METODAAA_33__33__33_0001

поляризованным пучком. Далее, пройдя через апертурную диафрагму 6, поляри­ зованные лучи падают на один из трех сменных конденсоров 7 (в зависимости от апертуры установленного объектива) и освещают исследуемый объект. От объек­ та лучи направляются в объектив 8, затем - в анализатор 9 и монохроматический светофильтр 10 и дальше идут либо непосредственно в окуляр 11 (при ортоскопическом наблюдении), либо в тот же окуляр 11, но через линзу Бертрана 12 (при коноскопическом наблюдении). Откидная линза 13 включается в ход лучей при коноскопическом наблюдении и при работе с объективами 20x0,40; 40x0,65; 60x0,85.

2 16 3

Рис. 1.42. Оптическая схема микроскопа МИН-8

Между объективом и анализатором в ход лучей может быть введен компенса­ ционный кварцевый клин, компенсационная кварцевая пластинка 14 первого по-

63

рядка (красная), компенсационная слюдяная пластинка (1/4Х) или кальцитовый поворотный компенсатор КПК-2.

При работе с объективами 9x0,20 и выше диафрагма 6 конденсора служит в качестве апертурной диафрагмы, поэтому диафрагма 15 в этом случае должна быть полностью открыта.

При работе с объективом 3,5x0,10 в качестве апертурной диафрагмы служит диафрагма 15, поэтому диафрагма 6 в этом случае должна быть полностью от­ крыта. Полевая диафрагма 16 расположена вблизи фонаря. Диафрагма 17 служит для ограничения зерна минерала при коноскопическом исследовании; при ортоскопическом исследовании эта диафрагма должна быть полностью открыта. С помощью призмы 18 изменяется направление оптической оси микроскопа для удобства наблюдения.

Конструкция микроскопа

Микроскоп состоит из основания 19 (рис. 1.43), фонаря 40, тубусодержателя 37, тубуса 34, наклонной насадки 33 и предметного столика 22.

1

49

48

47

46

45

44

45

Рис. 1.43. Внешний вид микроскопа

64

Тубусодержатель 37 жестко укреплен на выступе основания 19. В кожухе фо­ наря 40 расположен патрон с лампой, светящаяся нить которой центрируется двумя винтами 41. Лампа фонаря питается от сети переменного тока через пони­ жающий трансформатор 42, который выпускается включенным на 220 В.

При необходимости переключения трансформатора на 127 В следует передви­ нуть рычаг через окно в дне трансформатора на цифру «127». В трансформатор вмонтирован реостат для изменения накала лампы, ручка 43 реостата выведена наружу. С помощью рукоятки 39 производится изменение светового отверстия полевой диафрагмы 16 (см. рис. 1.42).

Фонарь укреплен в патрубке основания и может быть с патрубка снят при от­ вернутом винте 41 (см. рис. 1.43). Рукоятка 46 служит для включения в освети­ тельную систему дополнительной линзы 3 (см. рис. 1.42).

С помощью барашков 38 (см. рис. 1.43) осуществляется грубая подача столи­ ка, с помощью барабанчиков 45 - микрометрическая фокусировка на объект.

Дифференциальный микрометрический механизм имеет два барабанчика для подачи столика. При одновременном вращении обоих барабанчиков скорость пе­ ремещения стола увеличивается в два раза. Поворот правого или левого барабан­ чика на одно деление соответствует перемещению столика на 0,002 мм.

Крышка 48 люка открывается в тех случаях, когда для исследований в отра­ женном свете на столик устанавливаются сравнительно крупные непрозрачные объекты (высотой до 25 мм), а также при применении осветителя ОИ-12. Тубус 34 микроскопа укреплен неподвижно на верхней части тубусодержателя 37.

