- •«Орловский государственный аграрный университет» методические указания к лабораторным работам по физике
- •Работа № 3.1 изучение микроскопа и определение показателя преломления прозрачных пластинок при помощи микроскопа
- •Описание метода измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Измерение показателя преломления стеклянной пластинки
- •Контрольные вопросы
- •Работа№3.2 изучение рефрактометра и определение показателя преломления прозрачных веществ
- •Описание прибора и методика измерения
- •Порядок выполнения работы
- •Работа №3.3 измерение радиуса кривизны линзы и длин световых волн при помощи интерференционных колец ньютона
- •Введение
- •Порядок выполнения работы
- •Измерение радиуса кривизны линзы
- •Работа №3.4 изучение явления дифракции и определение длины волны света при помощи дифракционной решетки
- •Порядок выполнения работы
- •Определение полосы пропускания светофильтров с помощью дифракционной решетки
- •Описание прибора и метода измерения
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Работа№3.6 изучение явления поляризации света и проверка законов брюстера и малюса
- •Порядок выполнения работы
- •I. Изучение закона брюстера
- •II. Изучение закона малюса
- •Работа №3.7 исследование вращения плоскости поляризации света
- •Описание прибора и метода измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Изучение законов излучения абсолютно черного тела и их применение к нечерным телам
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Работа №3.9 изучение линейчатых спектров. Градуировка спектроскопа и определение постоянной ридберга по спектру гелия
- •Порядок выполнения работы
- •Градуировка спектроскопа по спектру водорода
- •Определение длин поли видимой части спектра гелия и вычисление постоянной Ридберга
- •Контрольные вопросы
- •Работа №3.10 изучение законов освещенности
- •Порядок выполнения работы
- •Зависимость освещенности от расстояния до источника света
- •Определение зависимости освещенности от угла падения лучей
- •Контрольные вопросы
- •Работа № 3.11 изучение фотоэлектрических свойств фоторезисторов
- •Описание установки
- •Некоторые параметры фоторезисторов
- •Порядок работы.
- •Зависимость фототока от напряжения при постоянном световом потоке
- •Зависимость фототока от светового потока при постоянном напряжении
- •Контрольные вопросы
- •Изучение явления внешнего фотоэффекта. Определение постоянной планка
- •Описание установки
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Работа №3.13 исследование температурной зависимости сопротивления полупроводников
- •Описание установки
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Работа №3.14 снятие счетной характеристики счетчика по космическому излучению
- •Введение
- •Порядок выполнения работы
- •Работа № 3.15 изучение явления дифракции света от щели и нити.
- •Работа №3.16
- •Введение
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы Упражнение 1
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Содержание
Контрольные вопросы
1. Что называется световым потоком?
2. Каковы границы видимой части спектра?
3. Что называется освещенностью?
4. В каких единицах измеряются световой поток, сила света, освещенность?
5. В чем проявляется физиологическое действие света?
6. Приведите примеры физико-химического действия света?
Работа № 3.11 изучение фотоэлектрических свойств фоторезисторов
Цель работы: ознакомиться с явлением фотопроводимости, с принципом работы фоторезисторов. Исследовать их основные свойства.
Приборы и принадлежности: исследуемые фоторезисторы, вольтметр, потенциометр. лампа накаливания, ирисовая диафрагма, микроамперметр, объектив.
Введение
Фотоэлектрические преобразователи являются первичными датчиками при измерении световых величин электрическими методами. Они подразделяются на следующие типы:
1) фотоэлементы с внешним фотоэффектом;
2) фотоэлементы с внутренним фотоэффектом или фоторезисторы;
3) фотоэлементы с запирающим слоем, так называемые, вентильные фотоэлементы.
Все три типа преобразователей принципиально отличаются друг от друга по природе процессов, проходящих в них под действием световой энергии. В данной работе необходимо познакомиться с приборами, работа которых основана на внутреннем фотоэффекте. Исторически вначале был изучен внешний фотоэффект.
Явление внешнего фотоэффекта заключается в том, что при попадании на поверхность металла светового потока электроны металла поглощают энергию световых лучей, тем самым приобретая дополнительную энергию. Если этой энергии достаточно для совершения работы выхода, то электроны уходят с поверхности металла. Это явление было открыто русским ученым А. Г. Столетовым.
