- •Слов'янський державний педагогічний університет
- •Питання допуску:
- •Завдання 1.
- •Комплект напівпровідникових приладів :
- •Завдання 3. Зміна опору напівпровідників при нагріванні і охолодженні
- •Будова і дія електричного термометра опору /ознайомитися/
- •Завдання 4. Зміна опору напівпровідників при освітленні
- •Завдання 5. Дія напівпровідникового фотоелемента
- •Дія простого фотореле
- •Завдання 6. Електронна і діркова електропровідність напівпровідників
- •Дія напівпровідникового термоелемента
- •Охолодження і нагрівання контакту двох напівпровідників електричним струмом /ознайомитися/
- •Завдання 7. Одностороння електропровідність електронно-діркового переходу
- •Випрямлення змінного струму напівпровідниковим діодом
- •Завдання 8. Електронно-діркові переходи транзистора
- •Підсилювач струму на транзисторі
- •Контрольні питання
Завдання 5. Дія напівпровідникового фотоелемента
Обладнання: 1) фотоелемент напівпровідниковий на підставці, 2) гальванометр демонстраційний від амперметра, 3) джерело постійного струму напругою близько 1,5 В, 4) реостат на 3000 Ом і 0,3А, 5) лампа електрична на підставці, 6) шнур електричний з вилкою і дроти сполучні.
Перед демонстрацією досліду учнів знайомлять з пристроєм напівпровідникового фотоелемента по стінній таблиці «Фотоелемент», де прилад зображений в розрізі (рис. 6).
Рис.6 Конструкція селенового фотоелемента
Селеновий фотоелемент є залізною пластинкою 2, що покрита тонким шаром селену 3, що має діркову провідність. На поверхню селену нанесений тонкий напівпрозорий шар золота 4. В результаті спеціальної обробки частина атомів золота проникла в селен і утворила в нім тонкий шар з електронною провідністю. На межі двох шарів з різним типом провідності утворився електронно-дірковий перехід.
Від залізної пластинки і плівки золота (на неї покладено контактне кільце 1 зроблені відведення до металевих клем 6. Фотоелемент укріплений в круглому пластмасовому корпусі 5. Пояснюючи будову вентильного фотоелемента, слід підкреслити його принципову схожість з будовою напівпровідникового діода: і той і інший прилад має електронно-дірковий перехід. Для виявлення цього переходу спочатку збирають ланцюг демонстраційного омметра, що застосовуватиметься пізніше в дослідах з діодом. Потім в ланцюг омметра включають затемнений (його закривають від світла) фотоелемент: один раз — при одній полярності, другий раз — при зворотній (рис.7).
По добре помітній зміні струму в ланцюзі роблять висновок про односторонню провідність фотоелемента, тобто про наявність у ньому електронно-діркового переходу.
Після цього демонструють дію фотоелемента. Збирають установку по рис.8 і при денному освітленні виявляють по гальванометру появу слабкого струму в ланцюзі. Потім фотоелемент освітлюють електричною лампою.
Рис.7 Демонстрація електронно-діркового переходу у напівпровідниковому фотоелементі
Рис.8 Демонстрація дії напівпровідникового фотоелемента
Спостерігають, як по міру наближення лампи до фотоелемента струм в ланцюзі збільшується і стрілка гальванометра відхиляється на усю шкалу. При затемненні фотоелемента струм майже припиняється. Таким чином переконуються, що напівпровідниковий фотоелемент є джерелом струму, в якому енергія світла перетвориться безпосередньо в електричну.
Процес виникнення фото електрорушійної сили пояснюють за схемою, представленою на стінній таблиці (рис. 9). Під дією світла в електронному напівпровіднику відбувається інтенсивне утворення вільних носіїв заряду, тобто електронів і дірок, які, беручи участь в тепловому русі, переміщуються в різних напрямках, у тому числі і у напрямку до електронно-діркового переходу.
Тут під дією електричного поля електронно-діркового переходу відбувається розподіл дифундуючих до нього зарядів. Дірки, що утворюються в електронному напівпровіднику, переходять через замикаючий шар в дірковий напівпровідник і скупчуються в нім, електрони ж залишаються в електронному напівпровіднику і заряджають його негативно.
Таким чином, пари що утворилися під дією світла, розділяються: електрони накопичуються в електронному напівпровіднику, а дірки — в дірковому.
Одночасно під дією електричного поля електронно-діркового переходу з діркового напівпровідника в електродний напівпровідник рухаються електрони. В результаті настає динамічна рівновага між потоком дірок і електронів, У цей момент між електродами встановлюється деяка різниця потенціалів, яка і є фото електрорушійною силою фотоелемента.
Рис. 9 Схема дії напівпровідникового фотоелемента
Само собою зрозуміло, що величина фото електрорушійної сили ніколи не може бути більше різниці потенціалів електричного поля електронно-діркового переходу. Тому при збільшенні освітленості фотоелемента його ЕРС спочатку зростає, а потім досягає стану насичення. Графік цієї залежності показаний на рис 9-1.
Далі показують роботу фотоелемента у фотодіодному режимі за допомогою установки, показаної на рис. 7
У ланцюг демонстраційного омметра включають затемнений селеновий фотоелемент так, щоб на його електронно-дірковий перехід було подано зворотну напругу (не більше 0,2В). Демонстраційний гальванометр виявляє слабкий струм, обумовлений рухом через електронно-дірковий перехід не основних носіїв заряду. Потім освітлюють фотоелемент і спостерігають різке зростання струму. Величина струму залежить від інтенсивності освітлення.
Зростання струму в ланцюзі пояснюють явищем фотопровідності, тобто збільшенням концентрації електронів і дірок. При затемненні фотоелемента струм в ланцюзі майже припиняється: усі додаткові носії заряду, що утворилися, рекомбінуються. Фотоелемент, працюючий в такому режимі, називають фотодіодом. Як показує дослід, чутливість фотодіода дуже висока. Вона значно більше, ніж у фотоелемента.
Слід звернути увагу на те, що фотоелемент, працюючий у фотодіодному режимі, ще не є генератором струму, а поводиться подібно до фото резистора, але порівняно з ним має значно більшу чутливістю до світла. Чутливість фотодіода, як і фото резистора, залежить від величини прикладеної напруги.