- •Порядок выполнения задания
- •6. Расчет общей нерезкости изображения дефектов us.
- •7. Определение времени экспозиции tэ
- •8. Расчет контрастности снимков.
- •9. Расчет чувствительности контроля.
- •Расчет числа участков контроля
- •Определение производительности контроля.
- •Приложение 1.
- •Приложение 2.
- •Приложение 3.
- •Линейные коэффициенты ослабления m, 1/см
Московский государственный технический
университет им. Н.Э. Баумана
Кафедра «Технологии сварки и диагностики»
МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ
к выполнению задания
«Разработка технологии радиографии изделия»
Автор – доцент Маслов Б.Г.
Москва – 2011 г.
Введение.
Задание является составной частью учебной программы дисциплины «Радиационные методы контроля» для студентов специальности «Оборудование и технология сварочного производства», специализация «Контроль качества сварных соединений».
Цель работы – приобретение студентом практических навыков по выбору и расчету параметров радиографического контроля на примере сварных соединений изделий.
Предусмотрено три вида сварных изделий: плита (лист) с продольным сварным швом, труба с кольцевым сварным швом и цилиндрический резервуар с кольцевыми сварными швами (расчет выполняют для одного шва). Изделия имеют различную толщину стенки и выполняются из стали или алюминия.
Варианты задания приведены в таблице 1, номер варианта задается преподавателем.
Таблица 1.
Варианты задания.
Номер варианта |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
Изделие |
труба |
плита |
резервуар |
труба |
плита |
резервуар |
Материал |
сталь |
сталь |
сталь |
сталь |
сталь |
сталь |
Толщина, мм |
5 |
10 |
15 |
10 |
15 |
20 |
Длина или диаметр, мм |
150 |
2000 |
5000 |
300 |
3000 |
8000 |
Допустимая геометрическая нерезкость [Uг], мм |
0,075 |
0,1 |
0,1 |
0,1 |
0,15 |
0,15 |
Требуемая чувствительность Wабс, мм |
0,15 |
0,2 |
0,2 |
0,2 |
0,3 |
0,3 |
Продолжение табл. 1.
Номер варианта |
7 |
8 |
9 |
10 |
11 |
12 |
Изделие |
труба |
плита |
резервуар |
труба |
плита |
резервуар |
Материал |
сталь |
сталь |
сталь |
сталь |
сталь |
сталь |
Толщина, мм |
15 |
20 |
25 |
20 |
25 |
30 |
Длина или диаметр, мм |
500 |
4000 |
10000 |
1200 |
5000 |
12000 |
Допустимая геометрическая нерезкость [Uг], мм |
0,15 |
0,2 |
0,25 |
0,3 |
0,25 |
0,4 |
Требуемая чувствительность Wабс, мм |
0,3 |
0,4 |
0,5 |
0,6 |
0,5 |
0,8 |
Продолжение табл. 1.
Номер варианта |
13 |
14 |
15 |
16 |
17 |
18 |
Изделие |
труба |
плита |
резервуар |
труба |
плита |
резервуар |
Материал |
алюм. |
алюм. |
алюм. |
алюм. |
алюм. |
алюм. |
Толщина, мм |
15 |
20 |
20 |
20 |
25 |
25 |
Длина или диаметр, мм |
350 |
2000 |
5000 |
500 |
3000 |
8000 |
Допустимая геометрическая нерезкость [Uг], мм |
0,05 |
0,125 |
0,15 |
0,15 |
0,2 |
0,2 |
Требуемая чувствительность Wабс, мм |
0,1 |
0,25 |
0,3 |
0,3 |
0,4 |
0,4 |
Продолжение табл. 1.
