- •Министерство образования и науки рф
- •Тольяттинский государственный университет
- •Позднов м.В.
- •Описание электронных приборов и устройств
- •1. Описание системы генератор- осциллограф pcs500/pcg10. 5
- •1.2. Блок источников питания
- •1.3. Осциллограф
- •1.4. Универсальный функциональный генератор
- •2. Работа с программой pc Lab 2000
- •2.1. Общие положения
- •2.2. Работа в режиме осциилографа
- •2.2.1 Основные режимы и управление ими
- •2.2.2. Действия по записи временного сигнала на осциллографе
- •2.2.3. Рекомендации при настройке и измерении.
- •2.2.4. Действия по записи фазовой диаграммы в координатах yx на осциллографе
- •2.2.4 Описание меню в режиме Oscilloscope.
- •2.3. Работа в режиме анализатора спектра
- •2.3.1. Описание меню режима Spectrum Analyzer
- •2.3.2. Действия по определению спектра произвольного периодического сигнала методом бпф(fft)
- •2.4. Работа в режиме регистратора переходных процессов
- •2.5. Работа в режиме функционального генератора
- •2.5.1 Для запуска генератора с заданными параметрами сигнала нужно:
- •2.5.2 Настройка генератора на заданный сигнал
- •2.6. Работа в режиме анализатора электрических цепей
- •5. Описание системы сбора данных прибора Ла-2usb-12у фирмы Шиляев-Руднев.
- •5.1. Назначение и область применения прибора Ла-2usb-12у.
- •5.2 Параметры:
- •5.3. Описание прибора и принципов его работы
- •5.4. Подготовка прибора к работе.
- •6. Работа с программой обработки данныхAdclAbЛа-2usb-12у фирмы Шиляев-Руднев.
- •6.1.Элементы управления главного окна
- •6.2.Окно настроек.
- •6.3 Окно осциллографа.
- •6. Описание работы осциллографов gds-71102, gds-2064 фирмы instek
- •6.1. Общее описание и характеристики
- •6.2. Описание приемов работы с gds-71102
- •8. Описание цифрового измерителя иммитансаE7-22 и принципов работы с ним.
- •8.1. Общее описание и характеристики
- •8.2. Режимы измерения и погрешности.
- •8.3. Назначение органов управления и индикации.
- •Мin →мах → мin-маx→ аvg → выкл → min
- •8.4 Порядок эксплуатации
- •8.4.1. Указание мер безопасности
- •8.4.2 Рекомендации по выбору режимов измерений
- •8.4.3. Подготовка к проведению измерений
- •8.4.10. Установка программных параметров
- •8.5. Режимы установки параметров измерения
- •8.5.1. Калибровка «короткого замыкания» (к3) и «холостого хода» (хх)
- •8.5.2. Установка верхнего и нижнего допускового предела
- •8.5.3. Установка параметров измерения относительного отклонения
- •8.5.4. Установка опорного значения для режима относительных измерений
- •8.5.5. Порядок набора числовых значений
- •8.6. Режимы проведения измерений
- •8.6.1. Режим относительных измерений.
- •8.6.2. Контроль верхнего и нижнего допускового предела.
- •8.6.3. Режим контроля при измерении относительных отклонений.
- •8.7. Программное обеспечениеVirtualMeter
8.2. Режимы измерения и погрешности.
Погрешности нормируются при следующих условиях эксплуатации:
температура окружающей среды (23 ± 5) ºС;
относительная влажность ≤80%;
номинальное значение напряжения питания (отсутствует индикация разряда батареи).
В таблицах 3.2 – 3.5 указаны абсолютные погрешности.
RИЗМ – измеренное значение (отображаемое на дисплее прибора),
Ед. младшего разряда – единицы младшего разряда, определяемые решением, для каждого конкретного предела измерения.
