- •Электростатика и электродинамика Лабораторный практикум по физике
- •Ковров 2005
- •Электростатика и электродинамика Лабораторный практикум по физике
- •О бщие положения по выполнению лабораторного практикума. Структура, требования и правила оформления отчетов по лабораторным работам
- •Общие положения
- •2. Структура отчета
- •Требования к содержанию разделов отчета
- •Правила оформления отчета
- •Описание установки
- •Порядок выполнения измерений
- •Обработка результатов измерений
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 2.2 Изучение электрических свойств сегнетоэлектриков
- •Введение
- •Описание установки
- •Порядок выполнения измерений
- •Обработка результатов измерений
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 2.3 Измерение сопротивления с помощью мостика Уитстона
- •Введение
- •Описание установки
- •Порядок выполнения измерений
- •Обработка результатов измерений
- •Контрольные вопросы
- •Описание установки
- •Порядок выполнения измерений
- •Обработка результатов измерений
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 2.5 Измерение эдс источника тока методом компенсации
- •Введение
- •Описание установки
- •Порядок выполнения измерений
- •Лабораторная работа 2.6
- •Описание установки
- •Порядок выполнения измерений
- •Обработка результатов измерений
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 2.7 Изучение явления Зеебека
- •Введение
- •Описание установки
- •Порядок выполнения измерений
- •Обработка результатов измерений
- •Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Оглавление
Описание установки
Принципиальная схема экспериментальной установки представлена на рис. 3.
Рис. 3
К крайним клеммам двух последовательно соединенных плоских конденсаторов подключен источник переменного напряжения. Это напряжение распределяется между конденсатором с сегнетоэлектриком С0 и конденсатором С, электроемкость которого постоянна. Напряжение с конденсатора С подается на вход У осциллографа, а с конденсатора С0 – на вход Х. Поскольку конденсаторы соединены последовательно, заряды на их обкладках одинаковы, а следовательно, одинаковы и индукции D электрического поля между обкладками этих конденсаторов. Напряжение на конденсаторе С пропорционально индукции D поля, а напряжение на конденсаторе с сегнетоэлектриком С0 пропорционально напряженности Е электрического поля. Таким образом, на экране осциллографа будет воспроизведена зависимость
D = f(E). Так как индукция электрического поля в диэлектрической среде связана с поляризованностью диэлектрика зависимостью
D = εoE + P,
то на экране осциллографа с точностью до линейного члена εoЕ будет воспроизведена петля гистерезиса, изображенная на рис. 1. Отрезки, отсекаемые максимальной петлей гистерезиса на оси ординат по аналогии с Рr называются остаточной индукцией Dr.
Напряжение, подаваемое с конденсатора C0 на горизонтально отклоняющие пластины осциллографа
. (2)
Для плоского конденсатора
, (3)
где σ – поверхностная плотность заряда на обкладках. Следовательно,
. (4)
Так как D = εεoE, а емкость плоского конденсатора
, (5)
где h – расстояние между его обкладками, то
Ux = Eh. (6)
Если известен коэффициент отклонения b1 луча при подаче сигнала на горизонтально отклоняющие пластины, то
Ux= b1x. (7)
С учетом (6) имеем
. (8)
На вертикально отклоняющие пластины подается напряжение, снимаемое с конденсатора С:
. (9)
Таким образом, напряжение, подаваемое на вход Y осциллографа, пропорционально индукции D электрического поля. Это напряжение пропорционально отклонению электронного луча по вертикали:
Uy= b2y, (10)
где b2 – коэффициент отклонения луча при подаче сигнала на вертикально отклоняющие пластины. Следовательно,
. (11)
Определив значения D и Е на экране осциллографа для разных точек начальной кривой поляризации, можно найти зависимость диэлектрической проницаемости ε сегнетоэлектрика от напряженности поля по формуле:
. (12)