В нижней части тубуса выполнена прорезь, которая закрывается кольцевой за­ слонкой 24. Прорезь расположена под углом 45° к плоскости симметрии микро­ скопа и служит для введения кварцевого клина, одной из компенсационных пла­ стинок 23 или поворотного компенсатора КПК-2. Нижний торец тубуса заканчи­ вается направляющей типа «ласточкин хвост», предназначенной для установки салазок осветителя ОИ-12 и салазок с щипцовым устройством, в котором крепит­ ся держатель с объективом.

Центрировка объективов осуществляется винтами центрирующих оправ с по­ мощью двух ключей.

Над прорезью для компенсаторов имеется паз типа «ласточкин хвост», в кото­ рый вставлены салазки 35 с анализатором, снабженным устройством для поворота на 90°. На салазках анализатора укреплен сегмент круговой шкалы на 90° с деле­ ниями через 5°. Разворот анализатора производится рукояткой 36, на которой на­ несен отсчетный индекс. Установкой индекса на деление «0» по шкале анализато­ ра и на деление «90» или «270» по шкале поляризатора достигается скрещивание поляризационных устройств.

Над салазками анализатора установлен поворотный диск 25 с тремя монохро­ матическими фильтрами и одним свободным отверстием. Монохроматические фильтры вводятся в ход лучей для пропускания света с длиной волны 486, 589 и 620 нм.

На верхнем торце тубуса выполнено гнездо для установки и крепления на­ клонной насадки 33, которая закрепляется только после совмещения рисок, на-

65

несенных на нижнем фланце насадки и на тубусе 34. Насадка 33 содержит в себе преломляющую призму 18 (см. рис. 1.42), линзу Бертрана 12 и ирисовую диа­ фрагму 17. Линза Бертрана центрируется двумя барашками 32 (см. рис. 1.43) и 31; действующее отверстие диафрагмы 17 (см. рис. 1.42) изменяется вращением накатанного кольца 29 (см. рис. 1.43). Включение и выключение линзы Бертрана осуществляется поворотом барашка 30.

Перемещение окуляра для получения резкого изображения коноскопической картины производится вращением накатанного кольца 28.

На подвижной окулярной трубке 26 насадки нанесена круговая риска, при со­ вмещении которой с верхним срезом неподвижной втулки 27 устанавливается длина тубуса микроскопа 160 мм.

В окулярной трубке 26 имеются два паза, благодаря которым перекрестие окуляра может быть установлено или симметрично по отношению к микроскопу, или под углом 45°. На наружный диаметр окулярной трубки можно устанавли­ вать окулярный винтовой микрометр.

Круглый предметный столик 22 укреплен на кронштейне, который при враще­ нии барашков 38 передвигается по направляющей нижней части тубусодержателя. На вращающейся рабочей части столика имеется лимб на 360 делений. На не­ подвижной части столика закреплены два нониуса с величиной отсчета 6'. Столик фиксируется в любом положении тормозной рукояткой 21.

На столике имеются семь отверстий: два - для установки нормальных пру­ жинных клемм, два - для установки столика Федорова и три - для установки препаратоводителя СТ-11.

В осветительную систему микроскопа входят сменные конденсоры 7 и поля­ ризатор 5 (см. рис. 1.42), поворачивающийся на 360°. Между конденсором 7 и по­ ляризатором 5 помещена апертурная ирисовая диафрагма 6, отверстие которой регулируется рукояткой. Эта диафрагма используется при ортоскопическом на­ блюдении с объективами 9x0,20 и выше.

Под поляризатором помещена вторая ирисовая диафрагма 15, отверстие кото­ рой регулируется вращением нижней накатанной части оправы. При работе с объективом 3,5x0,10 диафрагма 15 служит апертурной диафрагмой. Поляризатор вместе с ирисовой диафрагмой 15 вынимается из корпуса легким нажимом вниз. Слегка отвернув винт 49 (см. рис. 1.42) и опустив конденсор по направляющей с помощью барашка 47, кронштейн с конденсором можно легко снять с направ­ ляющей путем разворота кронштейна по часовой стрелке.

На место снятого можно поставить дополнительный кронштейн, предназна­ ченный для установки в него устройства КФ-4 или конденсора ОН-13 темного поля. Крепление дополнительного кронштейна с установленной в нем принад­ лежностью осуществляется зажимным винтом.

