- •Часть 3
- •13.2 Одночастотные полупроводниковые лазеры с составным резонатором Фабри-Перо и их модификация с3 – полупроводниковые лазеры.
- •13.3. Одночастотные полупроводниковые лазеры с внешней дифракционной решеткой.
- •13.4. Одночастотные полупроводниковые лазеры с внутренней дифракционной решеткой.
- •13.6 Одночастотные полупроводниковые лазеры с волоконной дифракционной решеткой.
- •13.7 Одночастотные полупроводниковые лазеры с внутренней дифракционной решеткой (вертикально - излучающие полупроводниковые лазеры).
- •14.1 Импульсные полупроводниковые лазеры.
- •14.2 Прямая амплитудная модуляция излучения полупроводникового лазера.
- •15.1 Методы измерения сверхкоротких импульсов.
- •15.2. Модуляция добротности полупроводникового лазера (активная и пассивная).
- •15.3 Синхронизация мод в полупроводниковом лазере.
- •16.1 Теорема Лагранжа.
- •16.3. Оптические системы на основе полупроводниковых лазерных линеек и лазерных матриц.
14.2 Прямая амплитудная модуляция излучения полупроводникового лазера.
Для осуществления прямой высокочастотной модуляции излучения полупроводникового лазера необходимо вывести полупроводниковый лазер подачей постоянного напряжения в рабочую точку. Затем модулировать полупроводниковый лазер от синусоидального источника напряжения (генератора). Схема приведена ниже. Индуктивность разделяет нерпрерывный и высокочастотный сигнал модуляции.
Рис.203. Схема эксперимента высокочастотной синусоидальной модуляции полупроводникового лазера малым сигналом.
Ниже приведены выходные характеристики полупроводникового лазера промодулированного малым синусоидальным сигналом.
Рис.204. Выходная оптическая мощность меняется в соответствии с синусоидальным сигналом генератора напряжения.
Определяющим в этом эксперименте является глубина модуляции. Глубина модуляции определяется следующим образом:
(94)
где Рр – пиковая оптическая мощность , а Рm – минимальная оптическая мощность. Максимальная глубина модуляции достигается когда Рm = Рпор – оптическая мощность на пороге генерации. Поэтому максимальная глубина генерации может достигать 90% и более.
(95)
Скоростные уравнения для концентрации электронов в активной области и фотонов в резонаторе полупроводникового лазера:
(96)
где Ne – число инжектированных электронов, Nph – число фотонов, I – ток накачки, V - напряжение, τsp – спонтанное время жизни, τph – время жизни фотона, G – скорость стимулированной.
Проанализировав скоростные уравнения в предположении малых сигналов можно получить выражение для глубины модуляции в зависимости от частоты синусоидального сигнала, в котором имеется ярко выраженный пик:
(97)
Этот пик четко виден на зависимостях глубины модуляции от частоты синусоидального модулирующего сигнала.
Рис. 205. Расчетная зависимость относительной характеристики модуляции от частоты и времени жизни носителей заряда.
Чем меньше время жизни фотонов в резонаторе полупроводникового лазера, тем выше частота модулирующего сигнала соответствующего пику на частотной зависимости. Поэтому с увеличением тока постоянной составляющей тока накачки максимальная частота модуляции резко возрастает. При этом условие малости модулирующего сигнала должно сохраняться.
Ниже на рисунке приведены зависимости экспериментальные высокочастотной модуляции полупроводникового лазера в зависимости от уровня постоянного тока накачки. Максимальные значения лучших экспериментаторов достигают 40-50 ГГц.
Рис.206. Экспериментальная зависимость глубины модуляции от частоты.
Частота прямой модуляции зависит от конструктивных особенностей одномодового полупроводникового лазера. В зависимости от конструкции одномодового полупроводникового лазера эквивалентная схема принимает свой характерный вид и изменяет свои параметры.
Эквивалентная схема полупроводникового лазера это набор идеальных элементов, которые будучи собранными в электронную схему моделируют свойства реального прибора. Этот набор эквивалентной цепи лазера можно получить из решения скоростных уравнений, описывающих взаимодействие между интенсивностью света (плотностью фотонов) и концентрацией инжектированных носителей заряда. Использование такого подхода показывает, что полупроводниковый лазер может быть смоделирован параллельной RLC –цепью.
Рис.207. Эквивалентная схема собственно полупроводникового лазера без учета спонтанного излучения в нем.
Рис. 208. Эквивалентная схема собственно полупроводникового лазера с учетом спонтанного излучения в нем.
Рис. 209.Принципиальная конструкция полупроводникового лазера с оксидной изоляцией
Рис. 210. Эквивалентная схема оксидного полупроводникового лазера с учетом всех паразитных элементов: проводов, емкость изолирующего диэлектрика, сопротивление контактов и сам идеальный лазерный диод.
Рис. 211 Оптимизированная конструкция полупроводникового лазера для высокочастотной модуляции.
Данная конструкция одномодового полоскового лазера позволяет снизить паразитную емкость и емкость р-п перехода до минимума. Смена подводящих проводов на полосковую линию в данной полосковом лазере позволяет сместить резонансный пик в частотной зависимости до 40 ГГц, что в настоящее время является рекордным значением.
Лекция 15. Полупроводниковые лазеры для генерации сверх коротких импульсов.