- •Содержание
- •1. Принцип действия биполярного транзистора
- •Рассмотрим основные рабочие процессы в транзисторе.
- •1.1. Инжекция носителей заряда через прямосмещенный эп
- •1.2. Диффузионное распространение инжектированных носителей заряда в базе от эп к кп с одновременной рекомбинацией их в области базы
- •1.3. Экстракция носителей заряда через обратносмещенный кп
- •2. Статические характеристики биполярного транзистора
- •2.1. Статические характеристики транзистора в схеме с общей базой (об)
- •2. 2. Статические характеристики транзистора в схеме с общим эмиттером
- •Входные характеристики транзистора: .
2. 2. Статические характеристики транзистора в схеме с общим эмиттером
На схеме включения рис. 14 эмиттер (Э) –общий электрод для входной и выходной цепей, база (Б) – входной электрод, коллектор (К) – выходной электрод, UБЭ – входное напряжение, UКЭ – выходное напряжение.
Напряжение на коллекторном переходе: UКБ = UКЭ – UБЭ.
Рис. 14. Схема включения транзистора с ОЭ
Входные характеристики транзистора: .
Рис. 15. Входные характеристики транзистора в схеме с ОЭ
Рис. 16. Начальная Рис. 17. Зависимость токов в транзисторе
область входной ха- от входного напряжения UБЭ в схеме с ОЭ
рактеристики тран-
зистора в схеме с ОЭ
Сначала рассмотрим входную характеристику, снятую при UКЭ'' (среднюю), попутно рассматривая зависимости IЭ и IК от UБЭ.
Рис.
18. Схема включения транзистора с ОЭ в
режиме отсечки
Таким образом, в режиме отсечки IЭ = – IЭ0, IК = IК0, IБ = – IК0 – IЭ0.
Для симметричного транзистора (Э и К одинаково легированы примесями) |IК0| = |IЭ0|, а |IБ| = 2|IК0| = 2|IЭ0|. Все токи очень малы и неуправляемы – транзистор заперт.
В активном режиме ЭП транзистора включен в прямом направлении (IЭ>0), а т.к. |UКЭ| > |UБЭ|, UКБ = UКЭ – UБЭ, то КП включается в обратном направлении. Все токи в этом режиме изменяются при изменении UБЭ.
Ток коллектора IК = IК0 + IКр.
7,8 [1]
[1] – зависит от UБЭ и IЭ .
Ток базы IБ = –IК0 – IЭ0 + Ir + IЭn .
Составляющие –IК0 – IЭ0 были в режиме отсечки, в активном режиме к ним добавились Ir + IЭn , которые зависят от UБЭ и IЭ.
При каком-то UБЭ0 | IК0 + IЭ0 | = | Ir + IЭn |, IБ =0, IК = IЭ = IК0Э > IК0 .
UБЭ0 – напряжение запирания IБ, напряжение переворота фазы IБ (IБ в этой точке изменяет свое направление).
IК0Э – сквозной коллекторный ток. При разрыве цепи базы (IБ =0) ток IК0 через обратносмещенный КП не может замкнуться через вывод базы, поэтому электроны потока 7, вошедшие в базу, за счет градиента концентрации проходят тонкую базу и частично заполняют обедненную электронами область базы ЭП, что равносильно подсмещению ЭП в прямом направлении, через уменьшенный по высоте барьер ЭП дырки потока 1 начинают впрыскиваться в базу, диффундировать через нее и экстрагироваться в коллектор, поэтому IК0Э > IК0. Ток IК0Э создается носителями заряда, идущими сквозь весь транзистор, не ответвляясь в цепь базы, отсюда и его название.
При дальнейшем увеличении |UБЭ| положительные составляющие IБ и управляемая часть IК становятся больше неуправляемых IК0 и IЭ0 и делают «погоду», т.е. в активном режиме IК IКp, а IБ Ir .
В активном режиме IЭ экспоненциально зависит от напряжения UБЭ на прямосмещенном ЭП, отсюда сильная зависимость IК и IБ от этого напряжения: IК = IЭ + IК0, IБ = (1 – )IЭ – IК0 .
При увеличении |UБЭ| резко возрастают токи IК и IБ , т. к. резко ( по exp. закону) возрастает ток эмиттера IЭ.
Итак, рассмотрели среднюю входную характеристику, снятую при UКЭ''=Const.
При увеличении |UКЭ| входная характеристика расположена очень близко к рассмотренной, но ниже ее, т.е. IБ уменьшается незначительно при переходе из точки 2 в точку 1 (при UБЭ'=Const ).
При |UБЭ|=Const увеличение |UКЭ| приводит к увеличению |UКБ|, т.к.
UКБ = UКЭ – UБЭ, толщина коллекторного перехода КП возрастает, толщина базы WБ уменьшается, вследствие эффекта Эрли уменьшается вероятность рекомбинации впрыснутых дырок в базе (количество впрыснутых дырок постоянно, т.к. |UБЭ|=Const), т.е. ток базы IБ уменьшается.
Чтобы при увеличении |UКЭ| IБ =Const (точки 2 и 4), необходимо увеличить |UБЭ|, т. е. ток эмиттера IЭ возрастёт.
Таким образом, UБЭ'' > UБЭ', p2 > p1. Площадь треугольника под прямой 4 должна равняться площади треугольника под прямой 2 (условие постоянства IБ).
Входные характеристики при UКЭ'' и UКЭ''' соответствуют активному режиму, т.к. |UКЭ''| и |UКЭ'''| больше |UБЭ|.
