- •Министерство образования и науки рф
- •Содержание
- •Определение постоянной Планка с помощью светодиода………. 74
- •Определение показателя преломления твердых тел с помощью микроскопа
- •Сведения из теории
- •Описание метода
- •Выполнение работы
- •Определение фокусного расстояния линзы
- •Теоретические сведения
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Определение радиуса кривизны линзы с помощью колец ньютона
- •Сведения из теории
- •Описание установки
- •Выполнение работы
- •Определение длины волны света с помощью колец ньютона
- •Выполнение работы
- •Определение длины световой волны с помощью дифракционной решетки
- •Сведения из теории
- •Принцип Гюйгенса - Френеля
- •Метод зон Френеля
- •Дифракция Френеля от простейших преград
- •Дифракция Фраунгофера (дифракция в параллельных лучах)
- •Дифракционная решетка
- •Характеристики дифракционной решетки
- •Описание установки
- •Выполнение работы
- •Изучение явления дифракции света с помощью дифракционной решетки
- •Описание установки
- •Выполнение работы
- •Определение концентрации раствора сахара поляриметром
- •Сведения из теории Свет естественный и поляризованный
- •Естественное вращение плоскости поляризации
- •Полутеневое поле зрения
- •Описание прибора
- •Выполнение работы
- •Определение степени поляризации лазерного луча и проверка закона малюса
- •Описание установки
- •Выполнение работы
- •Исследование фотоэлементов
- •Сведения из теории
- •Фотоэлементы с внешним фотоэффектом
- •Фотоэлементы с внутренним фотоэффектом
- •Вольт - амперные и люкс - амперные характеристики фотоэлементов
- •Применение фотоэлементов
- •Выполнение работы
- •Определение постоянной стефана - больцмана с помощью фотоэлектрического пирометра
- •Сведения из теории
- •Описание метода и установки
- •Выполнение работы
- •Определение постоянной стефана - больцмана с помощью пирометра с исчезающей нитью
- •Оптическая схема и конструкция пирометра лоп-72
- •Работа с пирометром лоп-72
- •Выполнение работы
- •Исследование линейчатых спектров испускания с помощью монохроматора ум-2
- •Сведения из теории
- •Монохроматор ум-2
- •Выполнение работы
- •Определение постоянной планка с помощью светодиода
- •Краткие теоретические сведения
- •Теоретические основы определения постоянной Планка.
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Пример обработки результатов прямого измерения
- •Пример обработки результатов косвенного измерения
- •Основные величины и единицы си
- •Дополнительные единицы
- •Производные единицы, имеющие специальное наименование
- •Абсолютные показатели преломления некоторых веществ
- •Длины волн видимой области спектра
- •Работа выхода электронов
- •Некоторые физические постоянные
Дифракционная решетка
Дифракционная решетка представляет собой систему большого числа одинаковых по ширине и параллельных друг другу щелей, лежащих в одной плоскости и разделенных непрозрачными промежутками, равными по ширине. Дифракционная решетка изготавливается путем нанесения параллельных штрихов на поверхность стекла. Число штрихов на 1 мм определяется областью спектра исследуемого излучения и изменяется от 300 мм-1 в инфракрасной области до 1200 мм-1 в ультрафиолетовой.
Однако в случае многих щелей к главным минимумам, создаваемым каждой щелью в отдельности, добавляются минимумы, возникающие в результате интерференции света, прошедшего через различные щели. На рис. 4.8 для примера показано распределение интенсивности и расположение максимумов и минимумов в случае двух щелей с периодом d и шириной щели a.
В одном и том же направлении все щели излучают энергию колебаний одинаковой амплитуды. И результат интерференции зависит от разности фаз колебаний, исходящих от сходственных точек соседних щелей (например, C и E, B и F), или от оптической разности хода ED от сходственных точек двух соседних щелей до точки C. Для всех сходственных точек эта разность хода одинакова. Если ED = k или, так как ED = d sin ,
d sin = k, k = 0,1,2..., (4.9)
колебания соседних щелей взаимно усиливают друг друга, и в точке C фокальной плоскости линзы наблюдается максимум дифракции. Амплитуда суммарного колебания в этих точках экрана максимальна:
Amax = N A , (4.10)
где A - амплитуда колебания, посылаемого одной щелью под углом . Интенсивность света
Jmax = N2A2 = N2J . (4.11)
Поэтому формула (4.9) определяет положение главных максимумов интенсивности. Число k дает порядок главного максимума.
Положение главных максимумов (4.9) определяется соотношением
. (4.12)
Максимум нулевого порядка один и расположен в точке C0, максимумов первого, второго и т.д. порядков по два и расположены они симметрично относительно C0, на что указывает знак +. На рис. 4.8 показано положение главных максимумов.
Кроме главных максимумов, имеется большое число более слабых побочных максимумов, разделенных добавочными минимумами. Побочные максимумы значительно слабее главных. Расчет показывает, что интенсивность побочных максимумов не превышает 1/23 интенсивности ближайшего главного максимума.
В главных максимумах амплитуда в N раз, а интенсивность в N2 раз больше амплитуды, даваемой в соответствующем месте одной щелью. Четко локализованные в пространстве линии с увеличенной яркостью легко обнаруживаются и могут быть использованы в целях спектроскопических исследований.
По мере удаления от центра экрана интенсивность дифракционных максимумов убывает (увеличивается расстояние от источников). Поэтому не удается наблюдать все возможные дифракционные максимумы. Заметим, что количество дифракционных максимумов, даваемых решеткой по одну сторону экрана, определяется условием sin 1 ( = - максимальный угол дифракции), откуда с учетом (4.9)
. (4.13)
При этом не следует забывать, что k - целое число.
Положение главных максимумов зависит от длины волны . Поэтому при освещении дифракционной решетки белым светом все максимумы, кроме центрального (k = 0), разложатся в спектр, обращенный фиолетовым концом к центру дифракционной картины. Таким образом, дифракционная решетка может служить для исследования спектрального состава света, т.е. для определения частот (или длин волн) и интенсивности всех его монохроматических компонент. Применяемые для этого приборы называются дифракционными спектрографами, если исследуемый спектр регистрируется с помощью фотопластинки, и дифракционными спектроскопами, если спектр наблюдается визуально.