Накладные светофильтры (синий и матовый) и поляроид устанавливаются в расточку того же фланца 20.

С помощью препаратоводителя производится перемещение препарата в двух взаимно-перпендикулярных направлениях. Препаратоводитель фиксируется на плоскости предметного столика двумя штифтами и закрепляется прижимным

66

винтом. Перемещение препарата в продольном и поперечном направлениях осу­ ществляется с помощью барашков препаратоводителя. Отсчет перемещения про­ изводится по шкалам и нониусам препаратоводителя. Величина отсчета по но­ ниусам препаратоводителя 0,1 мм.

Работа в проходящем свете

Исследуемый объект устанавливают на предметный столик 22 (см. рис. 1.43) и прижимают его клеммами.

Если при исследовании объектов необходимо плавное их перемещение, реко­ мендуется пользоваться препаратоводителем, который для этого устанавливают на столик микроскопа.

Исследование всякого объекта нужно начинать с наиболее слабым объекти­ вом, что позволит увидеть большую часть объекта при том же окуляре и выбрать интересующий участок для более подробного исследования.

При работе с сильными объективами следует с помощью барашков 38 поднять столик почти до соприкосновения объектива с объектом, после чего, наблюдая в окуляр микроскопа и вращая барабанчики 45, опустить столик до появления изо­ бражения объекта.

Постоянно нужно следить за центрировкой объективов. Объективы должны быть отцентрированы так, чтобы при вращении столика микроскопа изображение исследуемого зерна оставалось точно в центре поля зрения.

Для исследования объектов в поляризованном свете нужно ввести в ход лучей анализатор.

При исследовании в поляризованном свете минералов применяют кварцевую компенсационную пластинку 23 первого порядка, кварцевый клин или слюдяную пластинку 1/4Х.

Для повышения контрастности изображения в ход лучей могут быть введены накладные светофильтры, устанавливаемые в расточку фланца 20.

При проведении работ в монохроматическом свете следует включить в ход лучей один из светофильтров, установленных в поворотном диске 25.

Исследование минералов в коноскопическом ходе лучей нужно производить с объективом 60x0,85.

Для коноскопического наблюдения необходимо вращением барашка 30 ввести в ход лучей линзу Бертрана. Фокусировку на резкость коноскопической картины производят подвижкой окуляра при вращении накатанного кольца 28, после чего вращением накатанного кольца 29 закрывают диафрагму линзы Бертрана до ми­ нимального отверстия. Затем включают анализатор и, вращая столик микроскопа, осторожно открывают диафрагму линзы Бертрана так, чтобы отчетливо была видна коноскопическая картина.

Работа в отраженном свете

Для работы в отраженном свете на микроскоп должен быть установлен осве­ титель ОИ-12. Для установки осветителя необходимо снять салазки со щипцовым

67

устройством и на их место установить салазки с осветителем; при этом освети­ тель следует развернуть в плоскость симметрии микроскопа и закрепить винтом.

При работе в отраженном свете окулярная насадка 33 должна быть развернута на 180°, и риски на насадке и тубусе совмещены.

Исследователь должен находиться со стороны фонаря 40.

Определение цены деления окулярной шкалы

Цена деления окулярной шкалы определяется для каждого объектива в от­ дельности. Перед определением этой величины следует вставить в насадку 33 окуляр 5х со шкалой и совместить круговую риску на окулярной трубке 26 с верх­ ним срезом неподвижной втулки 27 для установки длины тубуса 160 мм. Затем нужно установить объект-микрометр на столик микроскопа, сфокусировать тубус и повернуть объект-микрометр так, чтобы его штрихи расположились параллель­ но штрихам шкалы окуляра. Один из штрихов объект-микрометра совместить с одним из штрихов окулярной шкалы и определить, сколько делений объектмикрометра укладывается в каком-либо выбранном количестве делений шкалы окуляра.

