- •Вступление
- •Основные задачи технической диагностики
- •Системы диагноза технического состояния
- •Диагностические системы управления
- •Объекты диагноза
- •Математические модели объектов диагноза
- •Функциональные схемы систем тестового и функционального диагноза
- •Методы и технические средства диагностирования элементов и устройств вычислительной техники и систем управления Общие сведения
- •Тестовое тестирование узлов, блоков и устройств.
- •Структуры автоматизированных систем.
- •Программное обеспечение процессов диагностирования.
- •Логические анализаторы.
- •Микропроцессорные анализаторы (ма).
- •Способы запуска.
- •Подключающие устройства.
- •Ввод начальных данных.
- •Проверка отдельных триггеров.
- •Проверка содержимого постоянных запоминающих устройств (пзу).
- •Проверка оперативных запоминающих устройств (озу).
- •Проверка работы линии коллективного пользования (лкп).
- •Проверка аналого-цифровых преобразователей (ацп).
- •Проверка печатных плат.
- •Проверка микропроцессорной системы.
- •Сигнатурные анализаторы
- •Процесс формирования сигнатур.
- •Аппаратурная реализация сигнатурного анализатора.
- •Тестовое диагностирование устройств в составе эвм.
- •Диагностирование оборудования процессоров.
- •Способы диагностирования периферийных устройств.
- •Диагностирование упу/пу с помощью процессора.
- •Проверки упу/пу с помощью диагностических приказов.
- •Диагностирование упу/пу с помощью тестеров.
- •Способы тестирования зу.
- •Принципы построения стандартных проверяющих тестов полупроводниковых зу.
- •Аппаратурные средства функционального диагностирования узлов и блоков. Основные принципы построения.
- •Кодовые методы контроля.
- •Контроль передач информации.
- •Контроль по запрещенным комбинациям.
- •Самопроверяемые схемы контроля.
- •Контроль по модулю
- •Организация аппаратурного контроля озу.
- •Организация аппаратурного контроля внешних зу.
- •Средства функционального диагностирования в составе эвм.
- •Контроль методом двойного или многократного счета
- •Экстраполяционная проверка
- •Контроль по методу усеченного алгоритма (алгоритмический контроль).
- •Способ подстановки.
- •Проверка предельных значений или метод "вилок".
- •Проверка с помощью дополнительных связей.
- •Метод избыточных переменных
- •Контроль методом обратного счета.
- •Метод избыточных цифр.
- •Метод контрольного суммирования.
- •Контроль методом счета записи.
- •Контроль по меткам
- •Метод обратной связи
- •Метод проверки наличия формальных признаков (синтаксический метод, метод шаблонов).
- •Метод проверки запрещенных комбинаций.
- •Метод an-кодов
- •Методы на основе циклических кодов и кодов Хэмминга и др.
- •Структурные методы обеспечения контролепригодности дискретных устройств.
- •Введение контрольных точек.
- •Размножение контактов.
- •Использование блокирующей логики.
- •Применение параллельных зависимых проверок
- •Замена одним элементом состояний группы элементов памяти.
- •Методы улучшения тестируемой бис. Сокращение числа тестовых входов.
- •Двухуровневое сканирование.
- •Микропроцессорные встроенные средства самотестирования.
- •Контроль и диагностирование эвм Характеристики систем диагностирования
- •Системы контроля в современных эвм
- •Применение аналоговых сигнатурных анализаторов
- •Работа локализатора неисправностей pfl780 в режиме "Pin by Pin"
- •Работа в режиме Pin by Pin
- •Работа с торцевыми разъемами
- •Среда тестирования
- •Индивидуальное тестирование или режим Pin by Pin?
- •Тестирование специальных устройств
- •Устранение ложных отказов путем использования эталонных сигнатур компонентов от разных производителей
- •Тестирование цифровых компонентов методом asa
- •Вариации сигнатур.
- •Входные цепи защиты
- •Набор альтернативных сигнатур
- •Тестирование подключенных к общей шине компонентов путем их изоляции специальными блокирующими напряжениями.
- •Системы с шинной архитектурой
- •Устройства с тремя логическими состояниями
- •Разрешение работы и блокирование компонентов
- •Применение "блокирующих" напряжений
- •Отключение тактовых импульсов.
- •Отключение шинных буферов.
- •Опция Loop until Pass
- •Локализация дефектных компонентов в системах с шинной архитектурой без их удаления из испытываемой цепи
- •Поиск неисправностей методами asa и ict в системах с шинной архитектурой
- •Сравнение шинных сигнатур
- •Шинные сигнатуры
- •Изоляция устройств.
