- •Тема 1 – Основы физики полупроводниковых диодов
- •§1.1 Электрофизические свойства полупроводников
- •§1.2 Электронно-дырочный переход в равновесном состоянии
- •§1.3 Электронно-дырочный переход в неравновесном состоянии
- •§1.4 Вах /вольт амперная характеристика/ p-n-перехода
- •§1.5 Ёмкость p-n-перехода
- •§1.6 Контакты металла с полупроводником
- •Тема 2 – Полупроводниковые приборы
- •§2.1 Полупроводниковые диоды
- •§2.2 Биполярные транзисторы: устройство и принцип действия
- •§2.3 Транзистор, как усилитель напряжения и мощности
- •§2.4 Эффект модуляции толщины базы
- •§2.5 Схемы включения и режимы работы транзисторов
- •§2.6 Статические характеристики биполярного транзистора
- •§2.7 Полевые транзисторы с управляющим входом
- •§2.8 Основные характеристики полевого транзистора
- •§2.9 Полевые транзисторы мдп-структуры
- •§2.10 Тиристоры
- •Тема 3 – Основы микроэлектроники
- •§3.1 Основные понятия микроэлектроники
- •§3.2 Изоляция элементов в монолитных имс
- •Технология «кремний на сапфире»
- •§3.3 Элементы интегральных схем
- •Тема 4 – Усилительные устройства
- •§4.1 Основные характеристики и параметры усилителей
- •§4.2 Нелинейные искажения в усилителях
- •§4.3 Обратная связь в усилителях: классификация
- •§4.4 Влияние обратной связи на параметры усилителя
- •§4.5 Усилители на биполярных транзисторах. Выбор режима работы
- •§4.5 Стабилизация режима работы каскадов на биполярных транзисторах
- •§4.6 Дифференциальные каскады /дк/
- •§4.7 Источники тока
- •§4.8 Операционные усилители: характеристики и параметры
- •§4.9 Линейные схемы на операционных усилителях
Тема 3 – Основы микроэлектроники
§3.1 Основные понятия микроэлектроники
Микроэлектроника - это область науки и техники, связанная с созданием и применением интегральных микросхем /ИМС/.
Интегральная микросхема /ИМС/ – совокупность взаимосвязанных транзисторов, диодов, конденсаторов, резисторов и т.п., изготовленных в едином технологическом цикле, конструктивно оформленных как единое целое и выполняющих определённую функцию преобразования сигнала.
Под элементами ИМС будем понимать входящие в её состав транзисторы, диоды, транзисторы, конденсаторы, резисторы и т.д., которые не могут быть выделены из неё в виде самостоятельных изделий.
Компоненты ИМС - транзисторы, диоды, конденсаторы, резисторы и т.д., которые могут быть отделены от ИМС и заменены на другие.
ИМС по конструктивно-технологическим признакам делятся на:
Монолитные – все элементы выполнены в приповерхностном слое полупроводниковой подложки
Плёночные – все элементы выполнены в виде разного рода плёнок на поверхности диэлектрической подложки /пассивные интегральные схемы/
Гибридные – представляют собой комбинация плёночных пассивных элементов и дискретных активных компонентов, расположенных на общей диэлектрической подложке. Дискретные компоненты называют навесными. Навесным компонентом может быть монолитная ИМС.
Совмещённые - активные элементы выполняют в приповерхностном слое полупроводниковой подложки, а пассивные в виде плёнок, на предварительно изолированной поверхности того же кристалла.
Монолитные ИМС по типу использования активных элементов делятся на:
Биполярные схемы (на биполярных транзисторах)
МОП (металл-окись-полупроводник)
Сложность монолитных ИМС принято характеризовать количеством элементов на кристалле истепенью интеграции .
Уровень технологии ИМС характеризует плотность упаковки, под которой понимают количество элементов на единицу площади кристаллов.
Гибридные плёночные ИМС делятся на:
Толстоплёночные - плёнки на поверхности диэлектрика формируются нанесением через трафарет разного рода паст
Тонкоплёночные - плёнки формируют путём напыления соответствующего материала в вакууме. Для создания рисунка используют маски.
Используется “свидетель” – резистор, который подключается к микросхеме и по достижению напряжения процесс заканчивается.
Удельное сопротивление плёнок измеряется в /Ом на квадрат/.
По виду обрабатываемого сигнала ИМС делятся на:
Аналоговые
Цифровые
§3.2 Изоляция элементов в монолитных имс
Все методы изоляции делятся на:
Изоляция обратно смещённым p-n-переходом
Изоляция диэлектриком
Метод трёх диффузий. 1 недостаток: диффузия длится очень долго /десятки часов/
Метод разделительной диффузии.
Эпитаксио-технологический процесс выращивания монокристаллов.
Горизонтальная составляющая тока в коллекторе вызывает нагревание /коллектор слабо легирован большее сопротивление/. Для уменьшения сопротивления делается скрытыйn+ слой на дне кармана.
Перед тем, как выращивать эпитаксиальный слой, на дне будущих карманов методом локальной диффузии формируется n+ слой, затем проводится эпитаксиальное наращивание.
Это изоляция методом обратно смещённого перехода.
Изопланарная технология – метод прокисления /SiO2/. Это комбинированный метод.
Рассмотрим изоляцию диэлектриком. Одна из распространённых технологий - ЭПИК-процесс.
Берется пластина полупроводника n-типа с параметрами коллектора
Затем на этой пластине выращивается эпитаксиальный слой – это будущий скрытый n+ слой
Вытравливаются канавки. Затем вся рельефная структура окисляется
Дальше – сверху методом напыления наращивается поликристаллический кремний /Si/ толщиной 200…300 мкм. Назначение – чисто механическое удерживание. Встречается керамика, но она дороже.
Затем – всё, что ниже Si сошлефовывается/удаляется/ механической обработкой..
Результат…