- •«Орловский государственный аграрный университет» методические указания к лабораторным работам по физике
- •Работа № 3.1 изучение микроскопа и определение показателя преломления прозрачных пластинок при помощи микроскопа
- •Описание метода измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Измерение показателя преломления стеклянной пластинки
- •Контрольные вопросы
- •Работа№3.2 изучение рефрактометра и определение показателя преломления прозрачных веществ
- •Описание прибора и методика измерения
- •Порядок выполнения работы
- •Работа №3.3 измерение радиуса кривизны линзы и длин световых волн при помощи интерференционных колец ньютона
- •Введение
- •Порядок выполнения работы
- •Измерение радиуса кривизны линзы
- •Работа №3.4 изучение явления дифракции и определение длины волны света при помощи дифракционной решетки
- •Порядок выполнения работы
- •Определение полосы пропускания светофильтров с помощью дифракционной решетки
- •Описание прибора и метода измерения
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Работа№3.6 изучение явления поляризации света и проверка законов брюстера и малюса
- •Порядок выполнения работы
- •I. Изучение закона брюстера
- •II. Изучение закона малюса
- •Работа №3.7 исследование вращения плоскости поляризации света
- •Описание прибора и метода измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Изучение законов излучения абсолютно черного тела и их применение к нечерным телам
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Работа №3.9 изучение линейчатых спектров. Градуировка спектроскопа и определение постоянной ридберга по спектру гелия
- •Порядок выполнения работы
- •Градуировка спектроскопа по спектру водорода
- •Определение длин поли видимой части спектра гелия и вычисление постоянной Ридберга
- •Контрольные вопросы
- •Работа №3.10 изучение законов освещенности
- •Порядок выполнения работы
- •Зависимость освещенности от расстояния до источника света
- •Определение зависимости освещенности от угла падения лучей
- •Контрольные вопросы
- •Работа № 3.11 изучение фотоэлектрических свойств фоторезисторов
- •Описание установки
- •Некоторые параметры фоторезисторов
- •Порядок работы.
- •Зависимость фототока от напряжения при постоянном световом потоке
- •Зависимость фототока от светового потока при постоянном напряжении
- •Контрольные вопросы
- •Изучение явления внешнего фотоэффекта. Определение постоянной планка
- •Описание установки
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Работа №3.13 исследование температурной зависимости сопротивления полупроводников
- •Описание установки
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Работа №3.14 снятие счетной характеристики счетчика по космическому излучению
- •Введение
- •Порядок выполнения работы
- •Работа № 3.15 изучение явления дифракции света от щели и нити.
- •Работа №3.16
- •Введение
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы Упражнение 1
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Содержание
Описание установки
Схема установки, применяемой в данной работе, приведена на рис. 12.4. К источнику тока Е присоединено переменное сопротивление R, с помощью которого можно изменять величину задерживающего напряжения, подаваемого на фотоэлемент Ф. В работе применяется сурьмяно-цезиевый вакуумный фотоэлемент СЦВ-3. Напряжение на его электродах измеряется вольтметром V. Переменное сопротивление, фотоэлемент и вольтметр, смонтированы на одной панели, где приведена и схема их включения. Для измерения фототока применяется гальванометр с чувствительностью 310-7 А/дел. Для освещения фотоэлемента применяется осветитель и два светофильтра: оранжевый и фиолетовый.
Порядок работы
Присоединить источник тока к клеммам. К клемме А присоединить положительный полюс источника тока. К клеммам С и Д присоединить гальванометр.
Рис. 12.4
Установить рукоятку переменного сопротивления в левое крайнее положение. При этом вольтметр показывает ноль.
Включить осветитель, и свет от него направить на катод фотоэлемента через открытое окно коробки, в которой находится фотоэлемент. Добиться такого положения осветителя, чтобы стрелка гальванометра отклонилась на всю шкалу (10 делений или даже чуть больше).
Окно коробки закрыть светофильтром ОС-13, для которого минимальная длина волны пропускания равна =0,56 мкм. Плавно поворачивая рукоятку переменного сопротивления, увеличить величину задерживающего напряжения. В таблицу занести значения фототока (в делениях шкалы) и напряжение (в вольтах) для каждого деления шкалы гальванометра, начиная с U=0. Замечают запирающее напряжение U1, при котором I=0.
Светофильтр ОС-13 заменить светофильтром ФС-6, длина волны максимального пропускания которого 2=0,45 мкм и провести такие же измерения, как и для светофильтра ОС-13. Данные занести в таблицу 12.1.
По данным таблицы постройте кривые зависимости фототока (в делениях шкалы гальванометра) от задерживающего напряжения. Так как задерживающее напряжение меньше нуля, то его значения откладывают влево от нуля.
По формулам (12.9) и (12.10) подсчитайте значение постоянной Планка и работы выхода для материала катода, применяемого фотоэлемента.
Таблица 12.1
Определение постоянной Планка и работы выхода электрона из металла
=5,610-7 м |
U (в) |
|
|
|
|
|
I (дел) |
|
|
|
|
|
|
=4,510-7м |
U (в) |
|
|
|
|
|
I (дел) |
|
|
|
|
|
По данным таблицы постройте кривые зависимости фототока (в делениях шкалы гальванометра) от задерживающего напряжения. Так как задерживающее напряжение меньше нуля, то его значения откладывают влево от нуля.
По формулам (12.9) и (12.10) подсчитайте значение постоянной Планка и работы выхода для материала катода, применяемого фотоэлемента.