8.2.1 Режим измерения сопротивлений
Частота сигнала |
Пределы измерений |
Разрешение |
Погрешность измерения |
Примечания |
120Гц |
20 Ом |
1 мОм |
±(0,02Rизм+8ед.мл.разряда (ЕМР)) |
После калибр. КЗ |
200 Ом |
10 мОм |
±(0,008Rизм+5ЕМР) | ||
2 кОм |
100 мОм |
±(0,005Rизм+3ЕМР) |
| |
20 кОм |
1 Ом | |||
200 кОм |
10 Ом | |||
2 МОм |
100 Ом |
±(0,005Rизм+5ЕМР) |
После калибр. ХХ | |
10 МОм |
1 кОм |
±(0,012Rизм+8ЕМР) | ||
1кГц |
20 Ом |
1 мОм |
±(0,02Rизм+8ед.мл.разряда (ЕМР)) |
После калибр. КЗ |
200 Ом |
10 мОм |
±(0,005Rизм+5ЕМР) | ||
2 кОм |
100 мОм |
±(0,005Rизм+3ЕМР) |
| |
20 кОм |
1 Ом | |||
200 кОм |
10 Ом | |||
2 МОм |
100 Ом |
±(0,008Rизм+5ЕМР) |
После калибр. ХХ | |
10 Мом |
1 кОм |
±(0,012Rизм+8ЕМР) |
Приведем примеры оценки погрешностей при измерении сопротивления.
На пределе 200Ом при частоте сигнала 120 Гц, прибор индуцирует Rизм=2Ом.
По таблице на пределе 200 Ом разрешение 10мОм, значит ЕМЛ равна 0,01 Ом.
Из формулы для этого случая Δ=±(0,008Rизм+5ЕМР)= ±(0,008*2+5*0,01)=0,066 Ом.
Относительная погрешность измерения =Δ/Rизм=0,066/2=0,033=3,3%.
Приведем еще пример.
Пусть на том же пределе 200Ом при частоте сигнала 120 Гц, прибор индуцирует Rизм=200Ом.
По таблице на пределе 200 Ом разрешение 10мОм, значит ЕМЛ равна 0,01 Ом.
Из формулы для этого случая Δ=±(0,008Rизм+5ЕМР)= ±(0,008*200+5*0,01)=1,65 Ом.
Относительная погрешность измерения =Δ/Rизм=1,65/200=0,0083=0,83%.
Это косвенно показывает, что необходимо при измерении выбирать предел измерения как можно более близкий к измеряемой величине. Так в первом случае можно было выбрать диапазон в 20 Ом и относительная погрешность составила бы =±(0,02Rизм+8ЕМР)/Rизм= ±(0,02*2+8*0,001)/2= 2,4% вместо 3,3%.
8.2.2 Режим измерения емкостей
Таблица - погрешности при измерении емкостей и их добротностей.
Частота |
Пределы измерений |
Разрешение |
Величина |
Погрешность измерения |
Примечания |
120 Гц |
20 нФ |
1 пФ |
С |
±(0,01·СИЗМ + 5 ед.мл. разряда) |
После калибровки ХХ |
D |
±(0,02·DИЗМ + 100/СХ + 5 ед.мл. разряда) | ||||
200 нФ |
10 пФ |
C |
±(0,007·СИЗМ + 5 ед.мл. разряда) | ||
D |
±(0,007·DИЗМ + 100/СХ + 5 ед.мл. разряда) | ||||
2000 нФ 20 мкФ 200 мкФ |
100 пФ 1 нФ 10 нФ |
C |
±(0,007·СИЗМ + 3 ед.мл. разряда) |
| |
D |
±(0,007·DИЗМ + 100/СХ + 5 ед.мл. разряда) | ||||
2000 мкФ |
100 нФ |
С |
±(0,01·СИЗМ + 5 ед.мл. разряда) |
После калибровки КЗ | |
D |
±(0,02·DИЗМ + 100/СХ + 5 ед.мл. разряда) | ||||
20 мФ |
1 мкФ |
C |
±(0,05·СИЗМ + 5 ед.мл. разряда) | ||
D |
±(0,1·DИЗМ + 100/СХ + 5 ед.мл. разряда) | ||||
1 кГц |
20 нФ |
1 пФ |
С |
±(0,01·СИЗМ + 5 ед.мл. разряда) |
После калибровки ХХ |
D |
±(0,02·DИЗМ + 100/СХ + 5 ед.мл. разряда) | ||||
200 нФ |
10 пФ |
C |
±(0,007·СИЗМ + 5 ед.мл. разряда) | ||
D |
±(0,007·DИЗМ + 100/СХ + 5 ед.мл. разряда) | ||||
2000 нФ 20 мкФ 200 мкФ |
100 пФ 1 нФ 10 нФ |
C |
±(0,007·СИЗМ + 3 ед.мл. разряда) |
| |
D |
±(0,007·DИЗМ + 100/СХ + 5 ед.мл. разряда) | ||||
2000 мкФ |
100 нФ |
С |
±(0,01·СИЗМ + 3 ед.мл. разряда) |
После калибровки КЗ | |
D |
±(0,02·DИЗМ + 100/СХ + 5 ед.мл. разряда) | ||||
20 мФ |
1 мкФ |
C |
±(0,05·СИЗМ + 5 ед.мл. разряда) | ||
D |
±(0,1·DИЗМ + 100/СХ + 5 ед.мл. разряда) |
Примечания:
1. Погрешности нормируются для тангенса угла потерь D ≤ 0,1.
