- •1. Роль средств измерений в науке и в сфере материального производства.
- •2. Линейные измерения. Классификация средств линейных измерений
- •3. Линейные измерения. Современное состояние обеспечения прослеживаемости результатов линейных измерений.
- •4. Меры длины. Концевые меры длины. Измерительные щупы. Плоскопараллель-ные концевые меры длины (пкмд). Нормируемые геометрические параметры, классы точности и разряды пкмд.
- •5. Плоскопараллельные концевые меры длины (пкмд). Наборы пкмд. Правила составления блоков пкмд. Притираемость пкмд. Принадлежности к пкмд.
- •6. Основные требования, предъявляемые к плоскопараллельным концевым мерам длины (пкмд). Материалы, используемые для изготовления пкмд.
- •7. Штриховые меры длины. Брусковые штриховые меры.
- •8. Штангенприборы. Принцип построения нониуса и основные его хар-ки.
- •9. Штангенциркули. Конструкции, типы и основные характеристики нониусных и циферблатных штангенциркулей.
- •10. Электронные штангенциркули с цифровым отсчётным устройством.
- •11. Основные погрешности штангенциркулей, требования, предъявляемые к ним и общие рекомендации по использованию.
- •12. Штангенглубиномеры, штангенрейсмасы и штангензубомеры.
- •13. Микрометрические приборы. Общая характеристика и основные элементы микрометрических приборов.
- •14. Микрометрические приборы. Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования гладких микрометров
- •15. Электронные микрометры с цифровым отсчётным устройством.
- •17. Микрометрические приборы. Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования микрометрических глубиномеров и нутромеров.
- •1 8. Рычажные скобы и микрометры. Индикаторные скобы. Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования таких приборов.
- •20.Однокоординатные измерительные приборы, реализующие фиксированную систему координат (станковые измерительные приборы). Классификация механических станковых измерительных приборов.
- •21.Зубчатые измерительные головки (индикаторы часового типа). Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования таких приборов.
- •22. Рычажно-зубчатые измерительные головки. Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования таких приборов.
- •23. Рычажно-зубчатые головки бокового действия. Рычажно-винтовые индикаторы. Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования таких приборов.
- •24. Рычажно-пружинные измерительные головки. Общая характеристика пружинного механизма таких приборов.
- •25. Рычажно-пружинные измерительные головки. Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования микрокаторов.
- •26. Рычажно-пружинные измерительные головки. Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования микаторов и миникаторов.
- •27. Оптико-механические приборы. Принцип действия оптического рычага и автоколлимационного оптического умножителя и их применение в приборах такого типа.
- •28. Оптико-механические однокоординатные станковые измерительные приборы. Конструкция, основные характеристики и порядок использования оптикаторов.
- •29. Оптико-механические однокоординатные станковые измерительные приборы. Конструкции, типы, основные характеристики и порядок использования вертикальных оптиметров.
- •30. Оптико-механические однокоординатные станковые измерительные приборы. Конструкция, основные характеристики и порядок использования горизонтального компаратора иза-2.
- •31. Оптико-механические двухкоординатные станковые измерительные приборы. Конструкция, основные характеристики и порядок использования микроскопа инструментального бми-1ц.
- •32. Оптико-механические двухкоординатные станковые измерительные приборы. Конструкция, основные характеристики и порядок использования проектора измерительного пи 360цв1.
- •34. Коллиматоры и зрительные трубы. Коллимационный метод измерения отклонений формы номинально плоских поверхностей деталей.
- •35. Измерение отклонений от прямолинейности с помощью зрительной трубы и визирной марки (методом визирования).
- •36. Оптические измерительные приборы. Общая характеристика интерферометров.
- •37. Измерение отклонений от прямолинейности и плоскостности поверхностей интерференционным методом.
- •38. Гидростатические измерительные приборы. Измерение отклонений от плоскостности с использованием гидростатического уровня.
- •39. Гидростатические измерительные приборы. Конструкция, основные характеристики и порядок использования микрометрического уровня.
- •41. Контроль параметров шероховатости поверхностей. Органолептический метод контроля.
- •42. Контроль параметров шероховатости поверхностей. Инструментальный метод контроля с использованием контактных (щуповых) приборов последовательного преобразования профиля.
- •43. Контроль параметров шероховатости поверхностей. Инструментальный метод контроля с использованием интерференционных приборов.
- •44. Контроль параметров шероховатости поверхностей. Инструментальный метод контроля с использованием оптических приборов одновременного преобразования профиля (приборов светового и теневого сечений).
- •45. Методы и средства измерений твёрдости материалов. Измерение твёрдости с использованием метода Бринелля.
- •46. Методы и средства измерений твёрдости материалов. Измерение твёрдости с использованием метода Виккерса.
- •47. Методы и средства измерений твёрдости материалов. Измерение твёрдости с использованием метода Роквелла.
- •48. Проектирование мви вязкости жидкостей. Теоретические основы.
