1.2. Построение и анализ х карты

Вычисляем CL, UCL, LCL для -карты и строим-карту (рисунок 3). При вычислениях и построении точку 10 из первоначальной выборки исключаем.

;

;

.

Рис. 3. -карта (исключена выборка номер 10)

На вновь полученных R-карте и на -карте все точки лежат внутри контрольных границ. Необычных структур расположения точек не наблюдается. Таким образом, карты, приведенные на рисунках 2 и 3, демонстрируют статистическую управляемость технологического процесса.

1.3. Определение возможности процесса

Оценим возможность данного процесса производить резисторы с заданными параметрами. Для этого вычислим индекс возможностей технологического процесса PCI.

Определим верхнее UTL и нижнее LTL допустимое значение контролируемого параметра:

UTL=1,01;

LTL=0,99.

Оценку среднеквадратического отклонения определим с помощью коэффициента 1/d₂, взятого из таблицы 2 [1] для n=5:

.

.

Поскольку PCI<1, считаем, что процесс не способен выпускать резисторы требуемого номинала с требуемой точностью. Существенно улучшить процесс и перейти к выпуску резисторов с заданной погрешностью удастся только после модернизации технологического оборудования.

Определим величины коэффициентов точности и настроенности:

;

.

Ввиду того, что коэффициенты слишком велики, установить по номограмме (рисунок 2)[1] значение вероятной доли дефектных резисторов не представляется возможным.

2. Построение и анализ p-карты

В таблице 3 указаны количество несоответствующих единиц и общее количество единиц в 25 подгруппах (k=25), полученных при сплошном контроле выключателей с помощью устройства автоматического контроля. Выключатели производят на автоматической сборочной линии. Необходимо с помощью p-карты привести технологический процесс в статистически управляемое состояние.

Таблица 3 – Исходные данные p-карты

Номер подгруппы	К-во несоотв. ед. в подгруппе(y)	Общее к-во ед. в подгруппе(n)	Доля несоответ.ед. в подгр.(р)
1	12	3274	0,00367
2	5	3231	0,00155
3	4	3074	0,00130
4	6	3138	0,00191
5	6	3103	0,00193
6	2	3082	0,00065
7	6	3299	0,00182
8	25	3074	0,00813
9	22	3186	0,00691
10	10	3160	0,00316
11	9	3096	0,00291
12	8	3261	0,00245
13	1	3025	0,00033
14	12	3147	0,00381
15	1	3169	0,00032
16	9	3272	0,00275
17	5	3300	0,00152
18	2	3245	0,00062
19	13	3128	0,00416
20	12	3251	0,00369
21	12	3214	0,00373
22	7	3141	0,00223
23	1	3238	0,00031
24	2	3170	0,00063
25	1	3241	0,00031

Разброс объемов подгрупп не превышает ±5 %. Таким образом, можно использовать общие контрольные границы для всех подгрупп. Вычислим центральную линию CL=, контрольные границыUCL, LCL.

;

;

;

Так, как LCL<0, LCL на p-карту не наносим, p-карта приведена на рисунке 4.

Рис. 4. P-карта (исходные данные)

Из выше приведенной карты видно, что точки, соответствующие выборкам номер 8 и 9, выходят за UCL, что говорит о том, что процесс находится в статистически неуправляемом состоянии. В момент изготовления выключателей из партий номер 8 и 9 на технологический процесс действовали особые (неслучайные) факторы, которые следует найти и устранить. Исключаем выборки номер 8 и 9 из дальнейшего рассмотрения. Получаем следующую таблицу№4.

Таблица 4 – Данные р-карты (исключены выборки номер 8 и 9)

Номер подгруппы	К-во несоотв. ед. в подгруппе(y)	Общее к-во ед. в подгруппе(n)	Доля несоответ.ед. в подгр.(р)
1	12	3274	0,00367
2	5	3231	0,00155
3	4	3074	0,00130
4	6	3138	0,00191
5	6	3103	0,00193
6	2	3082	0,00065
7	6	3299	0,00182
8	10	3160	0,00316
9	9	3096	0,00291
10	8	3261	0,00245
11	1	3025	0,00033
12	12	3147	0,00381
13	1	3169	0,00032
14	9	3272	0,00275
15	5	3300	0,00152
16	2	3245	0,00062
17	13	3128	0,00416
18	12	3251	0,00369
19	12	3214	0,00373
20	7	3141	0,00223
21	1	3238	0,00031
22	2	3170	0,00063
23	1	3241	0,00031

Рассчитываем новые значения CL, UCL, LCL.

;

;

Так, как LCL<0, LCL на p-карту не наносим, p-карта приведена на рисунке 5.

Рис. 5. P-карта (исключены выборки номер 8 и 9)

Как видно из рисунка 5, все точки p-карты находятся внутри контрольных границ, следовательно, исследуемый технологический процесс находится в статистически управляемом состоянии.