Цену делений окулярной шкалы вычисляют по формуле на с. 26.

Измерение показателей преломления прозрачных минералов методом кольцевого экранирования в белом свете

Метод кольцевого экранирования - это вариант иммерсионного метода опре­ деления показателей преломления прозрачных минералов. При исследовании этим методом вещество в виде порошка помещают в иммерсионную жидкость с известным показателем преломления. Установив объектив 9x0,20 в щипцовое устройство, вещество рассматривают последовательно в ряде жидкостей и подби­ рают жидкость с показателем преломления, равным показателю преломления ис­ следуемого вещества. В случае равенства показателей преломления наблюдается цветная каемка (дисперсный эффект) по краю зерен минерала. Цвет каемки опре­ деляет область спектра, в которой совпадают показатели преломления.

Для работы методом кольцевого экранирования следует вывести конденсор из хода лучей, направить изображение источника света в зрачок выхода объектива, прикрыть рукояткой 39 ирисовую диафрагму фонаря почти до предела и сфоку­ сировать микроскоп на объект. После этого необходимо прикрыть диафрагму объектива 9x0,20 так, чтобы окраска цветных каемок вокруг зерен была хорошо видна.

На этом заканчивается настройка освещения для работы методом кольцевого экранирования. Точность измерения показателей преломления этим методом - 0,002. Метод кольцевого экранирования может быть применен для определения осности кристаллов.

68

1.1.8.Микроскоп Amplival

Микроскоп Amplival предназначен для исследования прозрачных объектов в проходящем свете. Микроскоп может применяться для исследований в области минералогии, петрографии, биологии, химии и других областях.

Микроскоп нормально работает в помещении с температурой от +10 до +40 °С и относительной влажностью не более 80%.

Технические данные

Увеличение микроскопа:

при визуальном наблюдении - 45... 1350; Диапазон перемещения столика, мм:

впродольном направлении - 0...60,

впоперечном направлении - 70... 150.

Цена деления механизма микрометрической фокусировки - 0,002 мм. Источники света - лампа накаливания (20 Вт).

Питание лампы от сети переменного тока 127/220 В через понижающий трансформатор.

Оптическая схема

Лучи от источника света направляются через коллектор 1 (рис. 1.44) и линзу 2 в полевую диафрагму 3. С помощью линз 2 и 4 и зеркала 5 в апертурной диафраг­ ме 6 панкратического конденсора 7 образуется изображение источника света.

1 1

3

Рис. 1.44. Оптическая схема микроскопа Amplival

С помощью панкратического конденсора согласуется эффективная численная апертура осветителя с численной апертурой применяемого объектива и регулиру-

69

ется одновременно величина изображения полевой диафрагмы в плоскости объек­ тива 8. Этим обеспечивается рациональное использование светового потока.

Панкратический конденсор состоит из апланатического конденсора численной апертуры 1,4; большого полевого конденсора fl5 и кордиоидного конденсора для темнопольного освещения. Кольцо панкратической системы для регулирования численной апертуры осветителя должно быть установлено на апертуру апланати­ ческого конденсора.

Замену конденсоров позволяет производить револьверная головка. Центрирование изображения полевой диафрагмы в плоскости объекта осуще­

ствляется с помощью зеркала 5. Применяемые в микроскопе объективы 9 планахроматы откоррегированы на «длина тубуса - бесконечно» и для получения изо­ бражения в окуляре применяется тубусная линза 10. Наблюдения объекта ведется с помощью окуляра 12,5х (13).

На рис. 1.44 изображены: I - коллектор;

2, 4 - линзы; 3 - полевая диафрагма;

5, 11 - отклоняющие зеркала; 6 - апертурная диафрагма; 7 - панкратический конденсор; 8 - плоскость объекта; 9 - объектив; 10 - тубусная линза;

12 - система промежуточных изображений;

13 - окуляр.

Конструкция микроскопа

Внешний вид микроскопа Amplival представлен на рис. 1.45.