Если же |UКЭ| < |UБЭ|, то КП включен в прямом направлении, транзистор находится в режиме насыщения.
Рис. 19. Распределение
концентрации неосновных
носителей заряда (дырок)
в базе транзистора
При UКЭ' = 0 коллекторный переход включен в прямом направлении
(+ от UБЭ приложен к коллектору относительно базы), причем |UКБ| = |UБЭ|, что соответствует точке 3 (IБ''') на верхней входной характеристике рис. 15.
В режиме насыщения IБ = Ir + IЭn + Ir'+ IКn (Ir + IЭn за счет ЭП, Ir'+ IКn за счет КП).
Отрицательными составляющими IБ (IК0, IЭ0) пренебрегаем вследствие их малости по сравнению с положительными составляющими.
Рис. 20. Составляющие тока базы
в режиме насыщения
В точке 3 для симметричного транзистора IБ в 2 раза больше, чем в точке 2 (дырки впрыскиваются в базу и из эмиттера и из коллектора; и те и другие частично рекомбинируют в базе с электронами). Поэтому входная характеристика при UКЭ = 0 «особняком» стоит по отношению к входным характеристикам, соответствующим активному режиму, которые так близко находятся друг от друга, что практически сливаются. Поэтому в справочниках приводится одна входная характеристика в активном режиме и одна при UКЭ= 0.
Выходные характеристики: .
Рис. 21. Выходные характеристики транзистора в схеме с ОЭ при UБЭ=Const
Эти характеристики выглядят так же, как
только смещены относительно оси ординат.
Рис. 22. Выходные характеристики транзистора в схеме с ОБ при UЭБ=Const
В схеме с общей базой ось ординат разделяет режим насыщения (Р.Н. – левее) от активного режима (правее). На оси ординат UКБ = 0, что соответствует точке 3.
В схеме с общим эмиттером чтобы получить точку 3 (UКБ = 0), нужно подать UКЭ > 0, |UКЭ| должно равняться |UБЭ|, т.е. выходные характеристики смещены вправо относительно аналогичных для схемы с общей базой. Если увеличить |UКЭ|, то при UБЭ = Const увеличится |UКБ|, т.к. UКБ = UКЭ – UБЭ.
Если U на входе (UЭБ в схеме с ОБ, UБЭ в схеме с ОЭ), т.е. UЭП =Const, то при изменении напряжения на выходе (UКБ в схеме с ОБ, UКЭ в схеме с ОЭ) изменяется U на КП, поэтому выходные характеристики
всхеме с ОЭ можно было бы и не объяснять, но для рассмотрения следующего семейства выходных характеристик
необходимо знание зависимости
и в режиме насыщения, и в активном режиме, поэтому мы рассмотрим все составляющие токов IК и IБ в точках 1, 2, 3, 4, 5.
Если |UКЭ| < |UБЭ'''|, то КП включен в прямом направлении (точки 1 и 2), если же |UКЭ| > |UБЭ'''| – то в обратном (точки 4 и 5); точка 3 находится на стыке 2-х режимов.
Точка 1.
UКЭ =0, UЭП > 0, UКП > 0, причем |UКБ| = |UБЭ'''|.
IК IКp – I5,6 0 (если строго, то меньше 0),
IБ = Ir + IЭn + Ir'+ IКn ( отрицательными составляющими тока базы пренебрегаем вследствие их малости).
Рис. 23. Зависимость токов IБ и IК транзистора от выходного напряжения UКЭ в схеме с ОЭ
Точка 2.
UКЭ >0, но |UКЭ| < |UБЭ'''|.
UЭП > 0, UКП > 0, но |UКБ| уменьшилось по сравнению с точкой 1, поэтому отрицательная составляющая тока коллектора I5,6 резко уменьшается (по exp закону).
При UБЭ'''=Const IКP Const, поэтому ток коллектора IК = IКp – I5,6 резко увеличится, а ток базы IБ = Ir + IЭn + Ir'+ IКn (Ir + IЭn Const,
Ir'+ IКn ) резко уменьшится.
Точка 3.
UКЭ >0. |UКЭ| |UБЭ'''|
UЭП > 0, UКП 0 . I5,6 0
Ток коллектора IК = IКp ( резко возрастает по сравнению с точкой 1, т.к. I5,6 исчез).
Ток базы IБ = Ir + IЭn ( резко уменьшается по сравнению с точкой 1, т.к. Ir'+ IКn 0).
Таким образом, в режиме насыщения IК и IБ резко изменяются при малейшем изменении UКЭ, т.к. отрицательная составляющая тока IК (I5,6) изменяется по экспоненциальному закону.
В активном режиме
UЭП > 0, UКП < 0.
Точка 4.
|UКЭ'| > |UБЭ'''| , UКБ'= UКЭ' – UБЭ'''.
Точка 5.
|UКЭ''| > |UБЭ'''| , UКБ''= UКЭ'' – UБЭ'''.
Рис. 24. Распределение концентрации
неосновных носителей заряда (дырок)
по толщине базы транзистора в АР
В
возрастёт, т. к. возрастёт (рис. 24).
Т. к. в активном режиме IК = IЭ + IК0, то IК возрастает. Но изменения IК и IБ в активном режиме значительно меньше, чем в режиме насыщения, что наглядно демонстрирует распределение концентрации впрыснутых из эмиттера дырок по толщине базы в точках 1, 2, 3, 4, 5 (рис. 25).
Рис. 25. Распределение концентрации
неосновных носителей заряда (дырок) по толщине
базы транзистора при UБЭ =Const