Номер варианта |
19 |
20 |
21 |
22 |
23 |
24 |
Изделие |
труба |
плита |
резервуар |
труба |
плита |
резервуар |
Материал |
алюм. |
алюм. |
алюм. |
алюм. |
алюм. |
алюм. |
Толщина, мм |
25 |
30 |
30 |
30 |
35 |
35 |
Длина или диаметр, мм |
800 |
4000 |
10000 |
1200 |
5000 |
12000 |
Допустимая геометрическая нерезкость [Uг], мм |
0,25 |
0,3 |
0,35 |
0,35 |
0,4 |
0,4 |
Требуемая чувствительность Wабс, мм |
0,5 |
0,6 |
0,7 |
0,7 |
0,8 |
0,8 |
Порядок выполнения задания
Выбор схемы просвечивания.
Схему просвечивания выбирают согласно ГОСТ 7512-82 и конструктивным особенностям контролируемого изделия. Выбранная схема контроля должна быть в масштабе представлена в отчете.
Выбор источника излучения.
Источник излучения (рентгеновский или гамма-аппарат) выбирают по справочной литературе с учетом вида контролируемого материала и его толщины (Приложение 1).
Выбор рентгеновской пленки и усиливающего экрана.
В зависимости от требований к изделию по специальным номограммам, приведенным в справочной литературе, выбирают тип рентгеновской пленки и усиливающего экрана: металлический (свинцовый) или флюоресцирующий.
Для выбранной рентгеновской пленки и экрана определяют величину внутренней нерезкости изображения дефектов Uв по таблице (Приложение 2).
Выбор эталона чувствительности.
Тип (проволочный или канавочный) и типоразмер (номер) эталона
чувствительности выбирают по таблице (Приложение 3).
Размеры эталонов приведены в ГОСТ 7512-82.
Расчет фокусного расстояния.
В зависимости от допустимой величины геометрической нерезкости [Uг] определяют минимально допустимое фокусное расстояние Fмин . Для плоских изделий или изделий с большим радиусом кривизны (резервуары) расчет ведут по по выражению
Fмин = d (Ф/ [Uг] + 1)
При контроле труб на пленку в гибкой кассете Fмин определяют с учетом схемы контроля по выражениям:
- при контроле через одну стенку Fмин = (Ф/[Uг] + 1);
- при контроле через две стенки Fмин = 1,4 (Ф/[Uг] + 1).
Рекомендуется принимать при просвечивании рентгеновскими лучами F > 750 мм,
а при просвечивании g-лучами F > 500 мм. Для принятого значения F (или Ф) определяют фактическое значение геометрической нерезкости Uг
Uг = Фd / (F - d)
В случае панорамного просвечивания изделия, когда источник излучения располагается в геометрическом центре тела вращения, а фокусное расстояние соответствует наружному радиусу тела, определяют максимально допустимый размер фокусного пятна источника Фмакс по выражению
Фмакс = [Uг] r/(R – r) , где
r , R – внутренний и наружный радиусы тела вращения соответственно.
6. Расчет общей нерезкости изображения дефектов us.
Величину US определяют в зависимости от типа дефекта (плоскостный или объемный) и толщины контролируемого материала с учетом вида и энергии источника излучения.
При контроле изделий с толщиной стенки d 10 мм:
а) для плоскостных дефектов
___________
US = 3 Uг3 + Uв3
б) для объемных дефектов
US = Uг + (Uв2/ 2Uг) [1 – exp (- 2Uг / Uв)]
При контроле изделий с толщиной стенки d> 10 мм:
а) для плоскостных дефектов
__________
US = 3 Uг3 + Uр3
б) для объемных дефектов
US = Uг + (Uр2/ 2Uг) [1 – exp (- 2Uг / Uр)]
Величина нерезкости рассеяния Uр зависит от толщины материала и может быть определена по выражению
Uр = Uв gdо, где
d0 – коэффициент, численно равный значению толщины контролируемого материала в см.
Значения g принимают по таблице (см. Приложение 2) .
Для дальнейших расчетов принимают значение US для того типа дефектов, для которого это значение наибольшее.