- •Содержание
- •Назначение.
- •Принципиальная схема уим.
- •Конструкция уим.
- •Оптическая схема и принцип действия.
- •Технические характеристики уим.
- •Погрешность измерения уим.
- •Руководство по работе на универсальном измерительном микроскопе.
- •Технические требования.
- •Методы испытаний.
- •Маркировка, упаковка, транспортирование и хранение.
- •Приложение Методы и средства поверки.
- •1. Условия поверки и подготовка к ней.
- •2. Проведение поверки.
- •2.1. Внешний осмотр.
- •2.2. Опробование.
- •2.2.1. Проверка взаимодействия узлов микроскопа.
- •Проверка принадлежностей микроскопа.
- •2.3. Определение метрологических параметров.
- •2.3.1. Определение отклонения от прямолинейности направления движения каретки продольного перемещения.
- •2.3.2. Определение отклонения от прямолинейности направления движения каретки поперечного перемещения.
- •Проверка совпадения плоскостей передней и задней опорных поверхностей каретки продольного перемещения.
- •Определение усилия сдвига кареток.
- •Определение отклонения от перпендикулярности направлений движения кареток продольного и поперечного перемещения.
- •Определение соответствия показаний шкалы колонки действительным значениям углов ее наклона.
- •Определение смещения изображения лезвия ножа при наклоне колонки на 12˚30' в обе стороны от вертикального положения.
- •Определение соответствия длины участка между крайними линиями штриховой сетки угломерной головки при различных увеличениях объективов длине участка изображения образцовой шкалы.
- •Определение отклонения от параллельности горизонтальной линии штриховой сетки угломерной головки визирной системы направлению движения каретки продольного перемещения.
- •Определение несовпадения точки пересечения штриховой линии сетки угломерной головки с осью ее вращения.
- •2.3.12. Определение качества изображения в поле зрения бинокулярной насадки.
- •Определение разности увеличений правого и левого микроскопов бинокулярной насадки.
- •Определение отклонения от параллельности осей окуляров бинокулярной насадки.
- •Определение разности углов поворота изображения вокруг оптической оси двух оптических систем бинокулярной насадки.
- •Определение соответствия изображения одного деления градусной шкалы изображению всего участка минутной шкалы.
- •Определение правильности ориентировки изображения штрихов минутной шкалы относительно изображения штрихов лимба.
- •Определение погрешности угломерной головки.
- •Определение радиального биения скалок при любом их вылете относительно бабок.
- •Определение износа прямых центров.
- •Определение радиального биения центров при вращении скалок.
- •Определение отклонения от параллельности линии центров направлению движения каретки продольного перемещения.
- •2.3.23. Определение разности толщин опорных планок для установки измерительных ножей.
- •2.3.24. Определение несовпадения линии центров с рабочими плоскостями измерительных ножей, располагаемых на опорных поверхностях каретки продольного перемещения.
- •2.3.25. Определение отклонения от параллельности линии обратных центров направлению движения каретки продольного перемещения.
- •2.3.26. Определение отклонения от плоскостности рабочей поверхности стеклянной пластины предметного стола.
- •2.3.27. Определение отклонения от параллельности поверхности стеклянной пластины предметного стола направлению движения кареток.
- •2.3.28. Определение отклонения от прямолинейности образующих контрольного калибра.
- •2.3.29. Определение радиального биения центров контрольного калибра.
- •2.3.30.Определение диаметров рабочих поясков контрольного калибра.
- •Определение погрешностей микроскопа при измерениях проекционным методом.
- •Определение погрешности δ5 микроскопа при измерении методом осевого сечения среднего диаметра резьбового калибра.
- •3. Оформление результатов поверки.
- •Список используемой литературы
МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РФ
ГОУ ВПО «Брянский государственный технический университет»
Кафедра «Управление качеством, стандартизация и метрология»
Дисциплина «Метрология»
РАСЧЕТНО-ГРАФИЧЕСКАЯ РАБОТА
на тему «Универсальный измерительный микроскоп»
Студентка гр. 08-ММО
Саввина Е.А.
Преподаватель
Хохлов В.М.
БРЯНСК 2010
Содержание
Назначение 3
Принципиальная схема УИМ 3
Конструкция УИМ 4
Оптическая схема и принцип действия 6
Оптическая схема при работе в проходящем свете 6
Оптическая схема при работе с проекционным приспособлением 8
Технические характеристики УИМ 10
Погрешность измерения УИМ 10
Руководство по работе на УИМ 11
Методы измерения 11
Работа отдельных узлов 13
Измерение длин проекционным (теневым) методом 18
Измерение углов проекционным (теневым) методом 19
Технические требования 20
Методы испытаний 21
Маркировка, упаковка, транспортирование и хранение 21
Приложение 24
Список используемой литературы 48
Назначение.
Микроскоп — оптический прибор для получения сильно увеличенных изображений объектов, невидимых невооруженным глазом.
Универсальные измерительные микроскопы предназначены для измерений линейных и угловых размеров изделий в прямоугольных и полярных координатах, в частности, резьбовых изделий, режущего инструмента, профильных шаблонов, лекал, кулачков, конусов, метчиков, резьбонарезных гребенок, диаметров отверстий.
Принципиальная схема уим.
Принципиальная схема УИМ представляет собой двухкоординатную измерительную машину (рис. 1). Если в измерительной машине измерение осуществляется с помощью двух измерительных наконечников, то в УИМ та же двухточечная схема измерения обеспечивается визированием микроскопа по двум точкам (линия) измеряемого размера. Кроме того, если в измерительной машине определяется размер только в одном направлении (ось Х), то в УИМ измерения производятся и в перпендикулярном направлении (ось У).
Измеряемая деталь располагается на продольной каретке 1, имеющей шкалу 2, по которой производится отсчет продольных перемещений с помощью отсчетного микроскопа 3. Поперечная каретка 6 также имеет шакалу 5 с отсчетом поперечных перемещений по микроскопу 4. На поперечной каретке установлен также и визирный микроскоп 7.
Рис. 1