Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
мет магн оконч.doc
Скачиваний:
22
Добавлен:
22.11.2019
Размер:
4.94 Mб
Скачать

Лабораторная работа №3 эффект холла в полупроводниках

Цель работы - изучение эффекта Холла в полупроводнике с электронным типом проводимости и определение некоторых параметров этого полупроводника.

Теоретическое введение

Эффектом Холла называют возникновение поперечного электрического поля в пластинке из полупроводника или металла, помещённой в магнитное поле, при пропускании через неё тока в продольном направлении.

Рассмотрим движение электронов в прямоугольной пластинке из однородного полупроводника в магнитном и электрическом полях, направленных взаимно перпендикулярно (рис.1). При наложении внешнего электрического поля в пластинке возникнет электрический ток, и электроны приобретают дрейфовую скорость . В магнитном поле на движущийся электрон действует сила Лоренца:

, (1)

где  заряд электрона, вектор дрейфовой скорости электрона,  вектор индукции магнитного поля.

П од действием силы Лоренца электроны отклоняются (на рис.1 к левой грани пластинки), заряжая её отрицательно. На противоположной грани накапливаются нескомпенсированные положительные заряды. Это приводит к возникновению поперечного электрического поля и к появлению между гранями пластинки разности потенциалов.

Электрическое поле действует на электроны с силой , направленной противоположно силе Лоренца . Заряды на боковых гранях пластины будут накапливаться до тех пор, пока эти две силы не уравновесят друг друга:

, (2)

. (3)

Величина напряженности однородного электрического поля и разность потенциалов связаны соотношением: . Тогда для разности потенциалов между гранями пластинки получим:

, (4)

где  ширина пластинки. Эту разность потенциалов принято называть э.д.с. Холла.

Сила тока в пластинке пропорциональна средней скорости дрейфа и определяется выражением:

, (5)

где  сечение пластинки, перпендикулярное току,  концентрация электронов,  толщина пластинки.

Из формулы (4) следует, что средняя дрейфовая скорость электронов определится выражением:

. (6)

Подставив (6) в (4), получим формулу для э.д.с Холла:

. (7)

Из формулы (7) следует, что э.д.с Холла тем больше, чем меньше концентрация носителей заряда и чем меньше толщина пластинки.

Введём обозначение:

. (8)

Тогда

. (9)

Коэффициент пропорциональности называется постоянной Холла. Она определяется величиной движущихся носителей заряда, их знаком и их концентрацией.

В примесных полупроводниках электропроводность может быть обусловлена как движением электронов, так и движением квазичастиц  "дырок", имеющих положительный заряд, равный по величине заряду электрона. Если основными носителями в полупроводнике являются дырки, то они также отклоняются силой Лоренца к левой грани пластинки. В этом случае левая грань зарядится положительно, а правая – отрицательно (рис 2).

П остоянная Холла в этом случае определяется выражением:

, (10)

где  концентрация дырок.

Таким образом, по направлению поперечного электрического поля (знаку э.д.с. Холла) можно определить тип носителей заряда, а по величине постоянной Холла вычислить концентрацию носителей.

Если концентрации электронов и дырок в полупроводнике сравнимы по порядку величины, то выражение для постоянной Холла имеет более сложный вид. Однако, в любом случае э.д.с. Холла (для не слишком больших полей) является линейной функцией тока и индукции магнитного поля.

Эффект Холла применяется в так называемых датчиках Холла, которые представляют из себя полупроводниковую пластинку очень малых размеров, через которую пропускают электрический ток. Применение датчиков Холла основано на том, что их выходной сигнал ( ) пропорционален произведению тока на магнитную индукцию. Такие датчики используются для измерения индукции магнитного поля, а также в тех случаях, где изменение контролируемой величины может быть преобразовано в изменение магнитного поля. Кроме того, как было уже отмечено выше, эффект Холла используется для определения типа носителей заряда и их концентрации в полупроводниках.