- •1. Роль средств измерений в науке и в сфере материального производства.
- •2. Линейные измерения. Классификация средств линейных измерений
- •3. Линейные измерения. Современное состояние обеспечения прослеживаемости результатов линейных измерений.
- •4. Меры длины. Концевые меры длины. Измерительные щупы. Плоскопараллель-ные концевые меры длины (пкмд). Нормируемые геометрические параметры, классы точности и разряды пкмд.
- •5. Плоскопараллельные концевые меры длины (пкмд). Наборы пкмд. Правила составления блоков пкмд. Притираемость пкмд. Принадлежности к пкмд.
- •6. Основные требования, предъявляемые к плоскопараллельным концевым мерам длины (пкмд). Материалы, используемые для изготовления пкмд.
- •7. Штриховые меры длины. Брусковые штриховые меры.
- •8. Штангенприборы. Принцип построения нониуса и основные его хар-ки.
- •9. Штангенциркули. Конструкции, типы и основные характеристики нониусных и циферблатных штангенциркулей.
- •10. Электронные штангенциркули с цифровым отсчётным устройством.
- •11. Основные погрешности штангенциркулей, требования, предъявляемые к ним и общие рекомендации по использованию.
- •12. Штангенглубиномеры, штангенрейсмасы и штангензубомеры.
- •13. Микрометрические приборы. Общая характеристика и основные элементы микрометрических приборов.
- •14. Микрометрические приборы. Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования гладких микрометров
- •15. Электронные микрометры с цифровым отсчётным устройством.
- •17. Микрометрические приборы. Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования микрометрических глубиномеров и нутромеров.
- •1 8. Рычажные скобы и микрометры. Индикаторные скобы. Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования таких приборов.
- •20.Однокоординатные измерительные приборы, реализующие фиксированную систему координат (станковые измерительные приборы). Классификация механических станковых измерительных приборов.
- •21.Зубчатые измерительные головки (индикаторы часового типа). Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования таких приборов.
- •22. Рычажно-зубчатые измерительные головки. Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования таких приборов.
- •23. Рычажно-зубчатые головки бокового действия. Рычажно-винтовые индикаторы. Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования таких приборов.
- •24. Рычажно-пружинные измерительные головки. Общая характеристика пружинного механизма таких приборов.
- •25. Рычажно-пружинные измерительные головки. Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования микрокаторов.
- •26. Рычажно-пружинные измерительные головки. Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования микаторов и миникаторов.
- •27. Оптико-механические приборы. Принцип действия оптического рычага и автоколлимационного оптического умножителя и их применение в приборах такого типа.
- •28. Оптико-механические однокоординатные станковые измерительные приборы. Конструкция, основные характеристики и порядок использования оптикаторов.
- •29. Оптико-механические однокоординатные станковые измерительные приборы. Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования вертикальных оптиметров.
- •30. Оптико-механические однокоординатные станковые измерительные приборы. Конструкция, основные характеристики и порядок использования горизонтального компаратора иза-2.
- •31. Оптико-механические двухкоординатные станковые измерительные приборы. Конструкция, основные характеристики и порядок использования микроскопа инструментального бми-1ц.
- •32. Оптико-механические двухкоординатные станковые измерительные приборы. Конструкция, основные характеристики и порядок использования проектора измерительного пи 360цв1.
- •34. Коллиматоры и зрительные трубы. Коллимационный метод измерения отклонений формы номинально плоских поверхностей деталей.
- •35. Измерение отклонений от прямолинейности с помощью зрительной трубы и визирной марки (методом визирования).
- •36. Оптические измерительные приборы. Общая характеристика интерферометров.
- •37. Измерение отклонений от прямолинейности и плоскостности поверхностей интерференционным методом.
- •38. Гидростатические измерительные приборы. Измерение отклонений от плоскостности с использованием гидростатического уровня.
- •39. Гидростатические измерительные приборы. Конструкция, основные характеристики и порядок использования микрометрического уровня.
- •41. Контроль параметров шероховатости поверхностей. Органолептический метод контроля.
- •42. Контроль параметров шероховатости поверхностей. Инструментальный метод контроля с использованием контактных (щуповых) приборов последовательного преобразования профиля.
- •43. Контроль параметров шероховатости поверхностей. Инструментальный метод контроля с использованием интерференционных приборов.
- •44. Контроль параметров шероховатости поверхностей. Инструментальный метод контроля с использованием оптических приборов одновременного преобразования профиля (приборов светового и теневого сечений).
- •45. Методы и средства измерений твёрдости материалов. Измерение твёрдости с использованием метода Бринелля.
- •46. Методы и средства измерений твёрдости материалов. Измерение твёрдости с использованием метода Виккерса.
- •47. Методы и средства измерений твёрдости материалов. Измерение твёрдости с использованием метода Роквелла.
- •48. Проектирование мви вязкости жидкостей. Теоретические основы.
- •49. Проектирование мви вязкости жидкостей. Измерение вязкости с использованием капиллярных вискозиметров.
- •50. Проектирование мви вязкости жидкостей. Измерение вязкости с использованием ротационных вискозиметров.
- •51. Проектирование мви вязкости жидкостей. Измерение вязкости с использованием вибрационных вискозиметров.