2. Если D > 0, 1, погрешности дополнительно умножаются на .
3. Сизм и Dизм значения емкости и тангенса угла, отображаемые на ЖКИ с учетом единиц измерения.
4. СХ цифровое безразмерное значение отображаемой величины без учета десятичной точки.
Например: на ЖКИ отображается величина 18.888 мкФ. Сизм = 18,888 мкФ; СХ = 18888
5. Для соблюдения указанной погрешности измерении, при измерении на пределе «2000 пФ», рекомендуется подключить измеряемый элемент через «ножевые» зажимы, расположенные на передней панели прибора.
8.2.3. Режим измерения индуктивностей
Таблица – погрешности при измерении индуктивностей и их добротностей.
Частота |
Пределы измерений |
Разрешение |
|
Погрешность измерения |
Примечания |
120 Гц |
20 мГн |
1 мкГн |
L |
±(0,02·LИЗМ + LX/10000 + 5 ед.мл. разряда) |
После калибровки КЗ |
D |
±(0,1·DИЗМ + 100/LX + 5 ед.мл. разряда) | ||||
200 мГн |
10 мкГн |
L |
±(0,01·LИЗМ + LX/10000 + 5 ед.мл. разряда) | ||
D |
±(0,03·DИЗМ + 100/LX + 5 ед.мл. разряда) | ||||
2000 мГн 20 Гн 200 Гн |
100мкГн 1 мГн 10 мГн |
L |
±(0,0007·LИЗМ + LX/10000 + 5 ед.мл. разряда) |
| |
D |
±(0,012·DИЗМ + 100/LX + 5 ед.мл. разряда) | ||||
2000 Гн |
100 мГн |
L |
±(0,01·LИЗМ + LX/10000 + 5 ед.мл. разряда) |
После калибровки ХХ | |
D |
±(0,02·DИЗМ + 100/LX + 5 ед.мл. разряда) | ||||
20000 Гн |
1 Гн |
L |
Не нормируется | ||
D |
Не нормируется | ||||
1 кГц |
2 мГн |
0,1 мкГн |
L |
±(0,01·LИЗМ + LX/10000 + 5 ед.мл. разряда) |
После калибровки КЗ |
D |
±(0,02·DИЗМ + 100/LX + 5 ед.мл. разряда) | ||||
20 мГн |
1 мкГн |
L |
±(0,01·LИЗМ + LX/10000 + 5 ед.мл. разряда) | ||
D |
±(0,0007·DИЗМ + 100/LX + 5 ед.мл. разряда) | ||||
200 мГн 2 Гн 20 Гн |
10 мкГн 100 мкГн 1 мГн |
L |
±(0,0007·LИЗМ + LX/10000 + 5 ед.мл. разряда) |
| |
D |
±(0,012·DИЗМ + 100/LX + 5 ед.мл. разряда) | ||||
200 Гн |
10 мГн |
L |
±(0,01·LИЗМ + LX/10000 + 5 ед.мл. разряда) |
После калибровки ХХ | |
D |
±(0,012·DИЗМ + 100/LX + 5 ед.мл. разряда) | ||||
2000 Гн |
100 мГн |
L |
Не нормируется | ||
D |
Не нормируется |
Примечания:
1. Погрешности нормируются для тангенса угла потерь D ≤ 0,5.
2. Lизм и Dизм - значения индуктивности и тангенса угла, отображаемые на ЖКИ с учетом единиц измерении.
3. Lх - цифровое безразмерное значение отображаемой величины без учета десятичной точки.
Например: на ЖКИ отображается величина 18,888 мГн. Lизм= 18,888 мГн; Lx= 18888.
4. Для соблюдения указанной погрешности измерения, при измерении на пределе «2 мГн», рекомендуется подключать измеряемый.
АРАКТЕРИСТИКИ