- •Электронная оже-спектроскопия
- •Физические основы метода
- •2.1. Спектры Оже-электронов
- •2.2. Вероятность Оже-перехода
- •2.3. Глубина выхода
- •2.4. Химические сдвиги
- •2.5. Тонкая структура Оже-спектров
- •1.1.7 Качественный анализ методом электронной Оже-спектроскопии
- •2.6. Количественный анализ методом электронной Оже-спектроскопии
- •2.6.1. Метод внешних эталонов
- •2.6.2. Метод коэффициентов элементной чувствительности
- •2.6.3. Метод учета коэффициентов выхода
- •2.7. Послойный анализ методом электронной Оже-спектроскопии
- •3. Описание установки
- •2.2 Обоснование необходимости наличия сверх высокого вакуума
- •2.3 Турбомолекулярный насос
- •2.4 Ионно-адсорбционный насос
- •2.5 Электронная пушка
- •2.6 Энергоанализатор
- •2.7 Требования к энергетическому разрешению
- •2.8 Ионная пушка
- •4. Указания по технике безопасности
- •5. Порядок выполнения работы
- •6. Обработка результатов эксперимента
- •7. Контрольные вопросы
- •Литература
6. Обработка результатов эксперимента
1. Обработать полученные спектры на ЭВМ с помощью стандартных программ: сглаживание, дифференцирование.
2. Вывести обработанные спектры на печатающее устройство.
3. Провести расшифровку полученных оже-спектров с учетом возможной зарядки образца.
4. Рассчитать количественный состав образца. Полученные данные представить в виде таблицы.
Элемент |
|
|
С, %(ат.) |
|
|
5. Построить профиль распределения элементов ( указанных преподавателем по глубине образца С = f(х), где х толщина распыленного слоя, нм. х определить по номограмме (из справочника), учитывая плотность тока первичных ионов j, мА/см2 и коэффициент распыления S.
7. Контрольные вопросы
1. Принцип работы энергоанализатора?
2. Чем определяется разрешающая способность спектрометра?
3. Какова толщина анализируемого слоя методом oже-спектроскопии?
4. От чего зависит интенсивность линий оже-спектра?
5. Методы определения количественного состава с помощью ЭОС?
6. Глубина выхода оже-электронов.
7. Механизм оже-процесса.
8. Вероятность оже-эффекта.
9. Энергетическое разрешение в ЭОС.
Литература
1. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии/ Под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха –М.: Мир, 1987.
2. Фелдман Л., Майер Д., Основы анализа поверхности и тонких пленок. –М.: Мир, 1989.