- •« Петербургский государственный университет путей сообщения»
- •Краткие сведения о фотопроводимости
- •Конструкция и характеристика фоторезистора
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов измерений
- •Вольт-амперные характеристики фоторезистора при трех значениях светового потока
- •Световая характеристика фоторезистора
- •Чувствительность фоторезистора к световому потоку
- •Контрольные вопросы
- •Содержание
- •Исследование фоторезистора
- •190031, СПб., Московский пр., 9.
Государственное образовательное учреждение
высшего профессионального образования
« Петербургский государственный университет путей сообщения»
Кафедра «Физика»
Исследование фоторезистора
Методические указания к лабораторной работе № 329
САНКТ- ПЕТЕРБУРГ 2007
Целью работы является изучение:
вольт-амперных характеристик фоторезистора;
световых характеристик фоторезистора.
Краткие сведения о фотопроводимости
Фотопроводимостью называется изменение электропроводности вещества под действием электромагнитного излучения. При отсутствии освещения темновая проводимость полупроводника обусловлена свободными носителями заряда (электронами и дырками), которые образуются за счет энергии тепловых колебаний кристаллической решетки. Освещение увеличивает электропроводность полупроводника, т. к. появляются дополнительные свободные носители заряда. Они возникают вследствие поглощения излучения веществом. Поглощение кванта излучения, приводящее к переходу электрона из валентной зоны в зону проводимости (переход 1 на рис. 1), называют собственным поглощением (а сам переход межзонным). Каждый электрон, ушедший из валентной зоны, оставляет в ней вакантное место – дырку. Таким образом, собственная фотопроводимость определяется генерированными светом свободными электронами и дырками. Энергия поглощаемых фотонов
не может быть меньше, чем ширина запрещенной зоны :
,
где h – постоянная Планка;
– частота электромагнитного излучения;
с – скорость света в вакууме;
– длина волны излучения.
Пороговая частота , с которой начинается собственная фотопроводимость, определяет ее длинноволновую границу
.
а)
En
б)
Рис. 1. Собственное и примесное поглощение света:
1 – собственное поглощение; 2 – примесное поглощение; Eс – энергия нижнего края (дна) зоны проводимости; Ev – энергия верхнего края (потолка) валентной зоны;
Eg – ширина запрещенной зоны; Е2 – энергетический уровень донорной примеси
Поглощение света, приводящее к ионизации или возбуждению примесных атомов кристалла, называют примесным поглощением. Для ионизации атома примеси фотон должен обладать энергией
.
Если примесный атом является донором (рис. 1), то Еп – минимальная энергия, которую необходимо сообщить электрону, находящемуся на донорном уровне, чтобы перевести его в зону проводимости (переход 2). При ионизации атомов донорной примеси образуются свободные электроны, а атомы примеси превращаются в положительно заряженные ионы. В случае акцепторной примеси примесный уровень лежит вблизи верхнего края валентной зоны, и для возбуждения фотопроводимости необходимо сообщить энергию электрону валентной зоны, чтобы перевести его на акцепторный уровень. В результате в валентной зоне образуется свободная дырка, а атом примеси превращается в отрицательно заряженный ион.
Поскольку величина Еп меньше ширины запрещенной зоны (см. рис. 1, а), пороговая частота примесной фотопроводимости оказывается меньшей, чем , а соответствующая длинноволновая граница сдвигается в сторону больших длин волн.
Проводимость полупроводника при наличии освещения превосходит значение темновой проводимости на величину , то есть
.
Значение фотопроводимости возрастает с увеличением концентрации генерированных светом свободных носителей заряда. Кроме того, фотопроводимость зависит от подвижности этих носителей. Если подвижность свободных носителей заряда мала, то незначительна и величина .
На графике (рис. 1, б) приведена зависимость фотопроводимости от длины волны облучения (I – область собственной фотопроводимости; II –область примесной фотопроводимости).