- •Локализация коротких замыканий шины и неисправностей нагрузки прибором toneohm 950 в режиме расширенного обнаружения неисправностей шины
- •Типы шинных неисправностей
- •Короткие замыкания с низким сопротивлением
- •Измерение протекающего через дорожку тока.
- •Измерение напряжения на дорожке печатной платы
- •Обнаружение кз и чрезмерных токов нагрузки в труднодоступных для тестирования местах
- •Короткие замыкания на платах
- •Обнаружение сложных неисправностей тестируемой платы путем сравнения импедансных характеристик в режиме asa
- •Импедансные сигнатуры
- •Локализация неисправностей методом Аналогового сигнатурного анализа
- •Методы сравнения
- •Основы jtag Boundary Scan архитектуры
- •АрхитектураBoundaryScan
- •Обязательные инструкции
- •Как происходитBoundaryScanтест
- •Простой тест на уровне платы
- •Граф состояний тар – контроллера
- •Мониторинг сети Управление сетью
- •Предупреждение проблем с помощью планирования
- •Утилиты мониторинга сети
- •Специальные средства диагностики сети
- •Источники информации по поддержке сети
- •Искусство диагностики локальных сетей
- •Организация процесса диагностики сети
- •Методика упреждающей диагностики сети
- •Диагностика локальных сетей и Интернет Диагностика локальных сетей
- •Ifconfig le0
- •Сетевая диагностика с применением протокола snmp
- •Диагностика на базеIcmp
- •Применение 6-го режима сетевого адаптера для целей диагностики
- •Причины циклов пакетов и осцилляции маршрутов
- •Конфигурирование сетевых систем
- •Методы тестирования оптических кабелей для локальных сетей.
- •Многомодовый в сравнении с одномодовым
- •Нахождение разрывов
- •Измерение потери мощности
- •Использование тестовOtdRдля одномодовых приложений
- •Источники
- •Словарь терминов а
Проверка печатных плат.
Во многих анализаторах заложена возможность сравнения информации, проходящей по каналам разных групп. В некоторых анализаторах для сравнения имеется дополнительная память для хранения кодов.
На две печатные платы, одна из которых контролируется, а другая заведомо исправна, одновременно подается система стимулов. Отклики с плат сравниваются при помощи анализатора (рис. 6). В качестве источника стимулов лучше всего использовать многоканальный генератор слов, при помощи которого возможно получение любой логической комбинации. Может быть использован и двоичный счетчик или генератор кода Грея для перебора всех возможных состояний.
Проверка микропроцессорной системы.
Современные микропроцессоры — это сложные устройства, отличающиеся друг от друга построением, системой команд и математическим обеспечением. Поэтому дать подробные рекомендации использования анализатора для контроля конкретного типа микропроцессора не представляется возможным. Ниже приводятся некоторые общие рекомендации по использованию анализаторов логических состояний с микропроцессорными системами.
Информационные входы анализатора подключаются к адресной шине и шине данных (рис. 7). Используя дополнительно входы признаков, в этом случае можно просмотреть как всю программу системы, так и ее отдельные подпрограммы. Если установить адрес ячейки начала программы, а на вход признаков подать синхроимпульс машинного цикла, то можно последовательно просмотреть всю программу системы. При необходимости можно использовать цифровую задержку.
Для просмотра только кодов команд, содержащихся в ПЗУ, дополнительно на один из входов признаков необходимо подать синхроимпульс, характеризующий цикл МП (для микропроцессора 580ИК80 это линия D5) и включить режим выборки индикации. На экране индикатора будут индицироваться только команды и их адреса.
Подпрограммы можно просмотреть только в том случае, когда известен адрес ячейки памяти, в которой записана команда "САLL". Адрес ячейки в этом случае служит запускающим словом. При необходимости просмотра информации после нескольких петель подпрограммы следует использовать задержку запуска.
Обмен информацией по шинам данных между процессором, ПЗУ, ОЗУ и УВВ (устройством ввода-вывода) может быть проанализирован, если на входы признаков подать сигналы записи и чтения.
Приведенные примеры показывают, что анализатор можно использовать практически всегда при работе с логическими устройствами. Умело варьируя выбором запускающего слова, цифровой задержкой и особенно выбором тактового импульса, можно всегда найти прием, которым будет возможно проверить правильность работы как части, так и всей схемы в целом.
Сигнатурные анализаторы
В основе сигнатурного анализа лежит сжатие информации, преобразующее двоичные последовательности любой длины в определенном узле схемы в однозначно характеризующую этот узел сигнатуру из четырех шестнадцатеричных цифр.Его применение для диагностирования основано на том принципе, что исправное цифровое устройство при периодическом возбуждении одного и того же входа будет всегда выдавать одинаковый выходной сигнал, преобразуемый в сигнатуру. Если же этот периодический выходной сигнал отличается от эталонного, то устройство неисправно.
