вентили и матрицы логики.

18. ПЛМ с памятью, ПЗУ на ПЛМ.

19. Мультиплексоры на ПЛМ.

20. АЛУ на ПЛМ.

21. Тестопригодность. Понятие о неисправностях, тестах, моделирование неисправностей.

22. Управляемость. Коэффициент передачи управляемости.

23. Вычисление управляемости.

24. Наблюдаемость. Коэффициент передачи наблюдаемости.

25. Вычисление наблюдаемости.

26. Операция расширения для функции n- переменных.

27. Наблюдаемость входа.

28. Наблюдаемость. Ветвление выхода.

29. Наблюдаемость. Сходящиеся ветвления.

30. Наблюдаемость. Схемы с обратными связями.

31. Вычисление тестопригодности.

32. Структурное проектирование. Сканируемый путь.

33. Вычисление тестопригодности схем с памятью.

34. Топологические задачи при проектировании тестопригодных полузаказных схем.

35. Тестопригодность и ремонтопригодность полузаказных ИМС памяти.

36. Особенности БМК для аналоговых ИМС.