Микроскоп состоит из основания, источника света, тубусодержателя, тубуса с окуляром, револьверной головки с объективами, панкратического конденсора и предметного столика.

Тубусодержатель 8 жестко укреплен на основании 1, в котором расположен патрон с лампой. Лампа через понижающий трансформатор 13 питается от сети переменного тока напряжением 220 В. При необходимости трансформатор можно переключить на напряжение 127 В.

Фокусировка объекта осуществляется с помощью барашков: 10 - грубая подача столика;

II - микрометрическая фокусировка.

Предметный столик 6 закреплен на кронштейне и перемещается с помощью вертикальной тяги 12 в двух взаимно перпендикулярных направлениях:

-вправо - влево (70... 150 мм);

-вперед - назад (0... 60 мм).

70

J

i :

1 2

Рис. 1.45. Внешний вид микроскопа Amplival

В столике имеется отверстие для пружинной клеммы для закрепления пред­ метного стекла с анализируемым объектом.

Окуляр 9 имеет собственное увеличение 12,5. Общее увеличение анализируе­ мого объекта соответствует произведению увеличения применяемого объектива и увеличения окуляра.

Смена объектива производится поворотом револьверной головки 7, получае­ мое при этом увеличение можно определить по табл. 1.4.

					Таблица 1.4
	Таблица увеличений микроскопа Amplival
Объективы		Числовая апертура	Окуляр		Увеличение
Semiplan F=3,2		A=0,17	12,5х		45
Planachromat F=10,0		A=0,20	12,5х		125
Planachromat F=40,0		A=0,65	12,5х		500
Planachromat F=l 10,0		A=l,25	12,5х		1350
		Работа методом	светлого поля

Предметное стекло с анализируемым объектом поместить на предметный сто­ лик; с помощью вертикальных тяг отцентрировать положение объекта относи­ тельно светового луча.

71

Панкратический конденсор 5 (см. рис. 1.45) опустить в предельное нижнее по­ ложение, включить апланатический конденсор 1,4 и переставить в предельное верхнее положение.

Револьверную головку с объективами повернуть для включения нужного объ­ ектива.

Установочное кольцо 4 панкратического конденсора установить на численную апертуру объектива.

С помощью механизмов для грубого и точного движения установить предмет­ ный столик так, чтобы получилось резкое изображение объекта.

Апертурную диафрагму 2 открывают настолько, чтобы получилась требуемая контрастность изображения. Оптимальная установка апертурной диафрагмы на­ ходится в пределах от 2/3 до 1/2. Центрирование диафрагмы производится с по­ мощью винтов 3.

Полевая диафрагма 14 закрывается настолько, чтобы не получилось снижения яркости или цветных пятен по краям поля зрения.

Работа методом темного поля

Объект устанавливается для наблюдения в светлом поле с помощью объектива 10х.

Для наблюдения объекта по методу темного поля апертурную и полевую диа­ фрагмы открыть полностью. Конденсор опустить в крайнее нижнее положение, поворотом револьверной головки включить кардиоидный конденсор для темнопольного освещения и застопорить его в рабочем положении.

По окончании работы микроскоп отключить от сети электрического тока, уб­ рать предметное стекло и накрыть микроскоп чехлом.

При работе с микроскопом следует строго выполнять все требования инструк­ ции.

1.1.9.Рентгеновский аппарат ДРОН-0,5

Дифрактометр рентгеновский общего назначения с генератором рентгеновско­ го излучения мощностью 0,5 кВт (рентгеновский аппарат ДРОН-0,5 ГОСТ 1553470) предназначен для проведения рентгеноструктурных исследований различных материалов в лабораториях научно-исследовательских институтов и промышлен­ ных предприятий.

Техническое описание

Рентгеновский аппарат (рис. 1.46) обеспечивает возможность проведения сле­ дующих рентгеноструктурных исследований:

а) общий рентгеноструктурный анализ; б) определение углов среза монокристаллических пластин;

в) исследование преимущественных ориентировок кристаллитов; г) исследование монокристаллов;

72