Конструкція пем з електромагнітними лінзами

Питання семінару

1. Блок-схема ПЕМ.

2. Освітлювальна система.

3. Система формування зображення.

4. Система реєстрації зображення.

5.Особливості конструкції вакуумної системи та порядок її роботи.

Запитання і вправи

1. Привести блок-схему ПЕМ. Вказати призначення всіх блоків.

2. Які фактори обумовлюють складність ПЕМ?

3. Яку конструкцію має гармата ПЕМ та як вона працює?

4. Пояснити як проводиться заміна катода. Чому катоди перегорають?

5. Які типи катодів можна використовувати у мікроскопах?

6. Навіщо використовують у ПЕМ конденсорний блок з двома лінзами?

7. Зобразити хід променів у конденсорному блоці.

8. Загальна конструкція лінз. Полюсні наконечники.

9. Як здійснюється переміщення зразка під пучком?

10. Які діафрагми використовуються у ПЕМ і де вони знаходяться?

11. Які способи існують введення зразка у ПЕМ та яка між ними різниця?

13. Пояснити, як проводиться шлюзування об’єкта.

14. Пояснити у яких лінзах мікроскопу ЕММА-4 є полюсні наконечники, а де відсутні і чому?

15. Як здійснюється реєстрація зображення у ПЕМ?

16. Зобразити схему вакуумної системи мікроскопа.

17. Вказати основні собливості конструкції вакуумної системи ПЕМ.

18. Пояснити як здійснюється управління роботою мікроскопа?

Практична робота 8

Практичні режими роботи пем

Питання семінару

1. Калібрування збільшення ПЕМ.

2. Методика виготовлення тест-об’єктів.

3. Дифракція.

4. Мікродифракція.

5. Світлопольний режим.

6. Темнопольний режим.

7. Отримання зображення решітки.

Практична робота 9

Характеристики різних типів електронних мікроскопів

Питання семінару

1. ЕМ з магнітостатичними лінзами.

2. ПЕМ з електростатичними лінзами.

3. Відбиваючий ЕМ.

4. Емісійний мікроскоп.

5. Мікроскоп-проектор.

6. Тіньовий мікроскоп.

7. Надвисоковольтний мікроскоп.

8. Фізичні принципи роботи скануючого тунельного мікроскопу.

9. Конструкція скануючого тунельного мікроскопу.

10. Скануючий атомно-силовий мікроскоп.

Практична робота 10

Методи підготовки зразків для мікроскопічних досліджень

Питання семінару

1. Опорні сітки та плівки підкладки.

2. Метод реплік та відтінень.

3. Робота з біологічними об’єктами.

4. Виготовлення тонких зразків з використанням ультрамікротому.

5. Класифікація методів зменшення товшини кристалічних об’єктів для дослідження на просвіт.

6. Хімічне та іонне травлення

7. Електрополірування

8. Особливості приготування зразків для РЕМ.

Основна навчальна література

1. Проценко І.Ю., Чорноус А.М., Проценко С.І.Прилади і методи дослідження плівкових матеріалів./ За ред. І.Ю.Проценка.-Суми:Вид-во Сум ДУ,2007.-264 с.

2. Пилянкевич А.Н., Климовицкий A.M. Электронные микроскопы. -Киев:Техніка, 1976. -168 с.

3. Гоулдстейн Дж., Ньюберн Д. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. -Москва: Мир, 1984. -Т.1. -303 с.

Додаткова рекомендована література

4. Гоулдстейн Дж., Ньюберн Д. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. -Москва: Мир, 1984. -Т.2. -348 с.

5. Хейдентайх Р. Основы просвечивающей электронной микроскопии. -Москва: Мир, 1966. -412 с.

6. Томас Г., Гориндж М.Дж., Просвечивающая электронная микроскопия. -Москва: Наука, 1983. -320 с.

7. Васичев Б.Н. Электронная микроскопия. -Москва: Знание, 1980, -160 с.

8. Гоулдстейн Дж., Яковица X. Практическая растровая электронная микроскопия. -Москва: Мир, 1978. -656 с.

9.  Шиммель Г. Методика электронной микроскопии. -Москва: Мир, 1978. - 300с.

10. Техника электронной микроскопии / Под ред. Д. Кея. -Москва: Мир, 1965. 407с.

11. Электронная микроскопия / Под ред. Лебедева Л. А. -Москва: ГИТТЛ, 1954. - 636 с.

12. Энгель Л., Клингеле Г. Растровая электронная микроскопия. -Москва: Металлургия, 1986. -232 с.

13. Эдельман B.C. Сканирующая туннельная микроскопия // ПТЭ. -№ 5. -1989. -С 25-48.

14.Синдо Д., Октава Т. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия. –Москва: Техносфера, 2006. –256 с.

9