- •Методические указания к выполнению
- •Статические погрешности циу.Абсолютное значениестатической погрешностиЦиу может быть определено по формуле
- •2 Экспериментальное определение метрологических характеристик цифрового вольтметра (цв)
- •Инструментальная погрешность. Инструментальная погрешность определяется для конкретного показания Uхi цв по различию идеальной и реальной характеристик (см. Рис.1)
- •Инструкции по выполнению эксперимента
- •Определение случайной и систематической погрешностей вольтметра
- •Определение погрешности квантования вольтметра
- •Определение инструментальной погрешности вольтметра
Методические указания к выполнению
Виртуальной лабораторной работы 1
“Определение основной погрешности цифрового вольтметра”
Цель работы
Изучить способы экспериментального определения метрологических характеристик цифрового вольтметра.
Экспериментально определить метрологические характеристики цифрового вольтметра.
Задание на работу
Экспериментально определить метрологические характеристики цифрового вольтметра:
Среднеквадратическое отклонение случайной погрешности
Предельные значения погрешности
Статическую характеристику преобразования
Погрешность квантования
3 Аддитивную и мультипликативные составляющие систематической погрешности
5. Инструментальную погрешность и ее составляющие
Теоретические сведения
1 Метрологические характеристики цифровых измерительных устройств
Статическая характеристика преобразования. Эта характеристика ЦИУ устанавливает связь между преобразуемой (входной) величиной X и результатом преобразования, за который принимается значение Nq, где N - значение выходного кода, q - квант. Для идеального ЦИУ характеристика преобразования имеет вид показанный на рис. 1 и получена при квантовании путем отождествления с ближайшем уровнем квантования. Изменения значений кода идеального ЦИУ со значений N-1 на N происходят при фиксированных значениях входной величины равных (N-0,5)q, где N - целое число.
Статическая характеристика определяется значением единицы младшего разряда кода, равной кванту q . Значение q может быть найдено при заданном диапазоне измерения (Xмin, Xmax), числе разрядов выходного кода n по формуле для АЦП q = (Xmax - Xмin ) / 2n или q = (Xмin - Xmax) / 10n для цифрового прибора.
Характеристика реального ЦИУ отличается от идеальной. Различие проявляется в том, что изменение значений выходного кода ЦИУ происходит при отличных от идеального случая значениях входной величины. Причина этого – наличие инструментальных погрешностей ЦИУ. Инструментальная погрешность определяется для некоторого значения выходного кода N (см. рис.1) по отличию реальной характеристики ЦИУ от идеальной
Xи(N)= (N-0.5)q – ХкN,
где ХкN – значение входной величины, при котором значение кода меняется со значения N - 1 на N.
Рис. 1 Статическая характеристика преобразования ЦИУ
Статические погрешности циу.Абсолютное значениестатической погрешностиЦиу может быть определено по формуле
X = Xр - X = Nq - X,
где Xр= Nq – результат измерения, N - выходной код ЦИУ, q - квант, X – истинное значение измеряемой величины.
В соответствии с принятой классификацией погрешности делятся на отдельные составляющие. По причинам возникновения погрешности делятся на методические и инструментальные. К методическим погрешностямотносят погрешности, обусловленные несовершенством принятого метода измерения (погрешность квантования по уровню), подинструментальными–погрешности обусловленные несовершенством технической реализации ЦИУ.
Погрешность квантования при произвольном входном сигнале рассматривается как случайная величина. В качестве характеристик погрешности квантования используются предельные значения, среднеквадратическое отклонение погрешности.
Для идеального ЦИУ квантование осуществляется путем отождествления с ближайшим или равным уровнем квантования, погрешность квантования имеет равномерную плотность распределения на интервале [-q/2;+q/2], среднеквадратическое отклонение погрешности равно q/(23). Предельные значения абсолютной погрешности квантования равно X = q/2, Приведенная погрешность квантования при заданном числе разрядов АЦП n равна = (100/2n+1) % , а для ЦИП при числе разрядов m десятичного ЦОУ = (100/2 10m) %.
В зависимости от характера изменения погрешности по диапазону измерения СИ погрешности делятся на аддитивные и мультипликативные. Аддитивные погрешности не зависят от значения измеряемой величины X, мультипликативные растут с увеличением X. Обычно для CИ погрешность задается в виде модели
X = a + bX
где a и bX - аддитивная и мультипликативная составляющая погрешности соответственно.
По характеру изменения погрешности при повторных измерениях одного и того же значения погрешности делятся на систематические и случайные. Систематические остаются постоянными или меняются закономерным образом, значения случайных погрешностей можно предсказать с некоторой вероятностью. В общем случае погрешность является случайной величиной и ее можно представить в виде
X = Xсист + Xсл
где=M[X] – систематическая погрешность (математическое ожидание погрешности); – случайная составляющая погрешности.
Для оценки значений погрешности как случайной величины применяются характеристики: среднеквадратическое отклонение погрешности (СКО) (корень квадратный из дисперсии); доверительный интервал, задаваемый верхней и нижней границами и доверительная вероятность , связанные соотношением, гдеP{ }–вероятность выполнения неравенства в { }.
При =1 и симметричном относительно нулевого значения доверительном интервалев качестве характеристики погрешности используется граничные (предельные) значения погрешности равные.