Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Архив1 / docx54 / отчет(1).docx
Скачиваний:
23
Добавлен:
01.08.2013
Размер:
151.31 Кб
Скачать

1. Технические условия на испытуемое изделие.

Испытанию на воздействие верхнего значения температуры среды подвергаются микросхемы К155ЛА3.

Рис.1 Условное обозначение микросхемы К155ЛА3

Электрические параметры:

Номинальное напряжение питания 5В ± 5%;

Выходное напряжение высокого уровня не менее 2,4В;

Выходное напряжение низкого уровня не более 0,4В;

Ток потребления логической 1 не более 20мА;

Ток потребления логического 0 не более 10мА;

Интервал рабочих температур -10…+70 °С.

2. Структурная схема измерений.

Для проведения испытаний на воздействие верхнего значения температуры среды при эксплуатации использовали следующее оборудование:

- Камера тепла ZN-69;

- Вольтметр цифровой В7-16А;

- Коммутатор.

- Термометр

Структурная схема измерений представлена на рис.2

Комплект микросхем

К155ЛА3

Вольтметр цифровой

В7-16А

Камера тепла

ZN-69

Термометр

Рис.2 Структурная схема измерений

3. Методика проведения испытаний на воздействие верхнего значения температуры среды при эксплуатации.

3.1 Изделия, отобранные для испытаний, удовлетворяющие техническим условиям по внешнему виду и значениям контролируемых параметров помещают в камеру таким образом, чтобы обеспечить свободную циркуляцию воздуха между изделием и стенками камеры (не менее 100 мм).

3.2 К изделию подключается электрическая нагрузка и контрольно-измерительные приборы, проводится замер контрольных параметров, (напряжение логического 0 и 1).

3.3 Устанавливают в камере температуру, соответствующую верхнему значению температуры среды при эксплуатации (t=55C по IV степени жесткости).

Изделие выдерживают в камере при данной температуре до достижения теплового равновесия. Снимают зависимость изменения температуры в камере от времени.

3.4 К концу выдержки производят замер параметров без извлечения изделия из камеры. По окончании измерений изделие извлекают из камеры и следует период восстановления в нормальных климатических условиях в течение такого же времени как и при испытаниях.

В конце периода выдержки производится внешний осмотр и замер электрических параметров. Изделие считается выдержавшим испытания, если оно удовлетворяет всем требованиям стандартов и технических условий.

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

ПОВОЛЖСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ

Кафедра КиПР

Отчет по лабораторной работе №1

«Испытание РЭА и ЭВА на воздействие верхнего значения температуры окружающей среды при эксплуатации»

по дисциплине: методы и устройства испытаний ЭВС

Выполнили: ст. гр.ЭВС-51

Суринов А.В.

Москвичев А.Н.

Дмитриев К.Е.

Проверил: ст преподаватель

Любшин В.А.

Йошкар-Ола

2012 г

Соседние файлы в папке docx54