- •3. Нерівноважні процеси у приповерхневій області напівпровідників
- •3.1. Класифікація поверхневих локальних центрів
- •3.2. Особливості і механізм поверхневої рекомбінації
- •3.3. Швидкість поверхневої рекомбінації
- •3.4. Межі застосування поняття поверхневої рекомбінації
- •3.5. Вплив поверхневої рекомбінації на час життя нерівноважних носіїв заряду
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
3.2. Особливості і механізм поверхневої рекомбінації
Поверхневі центри захоплення нерівноважних носіїв заряду впливають на об’ємні властивості напівпровідників, зокрема, на фотоелектричні властивості. Основним параметром, який визначає фотоелектричні властивості напівпровідників, є час життя нерівноважних носіїв заряду n,p. Значення величини n,p істотно залежить від взаємодії нерівноважних електронів і дірок з поверхневими локальними центрами. Ця взаємодія може бути або поверхневою рекомбінацією, або поверхневим прилипанням. Значення n,p у тонких кристалах можуть сильно відрізнятися від відповідних значень в об’ємі зразків за межею ОПЗ. Це один з розмірних ефектів. Характеристичним розміром є довжина дифузійного зміщення Ln,p. При розгляді нерівноважних явищ “тонким” вважають кристал, товщина d якого близька до L n,p.
Процеси захоплення нерівноважних носіїв поверхневими центрами характеризуються рядом специфічних особливостей у порівнянні з аналогічними процесами в об’ємі кристала. Локалізація деякого заряду на поверхневих рівнях призводить до зміни потенціалу поверхні. При цьому можливе як збільшення, так і зменшення величини Ys. Навіть при відсутності захоплення нерівноважних носіїв поверхневими рівнями, сама наявність нерівноважних носіїв у напівпровіднику призводить до зміни поверхневого електростатичного потенціалу. Тому розкладання повних поверхневих концентрацій носіїв заряду (ns, ps) на рівноважну (ns0, ps0) і нерівноважну (ns, ps) частини є досить складним.
Формально можна було б записати
; . (3.6)
Але величини ns0 і ps0 не дорівнюють поверхневим концентраціям електронів і дірок при відсутності в кристалі нерівноважних носіїв, оскільки їх наявність призводить до зміни поверхневого електростатичного потенціалу s і, отже, до зміни концентрації носіїв на поверхневих рівнях і в ОПЗ. Наявність нерівноважних носіїв в ОПЗ змінює об’ємний заряд у цьому шарі, а захоплення їх поверхневими рівнями призводить до зміни поверхневого заряду.
Рівноважні концентрації носіїв на поверхні можна ввести як функції Ys (або Ys0). Із співвідношень (2.3), (2.10), (2.11), (2.12) і (2.13) випливає, що у рівноважному випадку, коли n = p = 0, рівноважні концентрації електронів і дірок на поверхні можна записати у вигляді
ns0 = n0exp[(s 0)], (3.7)
ps0 = p0exp[– (s 0)]. (3.8)
Справді, згідно з (2.12) концентрацію електронів на поверхні можна записати у вигляді
.
Визначимо величину ni із (2.10):
.
Тоді
,
або, враховуючи, що n = 0, одержуємо
. (3.9)
Аналогічно одержується вираз (3.8), який запишемо у вигляді
. (3.10)
При цьому обов’язково повинна виконуватися умова
ns0 ps0 = nі2. (3.11)
За певних умов (див. п. 3.4) розподіл концентрацій нерівноважних носіїв заряду в ОПЗ описується подібними співвідношеннями
, .
Підставимо значення ns0, ps0, ns, ps у (3.6), отримаємо
, (3.9)
. (3.10)
Поверхнева рекомбінація нерівноважних носіїв заряду, як і в об’ємі кристала, може відбуватися через локальні центри або шляхом безпосереднього рекомбінування електрона зони провідності з діркою валентної зони. Але вплив міжзонної поверхневої рекомбінації на поверхневі явища не доведено. Основним механізмом поверхневої рекомбінації вважається рекомбінація через локальні центри.
Розглянемо напівпровідник n-типу, в області поверхні якого існує шар збіднення (рис. 3.2).
Рис. 3.2. Енергетична діаграма приповерхневої області для пояснення механізму поверхневої рекомбінації. Суцільними стрілками позначено переходи електронів, штриховими – дірок
Припустимо, що на поверхні напівпровідника є один тип простих локальних центрів, які можуть захоплювати носії заряду обох знаків. Концентрацію даних центрів позначимо через Ns, а положення енергетичного рівня – через Еs. Під дією градієнта концентрації та електричного поля нерівноважні носії заряду переміщаються з об’єму кристала до поверхні і захоплюються центрами рекомбінації (рис. 3.2, переходи 1, 2). Послідовність захоплення носіїв різних знаків залежить від початкового заряду центра рекомбінації. Якщо у початковому стані поверхневі центри заряджені позитивно, то спочатку захоплюються електрони (перехід 1), а потім дірки (перехід 2). У випадку, коли на поверхні наявні негативно заряджені центри рекомбінації, спочатку захоплюються дірки, а потім електрони. У будь-якому випадку нерівноважні електрони у процесі рекомбінації переходять через поверхневі локальні рівні із с-зони у v-зону.
Зауважимо, що за певних умов швидкість рекомбінації через поверхневі локальні центри визначається не параметрами центрів, як в об’ємі при рівномірному збудженні, а швидкістю дифузійного або дрейфового руху пар носіїв з об’єму на поверхню.