- •Лабораторна робота № 1 «Дослідження поверхні матеріалів методом скануючої тунельної мікроскопії»
- •1. Теоретична частина
- •1.1. Тунелювання електронів через потенційний бар'єр
- •1.2. Методи одержання зображень у стм
- •1.3. Методика виміру локальної роботи виходу в стм
- •1.4. Тунельна спектроскопія
- •1.5. Виготовлення зондів для тунельних мікроскопів
- •2. Практична частина
- •2.1. Опис сзм типу p 4-spm-mdt
- •2.2.Керування роботою стм
- •2.3. Формування та обробка сзм зображень
- •2.4. Вимір вольт-амперних характеристик тунельного контакту
- •2.5. Порядок виконання лабораторної роботи «Дослідження поверхні матеріалів методом скануючої тунельної мікроскопії»
- •Контрольні питання
- •Лабораторна робота № 2 «Дослідження поверхні матеріалів методом скануючої атомно-силової мікроскопії»
- •6. Оформити звіт про лабораторну роботу. Вступ
- •1. Потенціал Леннарда-Джонса
- •2. Зондові датчики атомно-силових мікроскопів
- •3. Контактна атомно-силова мікроскопія
- •4. Коливальні методики асм
- •5. Безконтактний і "напівконтактний" режим коливань кантилевера
- •6. Відновлення поверхні по її сзм зображенню
- •7. Методика експерименту
- •8. Порядок виконання роботи
- •Контрольні питання
8. Порядок виконання роботи
1. Ознайомитися з «Посібником користувача СЗМ P 4-SPM-MDT» і «Інструкцією з порядку проведення зондових вимірів на СЗМ P 4-SPM- MDT».
2. Ознайомитися з методикою перевірки готовності роботи СЗМ у режимі АСМ (юстировка лазера й фотодіода, вибір початкової області сканування, ручне підведення зонда до зразка).
3. Одержати АСМ - зображення мікротопографії графітової (кремнієвої) плівки в режимі з постійною силою взаємодії зонд-подложка.
4. Одержати АСМ – зображення поверхні графітової (кремнієвої) плівки в режимі постійного зазору між датчиком і поверхнею зразка: z=const.
5. Зробити обробку отриманих АСМ зображень із використанням програмних засобів СЗМ P 4-SPM-MDT.
Контрольні питання
Які існують типи скануючих зондових мікроскопів для дослідження поверхні твердих тіл з атомарною роздільною здатністю?
Як визначається потенціал Леннарда-Джонса і яке відношення він має до принципу роботи атомно-силового мікроскопа?
Як улаштована система реєстрації малих вигинів пружної консолі зондового датчика АСМ?
Як улаштовані зондові датчики атомно-силових мікроскопів?
Які існують методи одержання інформації про рельєф і властивості поверхні за допомогою АСМ?
Які недоліки в контактних АСМ методик?
Як здійснюється формування і обробка СЗМ зображень?
Які можливі причини спотворення в СЗМ зображеннях?
Як здійснюється відновлення поверхні по її СЗМ зображенню?
Чи можна за допомогою АСМ робити електричні і магнітні виміри на поверхні?