Опытным путем установлены следующие основные законы внешнего фотоэффекта:
1. Максимальная скорость фотоэлектронов определяется частотой света и не зависит от его интенсивности;
2. Для каждого вещества существует красная граница фотоэффекта, т. е. минимальная частота света νкр при которой еще возможен внешний фотоэффект. Величина νкр зависит от химической природы вещества и состояния его поверхности.
3. Число фотоэлектронов, вырываемых с поверхности катода за единицу времени, пропорционально интенсивности света
I=k·Ф. (11.1)
4. Опыт показывает, что фотоэффект практически безынерционен. Трудности истолкования первого и второго законов с позиций волновой оптики привели А.Эйнштейна к созданию теории, объясняющей фотоэффект с точки зрения квантовых представлений. В соответствии с законом сохранения энергии энергия фотона, поглощенного веществом, частично расходуется на совершение работы выхода электроном Авых, а частично превращается в кинетическую энергию фотоэлектрона, т. е.
(11.2)
^
где m — масса электрона;
υmах — максимальная скорость электрона;
h — постоянная Планка (6,6З·10-34Дж·с);
ν— частота падающего света;
Авых — работа выхода электрона из металла.
Это уравнение называют уравнением Эйнштейна для внешнего фотоэффекта (для металлов). Оно объясняет экспериментальные законы фотоэффекта:
1. Чем выше частота падающего света, тем большей скоростью обладают электроны, вылетающие из металла.
2. Из этого же уравнения следует, что электрон может выйти из металла только в том случае, если частота света превышает некоторую граничную частоту, называемую красной границей фотоэффекта. Ее можно определить из уравнения (11.2), полагая в нем υmах = 0,тогда
(11.3)
(11.4)
Тогда очевидно, что металлы с малой работой выхода являются более чувствительными в фотоэлектронном отношении. Поэтому в фотоэлементах в качестве фотокатодов применяются щелочные металлы и их окислы.
3. Интенсивность света определяет количество фотонов, падающих на металл. Каждый фотон поглощается одним электроном.
4. Эффект, безынерционен вследствие того, что процесс поглощения фотона электроном происходит мгновенно, не требуется времени для накапливания энергии.
В кристаллических полупроводниках и диэлектриках наблюдается внутренний фотоэффект. Это явление состоит в том, что под действием падающего света увеличивается электропроводность этих веществ за счет возрастания в них числа свободных носителей заряда (электронов проводимости и дырок).
Это явление часто называется фотопроводимостью. Его можно легко объяснить на основе зонной теории твердых тел. Напомним, что в диэлектрике и беспримесном полупроводнике зона проводимости не содержит электронов, а лежащая ниже нее валентная зона проводимости целиком заполнена электронами. Разность ΔЕ между энергиями на нижнем уровне зоны проводимости и верхнем уровне валентной зоны называется энергией активации полупроводника (см. рис. 11.1).
У полупроводника ΔЕ значительно меньше, чем у диэлектрика. Она равна 0,1—2 эВ, а у диэлектрика более 2 эВ. Если энергия падающего фотона hν больше или равна ΔЕ, то при поглощении фотона электрон может перейти из валентной зоны в зону проводимости. Таким образом, в свободной зоне появляется электрон, а в валентной зоне — положительная дырка.
Рис. 11.1
Эти пары разноименно заряженных носителей тока способны под действием внешнего электрического поля приходить в упорядоченное движение, образуя электрический ток. Очевидно, что концентрация электронов проводимости и дырок, а также зависящая от нее электропроводность вещества пропорциональны числу фотонов, падающих на единицу поверхности вещества за единицу времени, т. е. интенсивности монохроматического света. А это значит, что для фоторезисторов выполняется третий экспериментальный закон и справедливо уравнение (11.1).
Для внутреннего фотоэффекта также существует красная граница. Это та минимальная частота света, при которой возможна фото провод им ость данного вещества, т. е.