- •52. Проектирование мви вязкости жидкостей. Измерение вязкости с использованием вискозиметров с падающим шариком.
- •53. Проектирование мви плотности материалов. Измерение плотности материалов методом гидростатического взвешивания.
- •1) Метод гидростатического взвешивания
- •54. Проектирование мви плотности материалов. Измерение плотности материалов методом жидкостной пикнометрии.
35. Измерение отклонений от прямолинейности с помощью зрительной трубы и визирной марки (методом визирования).
Сущность метода визирования заключается в измерении расстояния от проверяемой поверхности до оптической оси зрительной трубы, принятой за исходную прямую. Измерения производятся с помощью зрительной трубы и визирной марки следующим образом:
зрительную трубу помещают на контролируемую поверхность или рядом с ней на каком-либо массивном основании. Регулируя положение зрительной трубы в вертикальной плоскости устанавливают ее оптическую ось параллельно прямой, проходящей через крайние точки контролируемой поверхности.
При этом визирную марку последовательно устанавливают в крайние точки контролируемой поверхности и добиваются одинаковых отсчетов по шкале зрительной трубы в этих точках. Затем визирную марку помещают последовательно во все проверяемые точки поверхности и производят каждый раз отсчеты по оптическому микрометру зрительной трубы.
Разность отсчетов будет равна отклонениям соответствующих точек проверяемого профиля от прямой, соединяющей крайние его точки. Большим преимуществом визирного метода по сравнению с автоколлимационным является то, что он не требует сложной обработки результатов измерений. Однако недостаток его заключается в необходимости перефокусировки при изменении расстояния между зрительной трубой и маркой. Это изменяет цену деления отсчетного устройства и может привести к смещению исходной прямой, что вносит дополнительные погрешности в результаты измерения. Этот недостаток можно устранить, применяя различные оптические схемы зрительных труб.
Рассмотрим оптическую схему одной из таких зрительных труб.
Объект (визирная марка в виде перекрестия), который может находиться на любом расстоянии от зрительной трубы, проецируется объективом и фокусирующей линзой в плоскость сетки. Оборачивающая система и окуляр при наложении на проверяемую поверхность стеклянной пластины, причем если радиус кривизны полос направлен от ребра клина, то проверяемая поверхность имеет выпуклость, если радиус кривизны направлен к ребру клина – то вогнутость.
36. Оптические измерительные приборы. Общая характеристика интерферометров.
Существует ряд интерференционных приборов, в которых интерференция возникает в результате наложения плоской волны, идущей от коллиматора, на другую ее часть, отраженную от проверяемой поверхности.
Бесконтактные оптические приборы одновременного преобразования профиля позволяют измерять параметры шероховатости , и S.
Оптические приборы основаны на использовании физического явления интерференции света, при котором получаются цветовые полосы равной ширины. Т.е служат для точного измерения показателя преломления газов и других веществ, длинн световых волн.
Интерференционные приборы позволяют измерять параметры неровностей поверхностей, высота которых не превышает приблизительно 1 мкм. Верхний предел измерения определяется в основном глубиной изображения интерферометра, которая зависит от апертуры объектива и увеличения прибора.
Принцип действия приборов светового сечения основан на получении изображения профиля исследуемой поверхности с помощью наклонно направленного к этой поверхности светового пучка.
Двойный микроскоп, который работает по методу светового сечения, представляет собой систему из двух микроскопов - осветительного и наблюдения, оси которых составляют между собой угол 90º. Принцип работы следующий.
Световой пучок проходит через диафрагму с узкой щелью, объектив и в виде узкого светового пучка подает на исследуемую поверхность. Угол наклона падающего светового пучка по отношению к исследуемой поверхности равен 45º. Под действием неровностей световая полоска, образующаяся на исследуемой поверхности, искривляется. Форма световой полоски соответствует форме профиля исследуемой поверхности. Изображение искривленной полоски объективом микроскопа наблюдения проектируется в фокальную плоскость окуляра. Величину шероховатости поверхности определяют визуально (с помощью окулярного микроскопа) или фотоэлектрическим методом (с помощью фотонасадки).
Принцип действия приборов теневого сечения аналогичен принципу действия приборов светового сечения. В приборах теневого сечения рассматривается тень, искривленная неровностями поверхности. Тень создается ножом, прикладываемым к проверяемой поверхности.
Принцип действия растровых измерительных микроскопов основан на явлении образования муаровых полос (Узор, возникающий при наложении двух периодических сетчатых рисунков. Явление обусловлено тем, что повторяющиеся элементы двух рисунков следуют с немного разной частотой и то накладываются друг на друга, то образуют промежутки.) при наложении изображений элементов двух периодических структур (направленных следов обработки и дифракционной решетки). При наличии неровностей муаровые полосы искривляются. Высоту микронеровностей определяют по степени искривления муаровых полос.
Растровые микроскопы предназначены в основном для измерения параметров неровностей на наружных поверхностях с преимущественно направленными следами обработки. Такие микроскопы позволяют также измерять высоту ступенек, глубину штрихов и рисок, толщину пленок.
Для измерения параметров шероховатости труднодоступных внутренних поверхностей, а также поверхностей деталей без снятия их со станка применяют иммерсионно-репликовые интерферометры. На приборах такого типа рассматривают не саму поверхность, а ее отпечаток (реплику).