- •1.Энергетическая характеристика
- •1.1. Виды химической связи
- •1.1.1. Гомеополярная (ковалентная) связь
- •1.1.2. Гетерополярная (ионная) связь
- •1.1.3. Металлическая связь
- •И образования межмолекулярной связи Ван-дер- Ваальса (б)
- •1.2. Молекулярные и координационные решетки
- •1.3. Распределение электронной плотности в кристалле
- •1.5. Расчет энергетической прочности ионной решетки
- •1.6 . Ионные радиусы
- •1.7. Уравнение а.Ф. Капустинского
- •1.8. Атомные радиусы
- •1.9. Расчет энергетической прочности атомной решетки
- •2. Основные типы кристаллических структур
- •2.1. Способы описания и изображения атомного строения кристалла
- •2.1.1. Кристаллы
- •2.1.2. Индексы Миллера
- •2.1.3. Примеры решения задач
- •2.1.4. Полиморфизм
- •2.1.5. Изоморфизм
- •2.1.6. Стекла и другие аморфные тела
- •2.2. Плотные упаковки
- •2.3. Политипизм
- •2.4. Основные типы кубических структур
- •2.5. Основные типы гексагональных структур
- •2.6. Способы описания кристаллических структур
- •2.7. Координационное число и плотность упаковки
- •2.8. Связь между типом структуры, координационным числом и электрофизическими свойствами
- •2.9. Островные, цепные и слоистые структуры
- •3. Связь между структурными, энергетическими, механическими и электрофизическими свойствами кристаллов
- •3.1. Твердость
- •3.2. Устойчивость структур
- •3.3. Реакционная способность
- •3.4. Сжимаемость и тепловое расширение
- •3.5. Энергия атомизации и ширина запрещенной зоны полупроводников
- •Биографические сведения об ученых – кристаллохимиках
- •Библиографический список
- •Оглавление
- •394026 Воронеж, Московский просп., 14
2. Основные типы кристаллических структур
2.1. Способы описания и изображения атомного строения кристалла
2.1.1. Кристаллы
Периодичность структуры является наиболее характерным свойством кристаллов. В периодической решетке всегда можно выделить элементарную ячейку, транслируя которую в пространстве легко получить представление о структуре всего кристалла. Образование каким-либо элементом или соединением определенной пространственной решетки в основном зависит от размеров атомов и электронной конфигурации их внешних оболочек.
Русский ученый Е. С. Федоров почти за 40 лет до того, как были найдены методы рентгеноструктурного анализа, рассчитал возможные расположения частиц в кристаллических решетках различных веществ и предложил 230 пространственных гпупп. Геометрически возможны лишь 14 различных пространственных решеток, получивших название решеток Браве и являющихся основой шести кристаллических систем, приведенных в табл. 2.1 и на рис. 2.1. Иногда считают ромбоэдрическую, или тригональную, систему (а = b = с; α = β = γ ≠ 90°) самостоятельной седьмой системой.
Если атомы расположены только в вершинах элементарной ячейки, то решетка называется примитивной или простой. Если атомы есть и на гранях или в объеме ячейки, то решетка будет сложной (например, базо-, объемо- и гранецентрированной).
Кристаллические тела могут быть в виде отдельных крупных кристаллов — монокристаллов или состоять из совокупности большого числа мелких кристалликов (зерен).
Таблица 2.1
Пространственные решетки кристаллических систем
Кристалличе- ская система |
Пространственная решетка |
Соотношение между осевыми углами и осевыми единицами |
|
1. Триклинная |
I – простая |
a ≠ b ≠ c; α ≠ β ≠ γ ≠ 90° | |
2. Моноклинная |
II – простая III – базоцентрированная |
a ≠ b ≠ c; α = γ = 90°; β ≠ 90° | |
3. Ромбическаяили орторомбическая |
IV – простая V – базоцентрированная VI – объемноцентрированная VII – гранецентрированная |
a ≠ b ≠ c; α = β = γ = 90° | |
4. Гексагональная |
VIII – простая IX – ромбоэдрическая |
a = b ≠ c; α = β = 90°; γ = 120° | |
5. Тетрагональная |
X – простая XI – объемноцентрированная |
a = b ≠ c; α = β = γ = 90° | |
6. Кубическая |
XII – простая XIII ‑ объемноцентрированная XIV – гранецентрированная |
a = b = c; α = β = γ = 90° |
Рис. 2.1. Решетки Браве
В случае поликристалла в пределах каждого зерна атомы расположены периодически, но при переходе от одного зерна к другому на границах раздела регулярное расположение частиц нарушается.
Монокристаллы характеризуются анизотропией свойств. В поликристаллических телах анизотропия в большинстве случаев не наблюдается, однако с помощью специальной обработки могут быть получены текстурованные материалы с ориентированым расположением кристаллов.
Так как монокристаллы анизотропны, то при определении электрических, механических и других свойств необходимо указывать расположение кристаллографических плоскостей и направления в кристаллах. Для этого используют индексы Миллера.