(11.5)
При включении фоторезисторов в электрическую цепь и для их работы необходимо, также как и для фотоэлементов с внешним фотоэффектом, наличие в ней источников питания. Однако при этом нет необходимости в соблюдении полярности.
Фоторезисторы, в отличие от фотоэлементов, не обладают односторонней проводимостью, а проводят ток в обоих направлениях. Конструкция фоторезисторов крайне проста. В большинстве случаев она представляет собой нанесенный на стеклянную пластинку тонкий слой светочувствительного полупроводника с двумя т окоп ров од я щи ми электродами.
В связи с тем, что работа фоторезистора сильно зависит от влажности окружающей среды, светочувствительный слои покрывают прозрачным лаком. В качестве светочувствительного слоя применяют селен, сернистый таллий, сернистый свинец, сернистый висмут и сернистый кадмий. Наша промышленность выпускает серийно фоторезисторы из сернистого свинца (тип ФСА) и сернистого кадмия (тип ФСК).
Для изучения работы фоторезисторов экспериментально снимают ряд характеристик:
1. Вольтамперные характеристики фоторезисторов представляют собой зависимость фототока от напряжения при постоянном световом потоке, т. е. Iф = f(u) при Ф = соnst.. Вольтамперные характеристики фоторезисторов представляют собой прямые линии (рис. 11.2).
2. Световые характеристики — это зависимость фототока от светового потока при постоянном напряжении на фоторезисторе, т. е. Iф = f(ф) при u = соnst (рис. 11.3).
Рис. 11.2 Рис. 11.3
Для фоторезисторов они нелинейны и имеют тенденцию к насыщению. Как видно из рис. 11.3 особенностью фоторезисторов является наличие тока в цепи в отсутствии светового потока. Этот ток называют темновым фототоком и обозначают Iт. Для разных типов фоторезисторов он достигает от 5 до 50% рабочего фототока.
3. Темновое сопротивление — это сопротивление фоторезистора при отсутствии освещения фоторезистора при нормальном внешнем напряжении:
(11.6)
По экспериментально снятым характеристикам рассчитывают параметры фоторезисторов. К ним относятся:
1. Интегральная чувствительность. Она показывает, какой величины фототок создаётся в фоторезисторе световым потоком в один люмен при постоянном напряжении. Интегральная чувствительность рассчитывается по уравнению
(11.7)
здесь ΔΙф — изменение фототока в мкА;
ΔФ — изменение светового потока, вызывающего изменение фототока на ΔΙф. Единицей измерения интегральной чувствительности, является
[k]=мкА/лм
2. Удельная чувствительность — это отношение интегральной чувствительности к величине номинального напряжения, приложенного к фоторезистору.
(11.8)
здесь ΔК — изменение интегральной чувствительности;
ΔU — изменение напряжения, вызывающее изменение интегральной чувствительности на ΔК.
Единицей измерения удельной чувствительности является
Номинальное напряжение — это напряжение, которое является рабочим для данного фоторезистора, оно дается в паспорте.
3. Зависимость внутреннего сопротивления от светового потока. По вольтамперной характеристике можно построить зависимость внутреннего сопротивления фоторезистора от величины светового потока, т. е, R = f(Ф) (рис. 11.4).
Рис. 11.4
Здесь Rт— темновое сопротивление фоторезистора;
R1 и R2 — сопротивление его при световом потоке Ф2 и Ф1.
4. Световая чувствительность фоторезисторов. Световой чувствительностью фоторезисторов называют отношение изменения внутреннего сопротивления резистора к изменению светового потока. Обозначают эту величину S.
(11.9)
Единицей измерения световой чувствительности является
[S]=Ом/лм
5. Кратность изменения сопротивления. Под ней понимается отношение темнового сопротивления к сопротивлению при данном световом потоке
(11.10)
Здесь М — кратность изменения сопротивления;
Rт— темновое сопротивление фоторезистора;
R1 — сопротивление фоторезистора при данном световом потоке.
Величина М для разных типов фото рези сто ров колеблется от нескольких десятков до нескольких сотен, а для особенно чувствительных фоторезисторов она может достигать даже нескольких сотен тысяч единиц. Кратность изменения сопротивления есть безразмерная величина.