- •49. Проектирование мви вязкости жидкостей. Измерение вязкости с использованием капиллярных вискозиметров.
- •50. Проектирование мви вязкости жидкостей. Измерение вязкости с использованием ротационных вискозиметров.
- •51. Проектирование мви вязкости жидкостей. Измерение вязкости с использованием вибрационных вискозиметров.
- •52. Проектирование мви вязкости жидкостей. Измерение вязкости с использованием вискозиметров с падающим шариком.
- •53. Проектирование мви плотности материалов. Измерение плотности материалов методом гидростатического взвешивания.
- •1) Метод гидростатического взвешивания
- •54. Проектирование мви плотности материалов. Измерение плотности материалов методом жидкостной пикнометрии.
43. Контроль параметров шероховатости поверхностей. Инструментальный метод контроля с использованием интерференционных приборов.
Б есконтактные оптические приборы одновременного преобразования профиля позволяют измерять параметры шероховатости Rz, Rmax, Sm, измерение параметров Ra, tp связано с большой трудоемкостью.
Принцип действия интерференционных приборов для измерения параметров шероховатости поверхности основан на использовании явления интерференции света отражённого от исследуемой поверхности, и зависимости формы образующихся интерференционных полос от параметров неровности исследуемой поверхности.
Действие таких интерферометров основано на следующей принципиальной схеме:
Свет от источника L через конденсор К и диафрагму D делится на полупрозрачной пластине М на два когерентных пучка. Один из пучков падает через микрообъектив О1 на исследуемую поверхность S1, отразившись от которой снова попадает в объектив О1, фиксируется в плоскости В, являющейся фокальной плоскостью окуляра Ок. Второй пучок проходит разделительную пластину М и микрообъектив О2, попадает на зеркало сравнения S2, наклоненное относительно оптической оси на небольшой угол (для объективов увеличения 40х он составляет не более 3°). Объектив О2 проектирует изображение зеркала сравнения S2 и отражается от полупрозрачной пластины М также в плоскости В. В результате сложения этих когерентных пучков света в плоскости В возникают интерференционные полосы, искривленные соответственно профилю исследуемой поверхности. Фрагмент изображения поверхности вместе с интерференционными полосами (участок интерферограммы) можно представить следующим образом:
Изображение поверхности вместе с интерференционными полосами называемые интерферограммы поверхности, рассматриваются в окуляр и графически можно представить:
С помощью аккумуляторного микрометра прибора находят отношение величины а, характеризующей искривление интерференционной полосы, к величине b - ширина интервала полос. На основании чего определяют высоту неровности поверхности:
– длина световой волны источника света используемого прибора (интерферометра)
Измерив ординаты 5 высших и 5 низших точек от средней линии профиля, определяют параметр шероховатости Rz, в тех случаях, когда одновременно необходимо определить шаг неровности, его измеряют с помощью винтового аккумуляторного микрометра прибора.
Интерференционные приборы позволяют измерять параметры неровностей поверхностей высота которых не превышает 1 мкм.
Верхний предел измерения определяется в основном глубиной изображения интерферометра, которая зависит от апертуры и увеличения объектива прибора.
44. Контроль параметров шероховатости поверхностей. Инструментальный метод контроля с использованием оптических приборов одновременного преобразования профиля (приборов светового и теневого сечений).
Принцип действия приборов светового сечения основан на получении изображения профиля исследуемой поверхности с помощью наклонно направленного к этой поверхности светового пучка.
Принципиальная оптическая схема двойного микроскопа, который работает по методу светового сечения выглядит:
1-диафрагма
2-обьектив
3-контролир. поверхность
4-обьектив
5-окуляр
6-осветитель
а) оптическая схема микроскопа
б) поле зрения окулярного микрометра
Прибор представляет собой систему из двух микроскопов осветительного (проектирующего) и наблюдения, оси которых составляют между собой угол
Принцип работы. Световой пучок от источника света 6 проходит через диафрагму с узкой щелью 1, объектив 2 и в виде узкого светового пучка попадает на поверхность 3. Под действием неровностей контролируемой поверхности, определяющих её микрорельеф, такая узкая световая полоска соответствующим образом искривляется и изображение искривленной полоски объективом 4 микроскопа наблюдения проектируется в фокальную плоскость окуляра 5. Величину шероховатости поверхности оценивают с помощью оптического окулярного микроскопа.
Приборы такого типа имеют небольшое поле зрения и не в состоянии охватить требуемую базовую длину, определяемую по стандарту, поэтому с их помощью шероховатость оценивают на участках меньших, чем базовая длина, что является основным недостатком приборов такого типа. Этот недостаток частично устраняется за счёт использования сменных объективов с различным увеличением.
Принцип действия теневого сечения аналогичен принципу действия приборов светового сечения, но в приборах теневого сечения рассматривается тень, искривленная неровностями поверхности. Тень создаётся измерительным ножом, прикладываемым к измеряемой поверхности.