Сравнивая сигнатуру проверяемого узла с эталонной, имеющейся в документации по обслуживанию, можно быстро проверить все устройство. Причину появления неправильной сигнатуры легко обнаружить, проверяя различные точки схемы с обозначенными для них сигнатурами, отмечая среди них правильные и неправильные и прослеживая последовательности сигналов. Процедура продолжается, пока не удастся обнаружить элемент с правильными входными, но ошибочными выходными сигнатурами. Этот элемент и будет неисправным.
Данная методика позволяет с высокой точностью локализовать неисправность и не требует высокой квалификации обслуживающего персонала.
Во многих случаях для микропроцессорной аппаратуры и микроЭВМ не удается применить автоматическое диагностирование на основе встроенных или внешних тестовых средств диагностирования или их комбинаций из-за ее сложности и высокой стоимости. Тогда следует позаботиться об облегчении ручного обслуживания, в том числеручного поиска неисправностей, с тем чтобы эту работу мог выполнять персонал невысокой квалификации.
Существенной проблемойпри ручном обслуживанииявляется сжатие информации о правильных (эталонных) и наблюдаемых при контроле реакциях аппаратуры на тестовые последовательности.
Необходимость сжатия двоичных последовательностей (векторов)произвольной длины диктуется тем, чтоcoвременная микропроцессорная техника использует достаточно сложные функциональные узлы, которые требуют для диагностированияввода большого числа тестовых. векторов, с темчтобы обеспечивалась проверка всех возможных состоянии устройства.
Сжатие информации облегчает фиксирование правильных (эталонных) реакций в технической документации и восприятие оператором результатов проверки.
Перспективным направлением в повышении обслуживаемости микропроцессорной аппаратуры и микроЭВМ является сигнатурный анализ, предполагающий использование циклических избыточных кодов для сжатия длинных двоичных кодов—реакций аппаратуры на тестовые последовательности в короткий, обычно 4-,5-разрядный шестнадцатеричный код, который просто индицируется и сравнивается с указанным в документации для каждой контролируемой точки контрольным кодом (сигнатурой).
Математическая основа сигнатурного анализа - способ кодирования двоичных последовательностей с использованием циклических кодов. При этом любое двоичное числа описывается многочленом, содержащим фиктивную переменную х, в котором каждая двоичная цифра является коэффициентом фиктивной переменной х.Например, двоичной последовательности 1100101(младший раз ряд слева) соответствует многочлен
х6+х5+х2+ 1.
Выходной двоичной последовательности с определенного узла цифрового устройства соответствует полином G(х) степенип - 1, гдеп - число разрядов двоичного кода. В процессе формирования сигнатуры полиномG(х) делится на порождающий полиномР(х), значение которого определяется структурой регистра сдвига с обратными связями в сигнатурном анализаторе. Для формирования четырехразрядной шестнадцатеричной сигнатуры из всего множества возможных полиномов выбираютР(х) = = 1 +х6 + х8 + х11+ х15, что соответствует обратным связям от 7, 9, 12 и 16 разрядов.
При делении G(х) наР(х) получаем частноеQ(х) и остатокR(х). Исходный полином при этом
G(х)=Р(х)Q(х) R(х),
где— знак суммирования по модулю 2. Если в двоичном коде, соответствующем полиномуG(х), возникли ошибки, то они вызывают преобразование исходного полиномаG(х) вG'(х). При этом полином ошибокЕо (х} определяется как
Е0(х) = G(х) G'(х) и
G'(х)=Р(х)Q'(х) R'(х) = G(х) Е0 (х).
Ошибки в выходном двоичном наборе не обнаруживаются, если остатки R(х) и R'(х) совпадают, R(х) =R'(х). При этом полиномЕ0(х) делится наР(х) без остатка, и в регистре сдвига сигнатуры совпадают для правильной и ошибочной двоичных последовательностей.
Сигнатурный анализ дает высокий процент обнаружения ошибок. Для определения вероятности Рош обнаружения ошибки в двоичной последовательности длинойn с использованием регистра сдвига наm двоичных триггерах воспользуемся следующим соотношением:
Рош=1-Н(n-m)(2п-m-1)/(2n-1),
где функции
О при n-m<=0;
H(n-m)=
1 при n-m > 0.
При m= 16 иn= 17 лишь одна последовательность ошибок может быть упущена из 217, приn = 18 - три, приn = = 19 — семь и т.д. Еслип становится очень большим, вероятность обнаружения ошибки приближается к
Рош1-2-m= 1-2-16 0,99998.